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半導体製造装置 > 品管 品証 関連

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NSC プラスチックモールドIC開封器 PS103S 管理番号08652

島津製作所 マイクロビッカース硬度計 HMV-G20S 管理番号08697

キーエンス ワンショット3D形状測定機 VR-3100 管理番号08595

リガク 微小部X線応力測定装置 AutoMATEⅡ 管理番号08082

アズワン 大型グローブボックス AS-800S 管理番号08178

フォトロン ハイスピードカメラ FASTCAM-1024PCI 100K 管理番号06403

フォトロン ハイスピードカメラ FASTCAM-512PCI 2K 管理番号06402

エミック 回転振動試験装置 EM-872 管理番号07935

日本アビオニクス ネットワークサーモグラフィ装置 S30W 管理番号06746

キーエンス 高精度2次元レーザー変位センサ LJ-G5000 管理番号07770

アズワン セラミックホットプレート CHP-400AN 管理番号08611

SIIナノテクノロジー プローブ顕微鏡 NANOPICS 管理番号07865

壺坂電機 2軸中型加振機 V400-2A 管理番号07855

オリンパス ウェハーローダー AL120 管理番号07691

日立 プラズマ洗浄装置 SPC-100B 管理番号07659

オックスフォード 蛍光X線膜厚計 CMI 900 管理番号07631

日本電子 エレメントアナライザ JSX-3202EV 管理番号06701

島津製作所 蛍光X線分析装置 EDX-720 管理番号06963

コニカミノルタ 2次元色彩輝度計 CA-1500 管理番号07543

コニカミノルタ 2次元色彩輝度計 CA-1500M 管理番号07544

コニカミノルタ CRTカラーアナライザー CA-100Plus 管理番号07546

コニカミノルタ 分光放射輝度計 CS-1000A 管理番号07542

トプコン 色彩輝度計 BM-7 管理番号07545

ミツトヨ 微細形状測定システム UMAP Vision System Hyper302 管理番号07568

朝日分光 透過率測定器 M-306 管理番号07383

X-rite 分光測色計 i1Profiler 管理番号07238

大塚電子 瞬間マルチ測光システム MCPD-7000:28C 管理番号07262

コニカミノルタ 分光放射輝度計 CS-1000A 管理番号07183

Honle 紫外線照射装置 SOL500RF2 管理番号06538

トプコン 色彩輝度計 BM-5A 管理番号04716

日立 プラズマ洗浄機 SPC-100(B+H) 管理番号06956

キーエンス レーザーフォーカス変位計 LT-8010 管理番号06800

神津精機 高精度形状測定システム K2-310 管理番号06745

SIIナノテクノロジー/蛍光X線分析装置(HSモニター)/SEA1000A 管理番号06233

キャノンアネルバ ヘリウムリークディテクタ M-212LD 管理番号06672

キーエンス 高精度2次元レーザー変位センサ LJ-G5000 管理番号06371

ナック ハイスピードカメラ MEMRECAM fxRX-5 管理番号06037

リオン 4チャンネル分析処理器 SA-01A4 管理番号05826

ナプソン 非接触シート抵抗率計 NC-60F/RG-100N 管理番号05914

アジレント・テクノロジー アナログRF信号発生器 E4428C 管理番号05629

アポロウェーブ マニュアルプローバー α200LX 管理番号05268

サーモフィッシャー フーリエ変換赤外分光光度計(FT-IR) NICOLET6700 管理番号05027

オンテック 加熱一体型リワークシステム RM-2500 管理番号04588

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