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半導体製造装置 > 品管 品証 関連

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ニコン 半導体検査顕微鏡 OPTIPHOT200 管理番号09032

ニコン CNC画像測定システム NEXIV VMR-6555 管理番号09134

ブルカーナノ社 3次元白色光干渉型顕微鏡 contourGT-K(オート仕様)   管理番号09126

ポニー工業 X線検査装置 Ω-90 管理番号08921

東京精密 表面粗さ計 サーフコム480A 管理番号08971

ニコン 金属顕微鏡 ME600D 管理番号08816

島津製作所 マイクロビッカーズ硬度計 HMV-2T 管理番号08777

ヴュオールイメージング 顕微鏡サーモグラフィ XMCR32-SA0350-3X 管理番号09040

アストロデザイン 解析用マニュアルプローバー SE-6003 管理番号08826

ニコン 測定顕微鏡 MM-800 LU 管理番号09030

オリオン 精密空調機 PAP20A-SP 管理番号08107

ニコン 3D合成電動顕微鏡システム LV150NA 管理番号08848

マイクロサポート 電動マイクロマニュピレーター Quick Pro 管理番号08930

キーエンス ワンショット3D形状測定機 VR-3000 管理番号08917

WIT 目視外観検査装置 IP-3000 管理番号08902

コニカミノルタ 分光放射照度計 CL-500A 管理番号70418

トプコン 色彩輝度計 BM-7A 管理番号70411

島津製作所 マイクロフォーカスX線透視装置 SMX-1000 管理番号08736

NSC プラスチックモールドIC開封器 PS103S 管理番号08652

リガク 微小部X線応力測定装置 AutoMATEⅡ 管理番号08082

フォトロン ハイスピードカメラ FASTCAM-512PCI 2K 管理番号06402

エミック 回転振動試験装置 EM-872 管理番号07935

日本アビオニクス ネットワークサーモグラフィ装置 S30W 管理番号06746

キーエンス 高精度2次元レーザー変位センサ LJ-G5000 管理番号07770

SIIナノテクノロジー プローブ顕微鏡 NANOPICS 管理番号07865

壺坂電機 2軸中型加振機 V400-2A 管理番号07855

オリンパス ウェハーローダー AL120 管理番号07691

日立 プラズマ洗浄装置 SPC-100B 管理番号07659

オックスフォード 蛍光X線膜厚計 CMI 900 管理番号07631

日本電子 エレメントアナライザ JSX-3202EV 管理番号06701

コニカミノルタ CRTカラーアナライザー CA-100Plus 管理番号07546

ミツトヨ 微細形状測定システム UMAP Vision System Hyper302 管理番号07568

X-rite 分光測色計 i1Profiler 管理番号07238

コニカミノルタ 分光放射輝度計 CS-1000A 管理番号07183

トプコン 色彩輝度計 BM-5A 管理番号04716

日立 プラズマ洗浄機 SPC-100(B+H) 管理番号06956

神津精機 高精度形状測定システム K2-310 管理番号06745

SIIナノテクノロジー/蛍光X線分析装置(HSモニター)/SEA1000A 管理番号06233

キーエンス 高精度2次元レーザー変位センサ LJ-G5000 管理番号06371

ナック ハイスピードカメラ MEMRECAM fxRX-5 管理番号06037

ナプソン 非接触シート抵抗率計 NC-60F/RG-100N 管理番号05914

アジレント・テクノロジー アナログRF信号発生器 E4428C 管理番号05629

アポロウェーブ マニュアルプローバー α200LX 管理番号05268

サーモフィッシャー フーリエ変換赤外分光光度計(FT-IR) NICOLET6700 管理番号05027

オンテック 加熱一体型リワークシステム RM-2500 管理番号04588

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