リオン液中パーティクルカウンタ KS-42B 管理番号73006

【仕様】

〇KS-42B

・光学方式　　　：　側方散乱方式

・光　　源　　　：　半導体レーザー（波長：780nm、定格出力：40mW）

・可測粒径範囲　：　0.2um～2.0um

・試料圧力範囲　：　300kPa（ゲージ圧）以下

・試料温度範囲　：　15℃～35℃

・最大定格粒子個数濃度　：　1200個／mL（0.2μmの粒子において、計数損失5%時）

・寸法・重量　　：　W240×D151×H125(突起物を除く) 、約3.2kg

〇コントローラ　KE-40B1

・粒径区分　　：　最大10段階

・測定値表示　：　累積値、差分値、個数濃度(単位：/mL、/L)

〇シリンジサンプラー　KZ-30W1

・吸引排出流量　　：　設定範囲10～100mL/min(25mLシリンジセット装着時)
　　　　　　　　　　　設定範囲5～50mL/min(10mLシリンジセット装着時)

・フルストローク　：　66㎜

・分　解　能　　：　0.6㎜

・繰り返し誤差　　：　0.5％以下

・精　　　度　　　：　60㎜±2％

・動作モード　　　：　パージ、測定、コンビネーションモード

【機器ステータス】

取扱説明書あり
25mLシリンジセット付属
10mLシリンジセットは別途購入可能です。

過去の履歴

顕微鏡: 実体顕微鏡; 金属顕微鏡半導体検査顕微鏡; 測定顕微鏡投影機; 電子顕微鏡; レーザー顕微鏡; デジタルマイクロスコープ; 関連機器
恒温槽: 環境試験機器; 恒温器オーブン; その他恒温槽; チラー
工業検査機器（電子・金属）: 寸法・形状を測る; 膜厚を測る; 強度を測る; 成分を調べる; 非破壊検査; 色を測る; その他検査機器
半導体製造装置: ウエハ製造（前工程）; ダイサー関連; ボンダー関連; BGA・CSP製造装置; テスティング装置; ディスペンサ; 品管品証関連; その他装置
電子部品製造装置: FPC製造関連; SMT実装関連; FPD製造関連; リードフレーム製造関連; SMD製造関連; その他製造装置
真空機器: 真空ポンプ; 成膜装置; その他真空機器
クリーンルーム機器: クリーンベンチ・ブース; パーティクルカウンター; その他機器
電子工業分野その他: レーザー関連機器; 電子計測器; UV関連機器; 光通信機器
理化学機器（バイオ生物）: 生物顕微鏡; 試験分析機器; ラボ機材; バイオ DNA 機器; 保冷庫フリーザー; インキュベーター; その他機器理化学機器
プレス機械・工作機械: プレス機械; 工作機械; その他機械
その他分類

所在地　/　連絡先

〒802-0001
福岡県北九州市小倉北区浅野3丁目8番1号　AIMビル6F
Tel : 093-522-1711　Fax : 093-522-1712

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リオン 液中パーティクルカウンタ KS-42B 管理番号73006