キーエンス 高精度形状測定システム KS-1100 管理番号09140
【本体:KS-1100】・ステージ可動範囲:XYZ:100mm, θ360°・ステージサイズ:Φ170㎜、180mm×180mm・ステージ耐荷重:1.5kgf (14.7N)・ステージ最大駆動速度:150mm/sec・ステージ最小移動分解能:0.1μm・ステージ駆動方式:リニアモータ・電源:AC 100±10 %、50/60Hz、200VA・重量:約20kg・外形寸法:W300×D450×H500…
ポニー工業 X線検査装置 Ω-90 管理番号08921
テーブルサイズ:320×370mmテーブル耐荷重(均等荷重時):3kg最大管電圧:90KV 最大管電流 250μA 最大出力 10W幾何学的最大倍率:約30倍(視野角1.71×1.71mm)最大傾斜時幾何学的最大倍率:約22倍(視野角2.4×2.4mm)X線検出器傾斜角度:約50°外寸:W810×D875×H1130mm(PC・モニター含まず)重量:約350kg電源:AC 1φ 100V 50/6…
東京精密 表面粗さ計 サーフコム480A 管理番号08971
測定範囲/分解能 : Z軸 800um/10nm、80um/1nm、8um/0.1nmX軸移動量 : 300㎜※ワーク移動型駆動部駆動部 : X軸真直度(0.05+1.5L/1000)μm 測定速度0.03~6.0㎜/s 8速測定力(触針) : 0.75um触針(先端半径2um)測定パラメータ : Ra, Rq, Ry, Rp, Rv, Rc, R…
島津製作所 マイクロビッカーズ硬度計 HMV-2T 管理番号08777
【仕様】・固定試験力 : 98.07mN~19.61N(HV0.01~HV2)※9種類・負荷装置 : 自動負荷方式・試験力保持時間 : 5~999sec※秒単位で設定可能・圧 子 : ダイヤモンド正四角すい圧子・対物レンズ : 10×、40×・電動レボルバ : 有・外部制御 : PCによる外部制御可能 ※ソフトインストール済みPC付属・本体外寸法 : W370×D490×H5…
ニコン 超高分解能非接触三次元表面形状計測システム BW-A505(MM-800LU)
〇年式 : 2014年〇主な仕様・ピエゾ駆動方式 : レボルバ駆動・ピエゾ走査レンジ : 100μm※測定は約90μm・XYZ軸駆動 : 各手動※ピエゾ駆動部は電動・計測光学系 : 白色二光束干渉計・二光束干渉対物レンズ : 10、20、50、100×・マイケルソン型干渉レンズ : 2.5、5×※対物レンズ用単ホルダ付属(1本装着用)・視野確認用対物レン…
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アストロデザイン 解析用マニュアルプローバー SE-6003 管理番号08826
○主な仕様・ステージ移動量 : X200mm、Y200mm・サブステージ移動量 : X13mm、Y13mm・θ調整 : 180°・Z移動量 : 0~25mm(UP/DOWNストローク400um) ・チャックサイズ : 標準チャック ~8インチ(φ200mm) ホットチャック ~8インチ(φ200mm)・ウェハ保持方式 : 真空吸着方式・ホットチャック温度範囲 : ~最高30…
ニコン 3D合成電動顕微鏡システム LV150NA 管理番号08848
観察法明視野、暗視野、微分干渉ステージストロークX方向±75mm、Y方向±50mm総合倍率50×(干渉レンズ)、50、100、200、500×鏡筒三眼鏡筒接眼レンズCFIUW 10×照明LV-UEPI2A 電動ユニバーサル反射照明装置対物レンズCF IC EPI Plan TI 5×※マイケルソン型二光束干渉レンズ、CFI TU Plan10×、CFI TU Plan ELWD 20、50× その…
島津製作所 疲労・耐久試験機 EMT-1KNV-50 管理番号08843
年式 : 2016年容量 : ±1KN ※連続負荷可能ストローク : ±50㎜最大速度 : 2m/s最大加振周波数 : 200Hz上下方向空間調整 : 手動クランプ、電動式昇降試験空間 : 支柱間隔460㎜ 冶具取り付け間隔0~700㎜加振側ジグ最大質量 : 1kg許容横力 : 100N制御装置 : 4830形制御装置制御対象 : 試験力、ストローク重量 : 本体約520㎏、パワーアン…
キーエンス ワンショット3D形状測定機 VR-3000 管理番号08917
・年 式 : 2016年・商品構成 : コントローラー VR-3000、ヘッド VR-3050(電動XYステージ仕様)・測定可能高さ : 広視野モード10mm(±0.5mm)・表示分解能 : 0.5μm・倍 率 : 12、25、38、50×切換・デジタルズーム: 1~4倍・測定精度 : 高さ ±3μm、幅 ±5μm・繰り返し精度 : 高さ 0.5μm、幅 1μm・作動距離 …
WIT 目視外観検査装置 IP-3000 管理番号08902
年 式 : 2013年タイプ : Mサイズ AOIリンク(VT-S720接続) 卓上機タイプ基板サイズ : X寸法 50~330mm Y寸法 50~250mm 厚さ 0.4~5.0mm クリアランス 35mmカメラ : 真上 130万画素CMOS/斜め 300万画素CMOS 照 明 : 蛍光灯各種入力 : マウス、コンソールBOXPC(…
コニカミノルタ 分光放射照度計 CL-500A 管理番号70418
¥260,000.-(送料/消費税別途) 照度計の階級:JIS C 1609-1 一般形AA級照度計に準拠測定波長範囲:360~780nm出力波長間隔:1nmスペクトル波長幅:約10nm(半値幅)測定範囲:0.1~100000lx (色度表示は 5lx以上)確度:Ev 指示値の±1digit , xy ±0.0015(10~100000lx),xy ±0.002(5~10lx)表示モード…
トプコン 色彩輝度計 BM-7A 管理番号70411
¥250,000.-(送料/消費税別途) ・受光素子 : シリコンフォトダイオード・光学系 : ファインダー視野:5°、対物レンズ:f=80mm F2.5・分光感度特性:CIE1931等色関数に近似(JIS Z 8724のルーター条件をクリア)・測定角 : 2°/1°/0.2°/0.1°※切替え式・測定距離 : 350mm~∞ (対物レンズ金物先端からの距離)・測定機能 : x、…
プロセク社 硬さ試験機 エコーチップ3 管理番号76011
年式 : 2014年式測定精度 : ±4HL 又は、±0.5%HL測定範囲(D形インパクト): HV : 81~955 HB : 81~654 HRB : 38~100 HRC : 20~68 HS : 18~103※使用するインパクト装置により異なります。試験方向 : 自動認識360°(DLインパクト装置を除く)内部記憶 : 100000データ保存通信 : USB、LAN、RS232C …
日本アビオニクス 放射温度計 サーモギアG30 管理番号76001
¥200,000.-(送料/消費税別途) 年式 : 2013年式温度測定範囲 : -20℃~350℃最小検知温度差 : 0.2℃測定精度 : ±2℃または読み値の±2%のいずれか大きい方測定波長(半値幅) : 8~13μm視野角 : 水平28°×垂直21°焦点範囲 : 10cm~∞(測定距離50cm以上で温度測定精度を保証)フレーム時間 : 8.5フレーム/秒表示装置 : 2.7型LCD…
クラボウ 撹拌機 KK-V1000 管理番号08704
○標準容器 : HDPE製1.1L専用容器○最大処理量 : 1kg×2カップ○回転速度と段階数 : 公転(9段階 、レベル1から9)自転(10段階、レベル0から9、公転の約0.0~0.94倍)※ただし、公転速度レベルにより制限有り○設定時間 : 10~300秒×5ステップ○真空度設定 : 目標真空度を任意設定○真空ポンプ到達圧力 : 6.7Pa○実効排気速度 : 200/240 L/min (50…
島津製作所 マイクロフォーカスX線透視装置 SMX-1000 管理番号08736
サンプル最大サイズ:350×400mm(推奨サンプル高:90mm以下)サンプル重量:最大5kg最大X線出力:X線管電圧 90KV X線管電流 250μA 定格出力 10W透視視野:約2.1~35mm(検査ステージ面にて) (フラットパネル検出器入力面において約W50×H50mm)解像度:JIMA RT RC-02 ミクロチャート5μmを分解外寸…
NSC プラスチックモールドIC開封器 PS103S 管理番号08652
¥450,000.-(送料/消費税別途) 使用可能薬液:発煙硝酸、発煙硫酸、硫酸、混酸開封温度設定:20~250℃薬液流量設定:2~10ml/min開封時間設定:0~99min59secN2ガス用力:供給圧力 0.3Mpa 接続口径 1/8”Swagellok安全装置:漏液、ヒータ断線、センサ断線、過熱防止、 過電流ブレーカ、非常停止スイッチ外寸:本体 約W270×D…
ミツトヨ 高精度デジタル測長機 ライトマチック VL-50S 管理番号08640
¥200,000.-(送料/消費税別途) 測定範囲:0~50mm最小表示量:0.0001mmケーブル長:約1m外寸:測長部 約W250×D320×H500mm(スタンド含む) 表示部 約W180×D280×H90mm重量:測長部 約26kg(スタンド含む) 表示部 約2.6kg電源:AC 85~264V 50/60Hz 【機器ステータス】取扱説明書なし 【工業検査機…
マルコム タッキネステスター TK-1 管理番号08653
¥480,000.-(送料/消費税別途) 測定範囲:0~500gf±2gf分解能:0.25gf侵入方式:定圧侵入方式 定量侵入方式 定点侵入方式プレス圧:-20~-500gfプレス時間:0.1~99.9s引き離し速度:1.0~10.0mm/s (定圧侵入方式/定量侵入方式) 2.0~600.0mm/min (定点侵入方式)侵入量:20~200um温度:室温+1…
Veeco 白色干渉顕微鏡 NT1100 管理番号08654
・測定方式:位相シフト干渉方式、白色光垂直走査型干渉方式・測定能力:視野 非接触式3次元表面形状粗さ測定・対物レンズ:2.5x、50x・内部レンズ:0.5x、1.0x、2.0x・光源:タングステンハロゲンランプ・試料ステージ:130×130mm 手動型ステージ・ステージ稼働範囲:X/Y 約±50mm、先端/傾斜 約±4°・ディスプレイ:5インチモノクロモニター・垂直走査速度:7.2um/sec・側…
リガク 微小部X線応力測定装置 AutoMATEⅡ 管理番号08082
【仕様】X線発生装置部・定格出力 : 3kV・定格管電圧 : 20~50kV・定格管電流 : 2~50mA・安全装置 : 高電圧電源部異常、冷却水異常X線管球・形式 : A-41-Cr・ターゲット : Cr(標準)、Cu・最大出力 : 2kW応力ゴニオメーター部・応力測定方法 : 並傾法、側傾法・応力解析方法 : sin2Ψ法・X線源-試料間距離 : 265mm・試料-検出器間距離 : 210mm…
アズワン 大型グローブボックス AS-800S 管理番号08178
¥180,000.-(送料/消費税別途) 外寸(台及び配管含む): 幅 約1000mm × 奥行 約730mm × 高さ 約1750mm本体外寸 : 幅 約800mm × 奥行 約600mm × 高さ 約770mm副室外寸 : 間口 約300mm × 奥行 約250mm × 高さ 約250mm開口部寸法 : 横 約750mm × 縦 約380mm材質 : 横本体枠組/ステンレス、窓部/ポ…
エミック 回転振動試験装置 EM-872 管理番号07935
¥280,000.-(送料/消費税別途) 年式:2003年式振動発生機 (EM-872) ステージ径:φ200mm ステージ部取付穴:M6 25mmビッチ ステージ回転角度:約10° 冷却方式:強制空冷 外寸:約W345×D345×H200mm(突起部含まず) 質量:約51kgアンプ (371-A) 定格出力:110VA 出力電圧:20.0V 出力電流:5.5A 周波数範囲:2Hz~30…
日本アビオニクス ネットワークサーモグラフィ装置 S30W 管理番号06746
【特価販売】 ¥90,000.-(送料/消費税別途) 【仕様】・検出器 : 2次元非冷却センサ(マイクロボロメータ)・検出器画素数 : 160(H)×120(V)(画像外周3行、3列は仕様規定外)・測定温度範囲 : -20~350℃・測定波長 : 8~14μm・温度分解能 : 0.2℃以下(at 30℃黒体)・測定視野角 : 水平28°× 垂直21°(精度±10%)・空間分解能 :…
コニカミノルタ 分光測色計 CM-3500d 管理番号07805
【特価販売】 ¥90,000.-(送料/消費税別途) 測定用光源 : パルスキセノンランプ測定波長範囲 : 400~700nm (波長間隔20nm)測定条件 : 反射、透過測定径 : φ30、φ8言語モード : 日本語、英語、ドイツ語、フランス語、スペイン語、イタリア語電源 : AC100 V (アダプタ使用時)重量 : 約10kgインターフェース : RS-232C【付属品】白色校正板…
キーエンス 高精度2次元レーザー変位センサ LJ-G5000 管理番号07770
¥270,000.-(送料/消費税別途) ○年式 : 2008年○コントローラー : LJ-G5000・ヘッド接続台数 : 最大2台(本装置には下記ヘッド1台のみ付属)・最小表示単位 : 0.1um、0.001mm2、0.01°・最大表示範囲 : ±99999.9mm、±999999mm2、±99999.9°・重量 : 約1kg・外寸 : 約W85×D140×H160mm ○ヘッド型式 …
クラボウ 遊星式撹拌機 MAZERUSTAR KK-1000W 管理番号08059
○年式 : 2009年式○最大処理量 : 1容器あたり約500mlかつ1kg(容器・アダプタ含む)○回転速度と段階数 : 公転(10段階設定 、約230~1000rpm) 自転(10段階設定、公転の約0.0~1.0倍)○設定時間 : 10~300秒×3ステップ 合計900以下 (10秒単位)○電源 : 単相AC200V、50/60Hz 2.0kw○外形寸法 : 約W570mm…
スガ試験機 45°燃焼性試験機 FL-45M 管理番号08008
¥500,000.-(送料/消費税別途) 【装置概要】45°に保持した試料にバーナー火炎をあて、ワークの炭化面積、炭化長、残炎時間、残じん時間などを測定し燃焼性を判定【電源】AC100V 50Hz 0.4A【装置寸法】W700×D260×H900mm 【機器ステータス】取扱説明書あり 【工業検査機器(電子・金属)】 【その他検査機器】 【理化学機器(バイオ生物)】 【その他…
SIIナノテクノロジー プローブ顕微鏡 NANOPICS 管理番号07865
【NPX100ヘッド】・深針駆動機構:垂直分解能 0.5nm 捜査範囲 画内(XY)500nm~800μm、垂直方向(Z)±10μm・試料ステージ:移動量 XYZ各方向10mm 試料形状 最大30mm角、厚み5mm・除振機構:内蔵・寸法:W211×D211×H210mm・重量:約8kg【Nanopics1000コントローラー】・操作速度:12s…
ハムロンテック 電子デバイス用防水試験器 WPC6315P002/A/WO 管理番号07863
年式:2012年・リーク検出方式:空気加圧歪量測定方(歪検出方式)・最大ワーク寸法:約W310×D230×H30mm・測定ポイント:2箇所・測定圧力:10KPa~20KPa (設定分解能:±1KPa)・昇圧時間(最長):約12S・測定時間:大リーク検出 1~99S 照リーク検出 1~999S (測定時間設定単位:1S)・小リーク検出判定値:0.1~99.9um (分解能:0.1um)・大リーク検…
壺坂電機 2軸中型加振機 V400-2A 管理番号07855
年式:2015年式最大搭載質量:5kg動作範囲:ピッチ±5deg ヨー±5degサイン振動 ・振幅 ±0.01~±5.00deg (設定は0.01deg単位) ・周波数0.1~15.0Hz (設定は0.1Hz単位) ・位相差 0~180degランダム振動 ・最大振幅 ±0.01~±2.00deg (設定は0.01deg単位) 任意波形振動 ・最大角度 ±5deg ・最小角度 ±0.000001de…
ハムロンテック 電子デバイス用防水試験機 WPC6200P005 管理番号07742
・ 検出方式 : 空気圧利用による歪み測定方式・ テスト圧力 : 10~50kPa・ 検出感度 : L測定時1μm、S測定時0.1μm・ ワーク最大測定可能サイズ : W200×D50×H30mm・ 供給圧力 : 400kPa~700kPa・ 供給電源 : AC100V・ 本体寸法 : W200×D735×H515mm(突起物を含むサイズです。)・ 本体重量 : 約35kg 【機器ステータス】…
アスカ― ゴム硬度計 管理番号07528
¥90,000.-(送料/消費税別途) 【定圧荷重器仕様】 ○測定圧:1000g ○測定点からの有効奥行寸法:70mm ○試料台有効寸法:W150×D140mm ○本体寸法:W150×D180×H430mm ○質 量:8.5kg【ゴム硬度計(C型)仕様】 〇測定目盛:0~100ポイント 〇押針形状:H2.54mm φ5.08mm半球 【機器ステータス】取扱説明書なしアスカーゴム硬…
ミツトヨ ロックウェル硬さ試験機 HR-523 管理番号07677
・試験硬さスケール ロックウェル : HRA、HRD、HRC、HRF他 ロックウェルスーパ-フィシャル : HR15N、HR30N、HR45N、HR30W、HR30Y他 ブリネル : HBW2.5/187.5、HBW1/10他・試験力機構 : モーター駆動方式・試験速度 : Low、Middle、High・試料寸法 : 最大高さ250㎜、最大奥行150㎜(圧子軸から)・付属品 : 大型スタ…
商談中
オックスフォード 蛍光X線膜厚計 CMI 900 管理番号07631
年式:2008年測定対象:原子番号22(Ti)~83(Bi) (原子番号21以下吸収法により測定可能)X線源:タングステンターゲット検出器:比例計数管コリメータ:○型=0.1mm □型=0.05×0.05mm試料観察:カラーCCD(40万画素)テーブル:サイズ 約600×500mm :移動量 X=175mm Y=175mm Z=33mm 寸法:約 W…
日本電子 エレメントアナライザ JSX-3202EV 管理番号06701
【特価販売】お問い合わせください年 式 : 2009年検出元素範囲 : 11(Na)~92(U)X線発生装置 : 5~50kV、1mA、50Wターゲット : Rhフィルタ : 4種自動交換(オープン含め)コリメータ : 1mmφ、3mmφ、7mmφ検 出 器 : Si(Li)半導体検出器液体窒素 : 3L 消費量1L/日試料室サイズ : φ300mm×1…
コニカミノルタ CRTカラーアナライザー CA-100Plus 管理番号07546
【特価販売】 ¥30,000.-(送料/消費税別途) 受光部 : 受光素子(シリコンフォトセル)測定径 : φ21mm測定範囲 : 輝度、色度 0.05~2000 cd/cm2表示 : デジタル xyLv、XYZ、T△uvLv、u´v´Lv、RGB アナログ △x△y△Lv、R/G B/G △G、△G B/R G/R測定同期モード : NTSC、PAL、EXT、UNIV、INT電源 …
日立テクノロジーアンドサービス 全自動落下試験装置 FIT-1800S 管理番号07611
・年式:2008年・対応ワーク寸法:W53×L112×D17mm・落下方向:平面・横・縦の3方向・落下高さ:自由落下換算10mm~1800mm 強制落下動作範囲:600~1800mm 自由落下動作範囲:10~1000mm 着地後瞬時把持動作:150mm以上 連続落下回数:65000回(入力設定MAX)・操作方法:タッチパネル対話式操作・外形:W900×H1980×D950mm・本体重量:約…
トプコン 色彩輝度計 BM-7 管理番号07545
【特価販売】 ¥70,000.-(送料/消費税別途) ・受光素子 : シリコンフォトダイオード・光学系 : ファインダー視野:5°、対物レンズ:f=80mm F2.5・分光感度特性:CIE1931等色関数に近似(JIS Z 8724のルーター条件をクリア)・測定角 : 2°/1°/0.2°/0.1°※切替え式・測定距離 : 350mm~∞ (対物レンズ金物先端からの距離)・測定機…
X-rite 分光測色計 i1Profiler 管理番号07238
¥200,000.-(送料/消費税別途) ・分光範囲:380 ~ 730 nm・分光出力:380 ~ 730 nm(10 nm 間隔)・光学分解能:10 nm<反射率測定>キャリブレーション:付属の白色セラミック校正板による手動キャリブレーション測定条件:ISO 13655: 2009測定条件「M0」(UV込み) ISO 13655: 2009測定条件「M1」(…
コニカミノルタ 分光放射輝度計 CS-1000A 管理番号07183
【特価販売】 ¥250,000.-(送料/消費税別途) 年式:2006年式測定波長範囲:380~780nmスペクトル波長幅:5nm(半値幅)波長分解能:0.9nm/pixel表示波長間隔:1nm波長精度:±0.3nm(重心波長Hgランプ)測定角:1度(標準レンズ、マクロレンズ)メモリ:測定値30チャンネル、基準値20チャンネル最短測定距離:362mm(標準レンズ)、94mm(マクロレ…
トプコン 色彩輝度計 BM-5A 管理番号04716
【特価販売】 ¥80,000.-(送料/消費税別途) ・ 測定角 : 2°/1°/0.2°/0.1°切替式・ 測定範囲 : 0.0001~12000000 cd/㎡・ 光学系 : ファインダー視野 5°、対物レンズ f=80mm F2.5・ 分光感度特性 : CIE1931等色関数に近似・ 測定機能 : x,y,L/u,v,L/X,Y,Z/Tc,duv,L/CIE 1976 L a b …
神津精機 高精度形状測定システム K2-310 管理番号06745
【特価販売】 ¥1,500,000.-(送料/消費税別途) ○年 式 : 2011年○商品構成 : レーザー変位センサー(LT-9030M/キーエンス製) 300mmストローク大型ステージ(ドライバー:SC-210) 制御用パソコン カメラ用モニター(ソニー製)○測定エリア : X300×Y300(mm…