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オックスフォード 蛍光X線膜厚計 CMI 900 管理番号07631

年式:2008年
測定対象:原子番号22(Ti)~83(Bi) (原子番号21以下吸収法により測定可能)
X線源:タングステンターゲット
検出器:比例計数管
コリメータ:○型=0.1mm □型=0.05×0.05mm
試料観察:カラーCCD(40万画素)
テーブル:サイズ 約600×500mm
            :移動量 X=175mm Y=175mm Z=33mm  
寸法:約 W 600 × D 950 × H 380 mm(本体のみ)
重量:約57Kg(本体のみ)
電源:AC110V ± 10%

【機器ステータス】
取扱説明書あり
ご導入の際は、納入日の30日前までに労働基準監督署への届出が必要です。

オックスフォード・インストゥルメンツ/蛍光X線システム/CMI 900Oxford Instruments/XRF spectrometer/CMI 900オックスフォード・インストゥルメンツ/X線膜厚計/CMI 900
Oxford Instruments/蛍光X線膜厚計/CMI 900オックスフォード・インストゥルメンツ/膜厚計/CMI 900

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