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小坂研究所 表面粗さ・輪郭形状測定機 SEF680 管理番号11845

【仕様】


【輪郭形状】

測 定 範 囲 : X 100mm、Z 50mm
 真直度精度  : 1.0um / 100mm 以下
 触   針  : SB-609(R25um)
サンプリング数 : 最大測定点数 300,000点、最小ンサンプリング間隔 1um
 解   析  : 要素解析(点/線/円/山/谷/中点/交差/半径など)

【表面粗さ】

測 定 範 囲 : 縦 600um、横100mm
 真直度精度  : 0.2um / 100mm 以下
サンプリング数 : 最大測定点数 32,000点
 触   針  : 未付属
測定パラメータ : Ra,Rq,Rz,Rc,Ry,Rz,Wa,Wzなど
送 り 速 さ : 0.05,0.1,0.2,0.5,1.0,2.0mm/s、高速移動10mm/s、手動

【商品構成】

・ コントローラー : CL-87D
・  検 出 器  : PU-FG25
・ 送 り 装 置 : DR-100X82
・ 定    盤  : 約80㎏、W600×D320
・輪郭形状用 触針 : SB-609 1本(取付済み、動作確認済み)
・サンプル固定治具 : ツメチャック、XY25mm、回転、傾斜
・  そ の 他  : PCセット、USBドングルなど

【電源、寸法】

・ 電   源  : 単相100V~240V 50/60Hz
・ 重   量  : 測定装置部 約80kg、 解析装置部 約30kg
・設 置 寸 法 : W1300×D770×H720mm


【機器ステータス】

※取扱説明書あり、校正用の標準片(粗さ用2個、輪郭形状用1個)付属しております。
※写真の作業台(除振台)は未付属となります。
※表面粗さ測定用の触針は未付属となっております。別途ご購入希望の際にはご相談下さい。

小坂研究所 表面粗さ・輪郭形状測定機 SEF680小坂研究所 表面粗さ・輪郭形状測定機 sef680小坂研究所 表面粗さ 輪郭測定 SEF680
小坂研究所 表面粗さ 形状測定機 sef680Kosaka Laboratory Roughness and Contour Measuring Instrumentこさかけんきゅうしょ ひょうめんあらさ・りんかくけいじょうそくていき SEF680

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