ミツトヨ 表面粗さ測定機 サーフテスト SV-3100S4 管理番号09650
C o d e ： 178-451-1傾 斜 機 構 ： なし測定範囲/分解能 ： Z軸 800μm/0.01μm、80μm/0.001μm、8μm/0.0001μm X軸 100㎜/0.05μm駆動部分 ： 真直精度 （0.05+0.001L）μm L:駆動長さ（mm） 測定速度 0.02～5.0㎜/sZ軸(コラム)移動範囲 ： 300mm…
フナテック 表面検査ランプ FY-100R 管理番号09701
【仕様】・タイプ ： 卓上型・調光 ： 35～100W・点灯方式 ： 電子点灯・光源 ： 100W特殊ランプ・照度 ： 36000L×（45cm）・冷却ファン ： ON/OFFスイッチ付・ランプ寿命 ： 10000時間・電源 ： AC100/110V 50/60Hz・光源部寸法 ： 240×φ145mm 【機器ステータス】取扱説明書なし 【工業検査機器（…
オリンパス 金属顕微鏡 BX51M 管理番号09664
観察法明視野・微分干渉観察ステージストローク移動範囲：X105×Y100mm総合倍率50倍, 100倍, 200倍, 500倍, 1000倍鏡筒広視野三眼鏡筒 (倒立正像) U-TR30接眼レンズ広視野 WHN10x-H照明落射照明対物レンズMPlanFL-N 5x, 10x, 20x, 50x, 100xその他・微分干渉ユニット(U-PO3,U-AN360-3,U-DICR)・フィルタ(U-25…
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エミック 振動発生機 9514-AN/SD 管理番号08983
【構成】 振動試験システム プリチャージアンプ 504-E-2 単体電力増幅器 373-A デジタル振動制御装置 DCS-98JSmart 小型振動発生機 9514-AN/SD HT-030-14【仕様】《振動試験システム部》 ・プリチャージアンプ 適合ピックアップ感度：0.100～0.999pc/(m/s2) ：1.00～9.99pc/(m/s2) …
アストロデザイン 解析用マニュアルプローバー SE-6003(チラー付属) 管理番号08825
○主な仕様・ステージ移動量 ： X200mm、Y200mm・サブステージ移動量 ： X13mm、Y13mm・チャックサイズ ： 標準チャック ～8インチ 低温チャック ～8インチ・ウェハ保持方式 ： 真空吸着方式・設定温度：-40℃～+125℃(冷却媒体：水。エタノール混合溶液)・顕微鏡サポートタワーチルド角度 ： 水平に対して約10度・プローバー外寸法 ： 約W440×D7…
アストロデザイン 解析用マニュアルプローバー SE-6003 管理番号08824
○主な仕様・ステージ移動量 ： X200mm、Y200mm・サブステージ移動量 ： X13mm、Y13mm・θ調整 ： 180°・Z移動量 ： 0~25mm（UP/DOWNストローク400um） ・チャックサイズ ： 標準チャック ～8インチ（φ200mm） ホットチャック ～8インチ（φ200mm）・ウェハ保持方式 ： 真空吸着方式・ホットチャック温度範囲 ： ～最高30…
オリンパス 小型LD干渉計 KIF-10A-UW 管理番号09498
口径：φ25.4mm光源：半導体レーザ(λ＝537nm) 出力0.8W以下(クラス2)参照レンズ保障面制度：λ/15(球面・平面とも）外形：約W195×D235×H440mm重量：約5kg [付属オプション] 8.4インチ液晶モニタ ３軸ステージ リニアスケール レンズ：F1.0、F2.0 減衰フィルター：AF25 【機器ステータス】取扱説明書あり 【工業検査機器（電子・…
ニコン CNC画像測定システム NEXIV VMR-3020 管理番号09402
・光学倍率 ： 1×(4．67×3.5)、2×(2．33×1．75)、4×(1．165×0．875)（測定視野） 8×(0．582×0．437)、15×(0．311×0．233) ※（ ）はmm・総合倍率 ： 40～600×※タイプ2・ストローク ： X軸300 × Y軸200 × Z軸150（mm）・作動距離 ： 50mm・被検物重量： 最大20kg・観察カメラ ： 白黒1／3型CCD・照 …
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小坂研究所 輪郭形状測定機フォームコーダー EF-651D/AS-3506C 管理番号09497
測定範囲：X 100mm（送り装置データ）、Z 45mm（昇降機の寸法実測） 測定精度：X軸 ±(1＋0.02L)um ※L：測定長さ(mm) Z軸 ±(1＋0.04h)um ※h：水平位置からのスタイラス変位(mm)真直度精度：1.0um / 100mmスタイラス：R25um測定力：10～30mN可変測定角度：登り77°、下り87解析：要素解析(点/線/円/山/谷/中点/交差など) …
アストロデザイン 解析用マニュアルプローバー SE-6003 管理番号09447
○主な仕様・ステージ移動量 ： X200mm、Y200mm・サブステージ移動量 ： X13mm、Y13mm・θ調整 ： 粗動180° 微動10°・Z移動量 ： 0~25mm（UP/DOWNストローク400um） ・チャックサイズ ： ホットチャック ～8インチ（φ200mm）・ウェハ保持方式 ： 真空吸着方式・ホットチャック温度範囲 ： ～最高300度・プローバー外寸 ： 約W550×D56…
コニカミノルタ 分光放射輝度計 CS-1000A 管理番号09311
【特価販売】¥２５０，０００．－（送料／消費税別途）測定波長範囲：380～780nmスペクトル波長幅：5nm（半値幅）波長分解能：0.9nm／pixel表示波長間隔：1nm波長精度：±0.3nm（重心波長Hgランプ）測定角：1度（標準ﾚﾝｽﾞ、マクロレンズ）メモリ：測定値30ﾁｬﾝﾈﾙ、基準値20ﾁｬﾝﾈﾙ最短測定距離：362mm（標準ﾚﾝｽﾞ）、94mm（マクロレンズ）最小測定径：7.9mm（標…
コニカミノルタ 分光放射輝度計 CS-1000A 管理番号07184
【特価販売】¥２８０，０００．－（送料／消費税別途）測定波長範囲：380～780nmスペクトル波長幅：5nm（半値幅）波長分解能：0.9nm／pixel表示波長間隔：1nm波長精度：±0.3nm（重心波長Hgランプ）測定角：1度（標準ﾚﾝｽﾞ、マクロレンズ）メモリ：測定値30ﾁｬﾝﾈﾙ、基準値20ﾁｬﾝﾈﾙ最短測定距離：362mm（標準ﾚﾝｽﾞ）、94mm（マクロレンズ）最小測定径：7.9mm（標…
島津製作所 ダイナミック超微小硬度計 DUH-W201 管理番号09451
○主な仕様・試験の種類： 圧子押し込み試験、負荷－除荷試験、繰返し試験、押し込み深さ設定試験 ステップ負荷試験、ステップ負荷－除荷試験・負荷方式 ： 電磁コイル式・試験力範囲： フルスケール0.1~1961mN（0.01~200?f）・測定方式 ： 差動トランス・測定範囲 ： 0~10μｍ・圧 子 ： 三角すい圧子 稜間角115°・総合倍率 ： 100×、400×・測微装置 ： エ…
ニコン CNC画像測定システム NEXIV VMR-1515 管理番号09419
・光学倍率 ： 0．5×(9．33×7)、1×(4．67×3．5)、2×(2．33×1．75)（測定視野） 4×(1．165×0．875)、7．5×(0．622×0．467) ※（ ）はmm・総合倍率 ： 20～300×※タイプ1・ストローク ： X軸150 × Y軸150 × Z軸150（mm）・作動距離 ： 50mm・被検物重量 ： 最大20kg・観察カメラ ： カラー1…
東機産業 粘度計 TVE-30H 管理番号09412
￥１５０，０００．－（送料／消費税別途） 【仕様】・回転速度 ： 0、0.1～100.0rpm・単位切替 ： ％、mPa･s、 Pa･s、kPa･s (cP/Pへの切替可能)・フルスケールトルク(μN・m) ： 718.7(H)、1437.4(R)、5749.6(U)・粘度測定範囲(mPa・s)、1°34′xR24（標準コーンロータ） 12.80～64.0（H)、25.60～128…
トプコン 色彩輝度計 BM-7Fast 管理番号09399
・光学系 ： ファインダー視野:5°、対物レンズ:f=80mm F2.5・測定角 ： 2°/1°/0.2°/0.1°※切替え式・測定距離 ： 350mm～∞ (対物レンズ金物先端からの距離)・測定機能 ： x、y、L （x、y： 色度座標、L：輝度） 及び±⊿ u'、v'、L （u'、v'： 色度座標、L：輝度） 及び±⊿ X、Y、Z （X、Y、Z： 三刺激値） 及び±…
大塚電子 濃厚系粒径アナライザー FPAR-1000 管理番号09362
【仕様】・計測粒子径 ： 3nm～5000nm・対応濃度範囲 ： 0.01～10％（濃厚系プローブ）・光源 ： 半導体レーザー・検出器 ： 光電子増倍管（フォトンカウンティング方式）・サンプル温調範囲 ： 10～70℃・温調方式 ： 電子式冷却素子、ヒーター・プローブ洗浄方式 ： 超音波洗浄・外寸法 ： W320xD507xH284mm・質量 ： 22 kg・電源 ： AC100V、50/60H…
日本マイクロニクス マニュアルプローバー MP-10 管理番号09152
○主な仕様・チャックサイズ：8インチ（φ200mm）・チャックステージ：エアーベアリング機構・ステージ移動量：約X220mm、Y270mm・サブステージ移動量：約X10mm、Y10mm・ウェハ保持方式：真空吸着方式・Z移動量：0~0.3～3.5mm（3段階）、＋約37mm・θ調整：約±25°（チャックの配線、配管により変動）・プローバー寸法：約W560×D770×H580mm※顕微鏡含む・シールド…
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島津製作所 マイクロフォーカスX線CTシステム SMX-225CT 管理番号09257
・Ｘ線管電圧 ： ～225kV（1kVステップ）・Ｘ線管電流 ： ～1000μA（10μAステップ）・X線検出器 ： ｲﾒｰｼﾞｲﾝﾃﾝｼﾌｧｲｱ（I.I）・最大試料サイズ ： φ300×H300mm、9kg（サンプル固定用冶具含む）・ステージ最大ストローク ： SOD軸680㎜、SID軸400～1000㎜、Z軸 300mm・最大CTスキャン領域 ： φ200×H300mm・電源 ： AC200V…
ニコン CNC画像測定システム NEXIV VMR-3020 管理番号09315
【仕様】・光学倍率 ： 0．5×(9．33×7)、1×(4．67×3．5)、2×(2．33×1．75)（測定視野） 4×(1．165×0．875)、7．5×(0．622×0．467) ※（ ）はmm・総合倍率 ： 20～300×※タイプ1・ストローク ： X軸300 × Y軸200 × Z軸150（mm）・作動距離 ： 50mm・被検物重量： 最大20kg・観察カメラ ： カラー1／3型CCD・…
商談中
ミツトヨ CNC表面粗さ・輪郭形状測定機 CS-5000CNC 管理番号09282
装置概要 ： 表面粗さ、輪郭形状を一括測定可能な高精度触針式のCNC表面性状測定機年 式 ： 2018年主な仕様 ： ・X1軸 測定範囲200ｍｍ、分解能0.00625μm、 指示精度（20℃）±（0.3+0.002L）μｍ ・Z1軸（検出器） 測定範囲12／24ｍｍ（標準／2倍スタイラス時）、分解能0.00625μm、指示精度（20…
日立ハイテクサイエンス 蛍光X線膜圧計 FT110A 管理番号09281
年 式 ： 2016年測定対象元素 ： 原子番号22（Ti）～83（Bｉ）測定雰囲気 ： 大気ﾜｰｸﾃﾞｨｽﾀﾝｽ ： 9~89mmX線発生部 ： Wターゲット、管電圧 50ｋV、管電流 40~1000μAX線検出器 ： 比例計数管コリメータ ： ○型 0.05、0.1、0.2mm □型 0.025×0.4mmテーブル寸法 ： W240×D170mmX-ray …
東京精密 表面粗さ計 サーフコム480A 管理番号08971
測定範囲/分解能 ： Z軸 800um/10nm、80um/1nm、8um/0.1nmX軸移動量 ： 300㎜※ワーク移動型駆動部駆動部 ： X軸真直度（0.05+1.5L／1000）μm 測定速度0.03～6.0㎜/s 8速測定力（触針） ： 0.75um触針（先端半径2um）測定パラメータ ： Ra, Rq, Ry, Rp, Rv, Rc, Rz, …
販売済
ニコン 超高分解能非接触三次元表面形状計測システム BW-A505（MM-800LU）
〇年式 ： 2014年〇主な仕様・ピエゾ駆動方式 ： レボルバ駆動・ピエゾ走査レンジ ： 100μm※測定は約90μｍ・XYZ軸駆動 ： 各手動※ピエゾ駆動部は電動・計測光学系 ： 白色二光束干渉計・二光束干渉対物レンズ ： 10、20、50、100×・ﾏｲｹﾙｿﾝ型干渉レンズ ： 2.5、5×※対物レンズ用単ホルダ付属（1本装着用）・視野確認用対物レン…
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アストロデザイン 解析用マニュアルプローバー SE-6003 管理番号08826
○主な仕様・ステージ移動量 ： X200mm、Y200mm・サブステージ移動量 ： X13mm、Y13mm・θ調整 ： 180°・Z移動量 ： 0~25mm（UP/DOWNストローク400um） ・チャックサイズ ： 標準チャック ～8インチ（φ200mm） ホットチャック ～8インチ（φ200mm）・ウェハ保持方式 ： 真空吸着方式・ホットチャック温度範囲 ： ～最高30…
ニコン 3D合成電動顕微鏡システム LV150NA 管理番号08848
観察法明視野、暗視野、微分干渉ステージストロークX方向±75mm、Y方向±50mm総合倍率50×（干渉レンズ）、50、100、200、500×鏡筒三眼鏡筒接眼レンズCFIUW 10×照明LV-UEPI2A 電動ユニバーサル反射照明装置対物レンズCF IC EPI Plan TI 5×※マイケルソン型二光束干渉レンズ、CFI TU Plan10×、CFI TU Plan ELWD 20、50× その…
島津製作所 疲労・耐久試験機 EMT-1KNV-50 管理番号08843
年式 ： 2016年容量 ： ±1KN ※連続負荷可能ストローク ： ±50㎜最大速度 ： 2m/s最大加振周波数 ： 200Hz上下方向空間調整 ： 手動クランプ、電動式昇降試験空間 ： 支柱間隔460㎜ 冶具取り付け間隔0～700㎜加振側ジグ最大質量 ： 1kg許容横力 ： 100N制御装置 ： 4830形制御装置制御対象 ： 試験力、ストローク重量 ： 本体約520㎏、パワーアン…
WIT 目視外観検査装置 IP-3000 管理番号08903
年 式 ： 2013年タイプ ： Mサイズ AOIリンク（VT-S720接続） 卓上機タイプ基板サイズ ： X寸法 50~330mm Y寸法 50~250mm 厚さ 0.4~5.0ｍｍ クリアランス 35ｍｍカメラ ： 真上 130万画素CMOS／斜め 300万画素CMOS 照 明 ： 蛍光灯各種入力 ： マウス、コンソールBOXPC（…
コニカミノルタ 分光放射照度計 CL-500A 管理番号70418
¥２６０，０００．－（送料／消費税別途） 照度計の階級：JIS C 1609－1 一般形AA級照度計に準拠測定波長範囲：360～780nm出力波長間隔：1nmスペクトル波長幅：約10nm(半値幅)測定範囲：0.1～100000lx (色度表示は 5lx以上)確度：Ev 指示値の±1digit , xy ±0.0015(10～100000lx)，xy ±0.002(5～10lx)表示モード…
プロセク社 硬さ試験機 エコーチップ３ 管理番号76011
年式 : 2014年式測定精度 : ±4HL 又は、±0.5％HL測定範囲（D形インパクト）: HV ： 81～955 HB ： 81～654 HRB ： 38～100 HRC ： 20～68 HS ： 18～103※使用するインパクト装置により異なります。試験方向 : 自動認識360°（DLインパクト装置を除く）内部記憶 : 100000データ保存通信 : USB、LAN、RS232C …
日本アビオニクス 放射温度計 サーモギアG30 管理番号76001
¥２００，０００．－（送料／消費税別途） 年式 ： 2013年式温度測定範囲 ： -20℃～350℃最小検知温度差 ： 0.2℃測定精度 ： ±2℃または読み値の±2％のいずれか大きい方測定波長（半値幅） ： 8～13μm視野角 ： 水平28°×垂直21°焦点範囲 ： 10cm～∞（測定距離50cm以上で温度測定精度を保証）フレーム時間 ： 8.5フレーム／秒表示装置 ： 2.7型LCD…
クラボウ 撹拌機 KK-V1000 管理番号08704
○標準容器 ： HDPE製1.1L専用容器○最大処理量 ： 1kg×2カップ○回転速度と段階数 ： 公転（9段階 、レベル1から9）自転(10段階、レベル0から9、公転の約0.0～0.94倍)※ただし、公転速度レベルにより制限有り○設定時間 ： 10～300秒×5ステップ○真空度設定 ： 目標真空度を任意設定○真空ポンプ到達圧力 ： 6.7Pa○実効排気速度 ： 200/240 L/min (50…
NSC プラスチックモールドIC開封器 PS103S 管理番号08652
¥４５０，０００．－（送料／消費税別途） 使用可能薬液：発煙硝酸、発煙硫酸、硫酸、混酸開封温度設定：20～250℃薬液流量設定：2～10ml/min開封時間設定：0～99min59secN2ガス用力：供給圧力 0.3Mpa 接続口径 1/8”Swagellok安全装置：漏液、ヒータ断線、センサ断線、過熱防止、 過電流ブレーカ、非常停止スイッチ外寸：本体 約W270×D…
ミツトヨ 高精度デジタル測長機 ライトマチック VL-50S 管理番号08640
¥２００，０００．－（送料／消費税別途） 測定範囲：0～50mm最小表示量：0.0001mmケーブル長：約1m外寸：測長部 約W250×D320×H500mm(スタンド含む) 表示部 約W180×D280×H90mm重量：測長部 約26kg(スタンド含む) 表示部 約2.6kg電源：AC 85～264V 50/60Hz 【機器ステータス】取扱説明書なし 【工業検査機…
マルコム タッキネステスター TK-1 管理番号08653
¥４８０，０００．－（送料／消費税別途） 測定範囲：0～500gf±2gf分解能：0.25gf侵入方式：定圧侵入方式 定量侵入方式 定点侵入方式プレス圧：-20～-500gfプレス時間：0.1～99.9s引き離し速度：1.0～10.0mm/s (定圧侵入方式/定量侵入方式) 2.0～600.0mm/min (定点侵入方式)侵入量：20～200um温度：室温＋1…
リガク 微小部X線応力測定装置 AutoMATEⅡ 管理番号08082
【仕様】Ｘ線発生装置部・定格出力 ： 3kV・定格管電圧 ： 20～50kV・定格管電流 ： 2～50mA・安全装置 ： 高電圧電源部異常、冷却水異常Ｘ線管球・形式 ： A-41-Cr・ターゲット ： Cr（標準）、Cu・最大出力 ： 2kW応力ゴニオメーター部・応力測定方法 ： 並傾法、側傾法・応力解析方法 ： sin2Ψ法・Ｘ線源-試料間距離 ： 265mm・試料-検出器間距離 ： 210mm…
アズワン 大型グローブボックス AS-800S 管理番号08178
¥１８０，０００．－（送料／消費税別途） 外寸(台及び配管含む)： 幅 約1000mm × 奥行 約730mm × 高さ 約1750mm本体外寸 ： 幅 約800mm × 奥行 約600mm × 高さ 約770mm副室外寸 ： 間口 約300mm × 奥行 約250mm × 高さ 約250mm開口部寸法 ： 横 約750mm × 縦 約380mm材質 ： 横本体枠組／ステンレス、窓部／ポ…
エミック 回転振動試験装置 EM-872 管理番号07935
¥２８０，０００．－（送料／消費税別途） 年式：2003年式振動発生機 (EM-872) ステージ径：φ200mm ステージ部取付穴：M6 25mmビッチ ステージ回転角度：約10° 冷却方式：強制空冷 外寸：約W345×D345×H200mm(突起部含まず) 質量：約51kgアンプ (371-A) 定格出力：110VA 出力電圧：20.0V 出力電流：5.5A 周波数範囲：2Hz～30…
販売済
日本アビオニクス ネットワークサーモグラフィ装置 S30W 管理番号06746
【特価販売】 ¥９０，０００．－（送料／消費税別途） 【仕様】・検出器 ： 2次元非冷却センサ（マイクロボロメータ）・検出器画素数 ： 160（H）×120（V）（画像外周3行、3列は仕様規定外）・測定温度範囲 ： -20～350℃・測定波長 ： 8～14μm・温度分解能 ： 0.2℃以下（at 30℃黒体）・測定視野角 ： 水平28°× 垂直21°（精度±10%）・空間分解能 ：…
クラボウ 遊星式撹拌機 MAZERUSTAR KK-1000W 管理番号08059
○年式 ： 2009年式○最大処理量 ： 1容器あたり約500mlかつ1kg（容器・アダプタ含む）○回転速度と段階数 ： 公転（10段階設定 、約230～1000rpm） 自転(10段階設定、公転の約0.0～1.0倍)○設定時間 ： 10～300秒×3ステップ 合計900以下 （10秒単位）○電源 ： 単相AC200V、50/60Hz 2.0kw○外形寸法 ： 約W570mm…
スガ試験機 45°燃焼性試験機 FL-45M 管理番号08008
¥５００，０００．－（送料／消費税別途） 【装置概要】45°に保持した試料にバーナー火炎をあて、ワークの炭化面積、炭化長、残炎時間、残じん時間などを測定し燃焼性を判定【電源】AC100V 50Hz 0.4A【装置寸法】W700×D260×H900ｍｍ 【機器ステータス】取扱説明書あり 【工業検査機器（電子・金属）】 【その他検査機器】 【理化学機器（バイオ生物）】 【その他…
ハムロンテック 電子デバイス用防水試験器 WPC6315P002/A/WO 管理番号07863
年式：2012年・リーク検出方式：空気加圧歪量測定方(歪検出方式)・最大ワーク寸法：約W310×D230×H30mm・測定ポイント：2箇所・測定圧力：10KPa～20KPa (設定分解能：±1KPa)・昇圧時間(最長)：約12S・測定時間：大リーク検出 1～99S 照リーク検出 1～999S (測定時間設定単位：1S)・小リーク検出判定値：0.1～99.9um (分解能：0.1um)・大リーク検…
壺坂電機 2軸中型加振機 V400-2A 管理番号07855
年式：2015年式最大搭載質量：5kg動作範囲：ピッチ±5deg ヨー±5degサイン振動 ･振幅 ±0.01～±5.00deg (設定は0.01deg単位) ･周波数0.1～15.0Hz (設定は0.1Hz単位) ･位相差 0～180degランダム振動 ･最大振幅 ±0.01～±2.00deg (設定は0.01deg単位) 任意波形振動 ･最大角度 ±5deg ･最小角度 ±0.000001de…
ハムロンテック 電子デバイス用防水試験機 WPC6200P005 管理番号07742
・ 検出方式 ： 空気圧利用による歪み測定方式・ テスト圧力 ： 10～50kPa・ 検出感度 ： L測定時1μm、S測定時0.1μm・ ワーク最大測定可能サイズ ： W200×D50×H30mm・ 供給圧力 ： 400kPa～700kPa・ 供給電源 ： AC100V・ 本体寸法 ： W200×D735×H515mm（突起物を含むサイズです。）・ 本体重量 ： 約35kg 【機器ステータス】…
オックスフォード 蛍光X線膜厚計 CMI 900 管理番号07631
年式：２００８年測定対象：原子番号22(Ti)～83(Bi) (原子番号21以下吸収法により測定可能)X線源：タングステンターゲット検出器：比例計数管コリメータ：○型=0.1mm □型=0.05×0.05mm試料観察：カラーCCD(40万画素)テーブル：サイズ 約600×500mm ：移動量 X=175mm Y=175mm Z=33mm 寸法：約 W…
