レスカ／スクラッチ試験機／CSR-1000 管理番号
硬質膜やメッキ膜等の密着強度や特性を荷重を加えながら表面を引っ掻いて測定する装置。荷重範囲 ： Z軸 30kgf Y軸30kgf測定方法：スクラッチ（連続的に荷重を増加させながら測定） 定荷重（定荷重をかけながら測定）荷重分解能 ： 0.1% FS圧子 ： ダイヤモンドコーン移動範囲 ：XY軸 50mm `8…
入荷しました
WEST BOND／ウェッジワイヤーボンダー／Model7476D 管理番号04418
ボンディング方式：US・TC又はサーモソニック方式操作方法：X-Y-Z 3軸マニピュレータ荷重：約10g～100gボンディングツール長：約19mmボンディングツール径：約φ1.58mm対応ワイヤー：φ18μm～φ50μmまでの金線、アルミ線ラジアントヒーター機構：ボンディングツール加熱方式ワイヤーテールコントロール：1ステップ単位で設定可能スイッチボンディング：20ループまで連続ボンデ…
入荷しました
WEST BOND／ウェッジワイヤーボンダー／Model7476D 管理番号04367
ボンディング方式：US・TC又はサーモソニック方式操作方法：X-Y-Z 3軸マニピュレータ荷重：約10g～100gボンディングツール長：約19mmボンディングツール径：約φ1.58mm対応ワイヤー：φ18μm～φ50μmまでの金線、アルミ線ラジアントヒーター機構：ボンディングツール加熱方式ワイヤーテールコントロール：1ステップ単位で設定可能スイッチボンディング：20ループまで連続ボンデ…
入荷しました
ヤマト科学／プラズマクリーナー／V1000X 管理番号04152
商品構成：本体、真空ポンプ、冷却水循環装置 プラズマモード：DP／RIE 高周波電源：13.56MHz 電極：2段電極 有効ステージ寸法：W300×D300（mm） 反応ガス：2系統 安全装置：ドアスイッチ、側板インターロック、非常停止スイッチ 電源：AC200V φ3 50/60Hz 30…
入荷しました
ナプソン／抵抗率測定機／CRESBOX 管理番号04362
2010年式試料サイズ：φ2～φ8インチ、または ～156mm角測定範囲：1mΩ・cm ～ 300kΩ・cm（抵抗率） 5mΩ/sq ～ 10MΩ/sq（シート抵抗）測定プローブ：精密高精度4探針プローブ（JANDEL社製）電源：AC100V 50/60Hz付属品：制御用PC、吸着用真空ポンプ（アルバック製）、針圧加重用おもり（50,100,200,300g） `…
入荷しました
アズワン／真空グローブボックス／SGV-65V 管理番号04288
2008年式 【仕様】 ・本体素材：ステンレス（SUS304）、窓部：ガラス（10mm厚） ・耐真空度：本体約13.3Pa（0.1Torr）、サイドボックス約13.3Pa（0.1Torr） ・窓枠寸法：670(W)×420(D)mm ・カフ径：155mmΦ ・コンセント：100V 15A 2個 ・照明：蛍光灯20W`14…
入荷しました
駿河精機／マイクロマニピュレーターシステム／UGO224 管理番号03908
2007年式 商品構成： ①マニピュレータ部（前後15mm、左右15mm、上下30mm、分解能0.1μm/パルス） ②XYステージ部（前後100mm、左右100mm、分解能0.1μm/パルス） ③モータコントローラ 型式M331（左右マニピュレータ、XYステージ用） ④電動ズームレンズ（ユニオン光学製 DZ3） ⑤手元ターミナル ⑥CCDカメラ ⑦パソコン …
入荷しました
リオン／気中パーティクルカウンター／KR-11A 管理番号04140
￥２４０，０００．－（送料／消費税別途） 2007年式 光学系方式：側方散乱方式 光 源：レーザーダイオード：（波長790nm） 受光素子：フォトダイオード 定格試料流量：2.83L/min 粒径区分：0.3、0.5μm以上 最大定格粒子個数濃度：70000個／L（計数損質5%以内） …
入荷しました
レスカ／動的漏れ性試験機／WET-6000 管理番号03979
感度切替：S（ショート）、50、20、10、5、2（mN FS）浸せき時間：0～99sec浸せき深さ：0～9.9mm浸せき速度：0.1～25mm/sec（11段切替）センサー：高感度精密電子天秤加熱炉：φ60×H60mm 容量MAX 1.4kg（はんだ使用時）加熱炉コントロール：常温～400℃（K熱電対測定）本体寸法：W350×D500×H420mm本体重量：約35kg電源：AC100V 50/6…
入荷しました
武蔵エンジニアリング／画像認識付卓上塗布ロボット／FAD320s 管理番号04154
位置決めされたワークをCCDカメラにてアライメント補正し、プログラムされた任意の位置に塗布を行う装置 画像処理ユニット処理方法：アライメントマークを認識して、XYを補正カメラ：CCDカメラ操作：タッチパネル方式 卓上型ロボット型式：SHOTMASTERM300可動範囲：300（X軸）×300（y軸）×80（z軸）mm繰返し位置決め精度：±0.005mm以下 `7…
入荷しました
ウシオ電機／全面露光装置／FX-500BN01 管理番号04146
2007年式適合ウェハ：6インチウェハ対応紫外線光源：500W超高圧水銀UVランプ（USH-500BY1）主波長：365,405,436nm有効照射面積：φ200mm露光制御：2～999.9秒（レシピ設定）ウェハ搬送方式：自動搬送（ロボット搬送）電源：AC200V 50/60Hz 30A寸法/重量：W800×D1637×H2033（mm） / 約400kg …
入荷しました
西進商事／ボンドテスター／SS-30WD 管理番号03997
〇2002年式 〇主な仕様 ・試験項目 ： シェアテスト（Max：3kgタイプ／15kgタイプ） ・測定ストローク ： X軸100mm Z軸100mm ・ストローク設定単位 ： 1μm ・測定スピード ： 0.006～1mm／sec ・付属品 ： 実体顕微鏡（ニコンSMZ645） …
入荷しました
武蔵エンジニアリング／画像認識付卓上型塗布ロボット／FAD300 管理番号03978
位置決めされたワークをCCDカメラにてアライメント補正し、プログラムされた任意の位置に塗布を行う装置 画像処理ユニット アライメントマークを認識して、XYを補正カメラ：CCDカメラ操作：タッチパネル方式 卓上型ロボット型式：SHOTMASTER 300可動範囲：300（X軸）×300（Y軸）×80（Z軸）mm ディスペンサー型式：ML-808FX…
入荷しました
JUKI／小型汎用マウンタ／KJ-02 管理番号03630
レーザー光と画像認識による非接触センタリングでチップや部品（QFPやBGA等のIC部品）の高精度搭載が可能 基板サイズ：x203.2×y152.4×t2mm（MAX） 大正部品サイズ：x20×y20×t12mm（MAX）搭載カメラ仕様：24mm青色照明カメラ基板位置決め方式：ピン／外形基準バンク仕様：固定バンク（手前、奥） 電源：AC200V単…
入荷しました
CHINO／放射温度計／IR-AHTO 管理番号03819
￥130,000（送料／消費税別途） 2006年式 【仕様】 ・測定温度範囲：－50～1000℃ ・精度定格：200℃未満±2℃、±1digit 200℃以上測定値の±1%±1digit ・分解能：1℃（50℃以上） ・応答時間：1秒 ・測定波長：8～13μm ・…
入荷しました
長野計器／プログラマブル圧力コントローラ／PC20 管理番号03825
￥80,000.－（送料／消費税別途） 2006年式 【仕様】 ・レンジ：-0.1～0.5MPa ・発生精度：±0.1%FS＋1digit、気体用 ・圧力接続口：Rc1／4、RS232C ・外寸：W212×H132×D350㎜（突起物含まず） ・質量：約8kg ・電源電圧：AC10…
販売済
長野計器／プログラマブル圧力コントローラ／PC20 管理番号03824
￥80,000.－（送料／消費税別途） 2006年式 【仕様】 ・レンジ：0～1MPa ・発生精度：±0.1%FS＋1digit、気体用 ・圧力接続口：Rc1／4、RS232C、GPIB ・外寸：W212×H132×D350㎜（突起物含まず） ・質量：約8kg ・電源電圧：AC10…
販売済
国際電気アルファ／抵抗率測定器／VR-120A 管理番号03811
シリコンウェハの抵抗率、シート抵抗、金属膜厚等の測定に使用する高性能測定器 測定方法：直流4探針法 測定範囲 V-Iレシオ：1mΩ ～ 20MΩ 抵抗率（バルク）：1mΩ・cm ～ 10MΩ・cm 抵抗率（スライス又はレイヤー）：0.9μΩ・cm(t=0.1μm) ～ 10MΩ・cm(t=1.5mm) シート抵抗：4mΩ/sq ～ 90MΩ/sq 金属膜圧：…
入荷しました
SUNX／FAYb レーザーマーカー／LP-V10 管理番号03805
商品構成 ヘッド ： LP-V10H コントローラ ： LP-V10 コンソール ： LP-ADP20 印字レーザー ファイバーレーザー ： クラス4レーザー製品 波長 ： λ=1.06μm 出力 ： 12W（平均）、15W（最大） ワーク間距離 ： 190mm（±2mm） 文字設定寸法 ： 0.2～90mm（0.001mm間隔設定可） 文字間隔…
入荷しました
三栄技研／チラー／TCW-4000CP／管理番号93487
水冷式チラー（純水仕様）冷却能力 ： 4.9 kW循環水流量/圧力 ： 10 ℓ/min / 0.4 MPa水槽 ： 20 ℓ電源 ： AC200V 3φ 60Hz 4kVA外寸 ： W550×D700×H1300（mm）重量 ： 約210 kg 【機器ステータス】 取扱説明書有 水冷式となっておりますので、別途冷却水が必要となります。 `10…
入荷しました
松永技研／ウェハ剥離装置／ 管理番号03716
【装置概要】 ワックスにより張り合わせ、固めた状態のウェハとガラスを上下の加熱されたチャックで挟み込み溶融させ、上下から真空吸着させて剥離させる装置となります。 2007年式 ウェハサイズ：6インチ 剥離作業：シーケンサによる自動制御（マニュアル切り替え可能） ヒーター：スペースヒーター 加熱温度：120℃～2…
入荷しました
リオン／気中パーティクルカウンタ／KC-21A 管理番号03670
￥３００,０００．－（送料／消費税別途） 光学系：光軸交角90度側方散乱方式定格流量：3ℓ/min 粒径区分：0.1、0.15、0.2、0.3、0.5μm以上の5段階 最大定格粒子濃度：30000個/ℓ（計数損失5%以下） 電源：AC100V±10% 約120VA `19…
入荷しました
島津製作所／蛍光X線分析装置／EDX-700 管理番号03511
試料を構成する元素の種類や含有量を調べることができるエネルギー分散型蛍光X線装置 2000年製 資料室：最大φ300mm×高さ150mm 外形寸法（本体）：W580×D650×H420mm 電源：AC100V 50/60Hz 【機器ステータス】エドワーズ製ロータ…
入荷しました
アピックヤマダ／TF装置／STF-3000 管理番号83338
パッケージされたICの後処理用に設計、制作された装置 対象フレーム：32mm,51mm（幅）、203mm,230mm（長さ） 対象フレームマガジン：C型クローズタイプ積層マガジン 36.2mm,55.2mm（マガジン幅） 208mm,235mm（マガジン長さ） 350mm（マガジン高さ…
入荷しました
リオン／気中パーティクルカウンタ／KC-20A 管理番号03615
2006年式 光学系方式：光軸交角70度側方散乱方式 光源：半導体レーザー 受光素子：PINフォトダイオード 定格流量：30L/min 粒径区分：5段階（10,20,30,50,100µm以上） 最大定格粒子個数濃度：2000個／L（計数損失5%以内） 使用温湿度範囲：0～35℃ 20～85…
入荷しました
アピックヤマダ／モールド装置／MW-372 管理番号83337
対象リードフレーム： リードフレーム幅：20～75mm リードフレーム長さ：150～250mm リードフレーム厚さ：0.1～0.6mm サイドレール幅：2.5mm以上 ミニタブレット仕様： タブレット径：φ13,φ14,φ16,mm タブレット長さ：径＋0.5mm～径×1.7mm（MAX 35mm） 取り個数：1フレーム/ショット マシンタイム：約2…
入荷しました
リオン／液中パーティクルカウンタ／KL-20A 管理番号03582
【光散乱式自動粒子計数器 KL-20A】 測定原理：側方散乱方式 光 源： 半導体レーザー 受光素子： PINタイプフォトダイオード 接液部材質： 合成石英、PFA 粒径区分： 5段階（0.2 , 0.3 , 0.5 , 1.0 , 2.0μm以上） 定格流量： 10mL/min 最大定格…
入荷しました
日本電子／クロスセクションポリッシャー／SM-09010 管理番号03340
試料上面にセットされた遮蔽板にイオンビームを垂直に照射し、断面形成させる試料作製装置です。 年式：2006年 イオン加速電圧：2～6kV イオンビーム径半値幅：500μm（加速電圧6kV,試料Si） ミリングスピード：1.3μm/min 以上（加速電圧:6KV、試料Si） 最大搭載試料サイズ：幅11㎜×長さ9㎜×厚さ2㎜ `…
ヤマト科学／恒温水循環装置／CTW400 管理番号03499
方式 ： 水冷式電子冷熱 温度範囲 ： -10～70℃ 冷却能力 ： 約145 J/s （125Kcal/h） 温調器 ： マイクロコンピュータによるPID制御 インターフェイス ： RS232C 寸法／重量 ： W295×D400×H360（mm）／約21kg 電源 ： AC100V 50/60Hz 8A`…
NTG社／パッケージ開封装置／Dcap2 id 管理番号：03111
主な用途 ： SEMの前処理装置 モールドされたICをエッチングして半導体検査 年式 ： 2003年 エッチング温度 ： 20～250℃（温度精度±2℃） 電圧 ： AC 95～250V 50/60Hz 4A 使用薬液 ： 自動混酸 （6:1～1:1）、H2SO4、FHNO3 `16…
日立／フラットミリング装置／E-3200 管理番号03212
走査電子顕微鏡（SEM）や表面分析装置（AES,ESCA,SIMSなど）用試料の前処理装置。 アルゴンのイオンビームを試料表面に照射して約5mm径の範囲をスパッタエッチングすることができます。 年式 ： 2008年式 イオンガン ： イオンガンタイプ：ホローカソード／アノード形1本 印加電圧：0～6kV（連続可変） …
