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ニコン 半導体検査顕微鏡 OPTIPHOT200 管理番号09031

¥420,000.-(送料/消費税別途)

観察法明視野、暗視野ステージストロークX方向200㎜ × Y方向200㎜
総合倍率50、100、200、500、100×鏡筒双眼鏡筒
接眼レンズCFWN10×(視野数22)照明落射
対物レンズCF IC Plan 5、10×、20、50、100×BDその他電動レボルバ、光量、レンズ変更、絞りは手元コントローラーにて、
ステージ8インチ右下ハンドルステージ(ホルダーは基板用です)

【機器ステータス】
取扱説明書なし


ニコン 半導体検査顕微鏡 200NIKON Semiconductor inspection microscope Optiphot50ニコン 半導体検査顕微鏡 X200

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