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NXT Gmbh 厚み/膜厚測定装置 ETA-TCM SCAN 管理番号12342

【年式】

 2019年製

【主な仕様】

・測定原理  : 1チャンネル反射率分光分析
・測定内容  : 反射率スペクトル、厚さ測定、トレンド表示など
・波長範囲  : 760~940nm
・厚み範囲  : 0.1μm~
・測定スポット: ~2mm
・光 源   : ハロゲンランプ(50W)
・測定ステージ: X200 × Y200mm(電動)
・制御PC   : OS Windos10 Enterprise 
          PC本体 内蔵
・装置外寸   : 約W600 × D700 × H500mm※液晶モニターは別途
・電  源   : AC100~240V 50/60Hz


【機器ステータス】

取扱説明書有(日本語、英語)

NXT NXT Gmbh 厚み測定装置 ETA-TCM SCANnxt spectroscopic measurement system  ETANXT 膜厚計TCM SCAN
nxt 膜厚計 scan 760-940-rNXT 膜厚計 SCAN 760-940-Rnxt まくあつけい  ETA-TAM

工業検査機器(電子・金属)  >  膜厚を測る  >  半導体製造装置  >  品管 品証 関連

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