【レンタル品】 リオン 液中パーティクルカウンタ KS-42A
【KS-42A仕様】 光学方式90°側方散乱方式 光 源半導体レーザー（波長：830nm、定格出力：200mW） 可測粒径範囲0.1µm～0.5μm 定格流量10mL/min 試料圧力範囲300kPa（ゲージ圧）以下 最大定格粒子 個数濃度1200個／mL（0.1μmの粒子において、計数損失5%時） …
【レンタル品】 リオン 液中パーティクルカウンタ KS-42B
【KS-42B仕様】 光学方式側方散乱方式 光 源半導体レーザー（波長：780nm、定格出力：40mW） 可測粒径範囲0.2μm～2.0μm 定格流量10mL/min 試料圧力範囲300kPa（ゲージ圧）以下 最大定格粒子 個数濃度1200個／mL（0.2μmの粒子において、計数損失5%時） 試料温度範…
【レンタル品】 リオン 液中パーティクルカウンタ KS-42C
【KS-42C仕様】 光学方式側方散乱方式 光 源半導体レーザー（波長：780nm、定格出力：5mW） レーザ製品のクラスクラス1、IEC 60825-1 接液部材質合成石英、PFA、PTFE 導入可能な液体接液部を腐食しない液体 粒径区分7段階（出荷時）：0.5μm、1.0μm、2.0μm3.0μm、5.0μm、10μm、20μm以上 任…
【レンタル品】 リオン 液中パーティクルカウンタ KS-42D
【KS-42D仕様】 光学方式光遮蔽方式 光 源半導体レーザー（波長：780nm、定格出力：5mW） 可測粒径範囲2um～100um 定格流量25mL/min 試料圧力範囲－80～300kPa（ゲージ圧） 最大定格粒子個数濃度10000個／mL（10μmの粒子において、計数損失10%時） 試料温度範囲15℃～3…
【レンタル品】 リオン 気中パーティクルカウンタ KC-24
【仕様】光学系方式 光軸交角90度側方散乱方式 光 源 半導体レーザー（波長808nm、定格出力1W）固体レーザー Nd：YVO4定格流量28.3L/min（標準不確かさ5％以下）粒径区分（5段階） 0.1μm以上、0.15μm以上、0.2μm以上、0.3μm以上および、0.5μm以上最大粒子個数濃度1,000個／L…
【レンタル品】 リオン 気中パーティクルカウンタ KC-31
【仕様】光学系方式 光軸交角60度側方散乱方式 光 源 半導体レーザー（波長780nm、定格出力100mW）定格流量28.3L/min粒径区分（5段階） 0.3μm以上、0.5μm以上、1.0μm以上、2.0μm以上、5.0μm以上、10.0 μm以上の6段階表示最大粒子個数濃度28,000,000個／㎥（計…
