キーエンス 高精度形状測定システム KS-1100 管理番号09140
【本体：KS-1100】・ステージ可動範囲：XYZ:100mm, θ360°・ステージサイズ：Φ170㎜、180mm×180mm・ステージ耐荷重：1.5kgf (14.7N)・ステージ最大駆動速度：150mm/sec・ステージ最小移動分解能：0.1μm・ステージ駆動方式：リニアモータ・電源：AC 100±10 %、50/60Hz、200VA・重量：約20kg・外形寸法：W300×D450×H500…
ポニー工業 X線検査装置 Ω-90 管理番号08921
テーブルサイズ：320×370mmテーブル耐荷重(均等荷重時)：3kg最大管電圧：90KV 最大管電流 250μA 最大出力 10W幾何学的最大倍率：約30倍(視野角1.71×1.71mm)最大傾斜時幾何学的最大倍率：約22倍(視野角2.4×2.4mm)Ｘ線検出器傾斜角度：約50°外寸：W810×D875×H1130mm(PC･ﾓﾆﾀｰ含まず)重量：約350kg電源：AC 1φ 100V 50/6…
東京精密 表面粗さ計 サーフコム480A 管理番号08971
測定範囲/分解能 ： Z軸 800um/10nm、80um/1nm、8um/0.1nmX軸移動量 ： 300㎜※ワーク移動型駆動部駆動部 ： X軸真直度（0.05+1.5L／1000）μm 測定速度0.03～6.0㎜/s 8速測定力（触針） ： 0.75um触針（先端半径2um）測定パラメータ ： Ra, Rq, Ry, Rp, Rv, Rc, R…
島津製作所 マイクロビッカーズ硬度計 HMV-2T 管理番号08777
【仕様】・固定試験力 ： 98.07mN～19.61N（HV0.01～HV2）※9種類・負荷装置 ： 自動負荷方式・試験力保持時間 ： 5～999sec※秒単位で設定可能・圧 子 ： ダイヤモンド正四角すい圧子・対物レンズ ： 10×、40×・電動ﾚﾎﾞﾙﾊﾞ ： 有・外部制御 ： PCによる外部制御可能 ※ソフトインストール済みPC付属・本体外寸法 ： W370×D490×H5…
ニコン 超高分解能非接触三次元表面形状計測システム BW-A505（MM-800LU）
〇年式 ： 2014年〇主な仕様・ピエゾ駆動方式 ： レボルバ駆動・ピエゾ走査レンジ ： 100μm※測定は約90μｍ・XYZ軸駆動 ： 各手動※ピエゾ駆動部は電動・計測光学系 ： 白色二光束干渉計・二光束干渉対物レンズ ： 10、20、50、100×・ﾏｲｹﾙｿﾝ型干渉レンズ ： 2.5、5×※対物レンズ用単ホルダ付属（1本装着用）・視野確認用対物レン…
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アストロデザイン 解析用マニュアルプローバー SE-6003 管理番号08826
○主な仕様・ステージ移動量 ： X200mm、Y200mm・サブステージ移動量 ： X13mm、Y13mm・θ調整 ： 180°・Z移動量 ： 0~25mm（UP/DOWNストローク400um） ・チャックサイズ ： 標準チャック ～8インチ（φ200mm） ホットチャック ～8インチ（φ200mm）・ウェハ保持方式 ： 真空吸着方式・ホットチャック温度範囲 ： ～最高30…
ニコン 3D合成電動顕微鏡システム LV150NA 管理番号08848
観察法明視野、暗視野、微分干渉ステージストロークX方向±75mm、Y方向±50mm総合倍率50×（干渉レンズ）、50、100、200、500×鏡筒三眼鏡筒接眼レンズCFIUW 10×照明LV-UEPI2A 電動ユニバーサル反射照明装置対物レンズCF IC EPI Plan TI 5×※マイケルソン型二光束干渉レンズ、CFI TU Plan10×、CFI TU Plan ELWD 20、50× その…
島津製作所 疲労・耐久試験機 EMT-1KNV-50 管理番号08843
年式 ： 2016年容量 ： ±1KN ※連続負荷可能ストローク ： ±50㎜最大速度 ： 2m/s最大加振周波数 ： 200Hz上下方向空間調整 ： 手動クランプ、電動式昇降試験空間 ： 支柱間隔460㎜ 冶具取り付け間隔0～700㎜加振側ジグ最大質量 ： 1kg許容横力 ： 100N制御装置 ： 4830形制御装置制御対象 ： 試験力、ストローク重量 ： 本体約520㎏、パワーアン…
キーエンス ワンショット3D形状測定機 VR-3000 管理番号08917
・年 式 ： 2016年・商品構成 ： コントローラー VR-3000、ヘッド VR-3050（電動XYステージ仕様）・測定可能高さ ： 広視野モード10mm（±0.5mm）・表示分解能 ： 0.5μm・倍 率 ： 12、25、38、50×切換・デジタルズーム： １～4倍・測定精度 ： 高さ ±3μm、幅 ±5μm・繰り返し精度 ： 高さ 0.5μm、幅 1μm・作動距離 …
WIT 目視外観検査装置 IP-3000 管理番号08902
年 式 ： 2013年タイプ ： Mサイズ AOIリンク（VT-S720接続） 卓上機タイプ基板サイズ ： X寸法 50~330mm Y寸法 50~250mm 厚さ 0.4~5.0ｍｍ クリアランス 35ｍｍカメラ ： 真上 130万画素CMOS／斜め 300万画素CMOS 照 明 ： 蛍光灯各種入力 ： マウス、コンソールBOXPC（…
コニカミノルタ 分光放射照度計 CL-500A 管理番号70418
¥２６０，０００．－（送料／消費税別途） 照度計の階級：JIS C 1609－1 一般形AA級照度計に準拠測定波長範囲：360～780nm出力波長間隔：1nmスペクトル波長幅：約10nm(半値幅)測定範囲：0.1～100000lx (色度表示は 5lx以上)確度：Ev 指示値の±1digit , xy ±0.0015(10～100000lx)，xy ±0.002(5～10lx)表示モード…
トプコン 色彩輝度計 BM-7A 管理番号70411
¥２５０，０００．－（送料／消費税別途） ・受光素子 ： シリコンフォトダイオード・光学系 ： ファインダー視野:5°、対物レンズ:f=80mm F2.5・分光感度特性：CIE1931等色関数に近似（JIS Z 8724のルーター条件をクリア）・測定角 ： 2°/1°/0.2°/0.1°※切替え式・測定距離 ： 350mm～∞ (対物レンズ金物先端からの距離)・測定機能 ： x、…
プロセク社 硬さ試験機 エコーチップ３ 管理番号76011
年式 : 2014年式測定精度 : ±4HL 又は、±0.5％HL測定範囲（D形インパクト）: HV ： 81～955 HB ： 81～654 HRB ： 38～100 HRC ： 20～68 HS ： 18～103※使用するインパクト装置により異なります。試験方向 : 自動認識360°（DLインパクト装置を除く）内部記憶 : 100000データ保存通信 : USB、LAN、RS232C …
日本アビオニクス 放射温度計 サーモギアG30 管理番号76001
¥２００，０００．－（送料／消費税別途） 年式 ： 2013年式温度測定範囲 ： -20℃～350℃最小検知温度差 ： 0.2℃測定精度 ： ±2℃または読み値の±2％のいずれか大きい方測定波長（半値幅） ： 8～13μm視野角 ： 水平28°×垂直21°焦点範囲 ： 10cm～∞（測定距離50cm以上で温度測定精度を保証）フレーム時間 ： 8.5フレーム／秒表示装置 ： 2.7型LCD…
クラボウ 撹拌機 KK-V1000 管理番号08704
○標準容器 ： HDPE製1.1L専用容器○最大処理量 ： 1kg×2カップ○回転速度と段階数 ： 公転（9段階 、レベル1から9）自転(10段階、レベル0から9、公転の約0.0～0.94倍)※ただし、公転速度レベルにより制限有り○設定時間 ： 10～300秒×5ステップ○真空度設定 ： 目標真空度を任意設定○真空ポンプ到達圧力 ： 6.7Pa○実効排気速度 ： 200/240 L/min (50…
島津製作所 マイクロフォーカスX線透視装置 SMX-1000 管理番号08736
サンプル最大サイズ：350×400mm(推奨サンプル高：90mm以下)サンプル重量：最大5kg最大X線出力：X線管電圧 90KV X線管電流 250μA 定格出力 10W透視視野：約2.1～35mm(検査ステージ面にて) (フラットパネル検出器入力面において約W50×H50mm)解像度：JIMA RT RC-02 ミクロチャート5μmを分解外寸…
NSC プラスチックモールドIC開封器 PS103S 管理番号08652
¥４５０，０００．－（送料／消費税別途） 使用可能薬液：発煙硝酸、発煙硫酸、硫酸、混酸開封温度設定：20～250℃薬液流量設定：2～10ml/min開封時間設定：0～99min59secN2ガス用力：供給圧力 0.3Mpa 接続口径 1/8”Swagellok安全装置：漏液、ヒータ断線、センサ断線、過熱防止、 過電流ブレーカ、非常停止スイッチ外寸：本体 約W270×D…
ミツトヨ 高精度デジタル測長機 ライトマチック VL-50S 管理番号08640
¥２００，０００．－（送料／消費税別途） 測定範囲：0～50mm最小表示量：0.0001mmケーブル長：約1m外寸：測長部 約W250×D320×H500mm(スタンド含む) 表示部 約W180×D280×H90mm重量：測長部 約26kg(スタンド含む) 表示部 約2.6kg電源：AC 85～264V 50/60Hz 【機器ステータス】取扱説明書なし 【工業検査機…
マルコム タッキネステスター TK-1 管理番号08653
¥４８０，０００．－（送料／消費税別途） 測定範囲：0～500gf±2gf分解能：0.25gf侵入方式：定圧侵入方式 定量侵入方式 定点侵入方式プレス圧：-20～-500gfプレス時間：0.1～99.9s引き離し速度：1.0～10.0mm/s (定圧侵入方式/定量侵入方式) 2.0～600.0mm/min (定点侵入方式)侵入量：20～200um温度：室温＋1…
Veeco 白色干渉顕微鏡 NT1100 管理番号08654
・測定方式：位相シフト干渉方式、白色光垂直走査型干渉方式・測定能力：視野 非接触式３次元表面形状粗さ測定・対物レンズ:2.5x、50x・内部レンズ:0.5x、1.0ｘ、2.0x・光源：タングステンハロゲンランプ・試料ステージ:130×130mm 手動型ステージ・ステージ稼働範囲：Ｘ／Ｙ 約±50mm、先端/傾斜 約±4°・ディスプレイ：5インチモノクロモニター・垂直走査速度：7.2um/sec・側…
リガク 微小部X線応力測定装置 AutoMATEⅡ 管理番号08082
【仕様】Ｘ線発生装置部・定格出力 ： 3kV・定格管電圧 ： 20～50kV・定格管電流 ： 2～50mA・安全装置 ： 高電圧電源部異常、冷却水異常Ｘ線管球・形式 ： A-41-Cr・ターゲット ： Cr（標準）、Cu・最大出力 ： 2kW応力ゴニオメーター部・応力測定方法 ： 並傾法、側傾法・応力解析方法 ： sin2Ψ法・Ｘ線源-試料間距離 ： 265mm・試料-検出器間距離 ： 210mm…
アズワン 大型グローブボックス AS-800S 管理番号08178
¥１８０，０００．－（送料／消費税別途） 外寸(台及び配管含む)： 幅 約1000mm × 奥行 約730mm × 高さ 約1750mm本体外寸 ： 幅 約800mm × 奥行 約600mm × 高さ 約770mm副室外寸 ： 間口 約300mm × 奥行 約250mm × 高さ 約250mm開口部寸法 ： 横 約750mm × 縦 約380mm材質 ： 横本体枠組／ステンレス、窓部／ポ…
エミック 回転振動試験装置 EM-872 管理番号07935
¥２８０，０００．－（送料／消費税別途） 年式：2003年式振動発生機 (EM-872) ステージ径：φ200mm ステージ部取付穴：M6 25mmビッチ ステージ回転角度：約10° 冷却方式：強制空冷 外寸：約W345×D345×H200mm(突起部含まず) 質量：約51kgアンプ (371-A) 定格出力：110VA 出力電圧：20.0V 出力電流：5.5A 周波数範囲：2Hz～30…
日本アビオニクス ネットワークサーモグラフィ装置 S30W 管理番号06746
【特価販売】 ¥９０，０００．－（送料／消費税別途） 【仕様】・検出器 ： 2次元非冷却センサ（マイクロボロメータ）・検出器画素数 ： 160（H）×120（V）（画像外周3行、3列は仕様規定外）・測定温度範囲 ： -20～350℃・測定波長 ： 8～14μm・温度分解能 ： 0.2℃以下（at 30℃黒体）・測定視野角 ： 水平28°× 垂直21°（精度±10%）・空間分解能 ：…
コニカミノルタ 分光測色計 CM-3500d 管理番号07805
【特価販売】 ¥９０，０００．－（送料／消費税別途） 測定用光源 ： パルスキセノンランプ測定波長範囲 ： 400～700nm （波長間隔20nm）測定条件 ： 反射、透過測定径 ： φ30、φ8言語モード ： 日本語、英語、ドイツ語、フランス語、スペイン語、イタリア語電源 ： AC100 V （アダプタ使用時）重量 ： 約10kgインターフェース ： RS-232C【付属品】白色校正板…
キーエンス 高精度2次元レーザー変位センサ LJ-G5000 管理番号07770
¥２７０，０００．－（送料／消費税別途） ○年式 ： 2008年○コントローラー ： LJ-G5000・ヘッド接続台数 ： 最大2台（本装置には下記ヘッド1台のみ付属）・最小表示単位 ： 0.1um、0.001mm2、0.01°・最大表示範囲 ： ±99999.9mm、±999999mm2、±99999.9°・重量 ： 約1kg・外寸 ： 約W85×D140×H160mm ○ヘッド型式 …
クラボウ 遊星式撹拌機 MAZERUSTAR KK-1000W 管理番号08059
○年式 ： 2009年式○最大処理量 ： 1容器あたり約500mlかつ1kg（容器・アダプタ含む）○回転速度と段階数 ： 公転（10段階設定 、約230～1000rpm） 自転(10段階設定、公転の約0.0～1.0倍)○設定時間 ： 10～300秒×3ステップ 合計900以下 （10秒単位）○電源 ： 単相AC200V、50/60Hz 2.0kw○外形寸法 ： 約W570mm…
スガ試験機 45°燃焼性試験機 FL-45M 管理番号08008
¥５００，０００．－（送料／消費税別途） 【装置概要】45°に保持した試料にバーナー火炎をあて、ワークの炭化面積、炭化長、残炎時間、残じん時間などを測定し燃焼性を判定【電源】AC100V 50Hz 0.4A【装置寸法】W700×D260×H900ｍｍ 【機器ステータス】取扱説明書あり 【工業検査機器（電子・金属）】 【その他検査機器】 【理化学機器（バイオ生物）】 【その他…
SIIナノテクノロジー プローブ顕微鏡 NANOPICS 管理番号07865
【NPX100ﾍｯﾄﾞ】・深針駆動機構：垂直分解能 0.5nm 捜査範囲 画内（XY）500nm～800μm、垂直方向（Z）±10μm・試料ステージ：移動量 XYZ各方向10mm 試料形状 最大30mm角、厚み5mm・除振機構：内蔵・寸法：W211×D211×H210mm・重量：約8kg【Nanopics1000ｺﾝﾄﾛｰﾗｰ】・操作速度：12s…
ハムロンテック 電子デバイス用防水試験器 WPC6315P002/A/WO 管理番号07863
年式：2012年・リーク検出方式：空気加圧歪量測定方(歪検出方式)・最大ワーク寸法：約W310×D230×H30mm・測定ポイント：2箇所・測定圧力：10KPa～20KPa (設定分解能：±1KPa)・昇圧時間(最長)：約12S・測定時間：大リーク検出 1～99S 照リーク検出 1～999S (測定時間設定単位：1S)・小リーク検出判定値：0.1～99.9um (分解能：0.1um)・大リーク検…
壺坂電機 2軸中型加振機 V400-2A 管理番号07855
年式：2015年式最大搭載質量：5kg動作範囲：ピッチ±5deg ヨー±5degサイン振動 ･振幅 ±0.01～±5.00deg (設定は0.01deg単位) ･周波数0.1～15.0Hz (設定は0.1Hz単位) ･位相差 0～180degランダム振動 ･最大振幅 ±0.01～±2.00deg (設定は0.01deg単位) 任意波形振動 ･最大角度 ±5deg ･最小角度 ±0.000001de…
ハムロンテック 電子デバイス用防水試験機 WPC6200P005 管理番号07742
・ 検出方式 ： 空気圧利用による歪み測定方式・ テスト圧力 ： 10～50kPa・ 検出感度 ： L測定時1μm、S測定時0.1μm・ ワーク最大測定可能サイズ ： W200×D50×H30mm・ 供給圧力 ： 400kPa～700kPa・ 供給電源 ： AC100V・ 本体寸法 ： W200×D735×H515mm（突起物を含むサイズです。）・ 本体重量 ： 約35kg 【機器ステータス】…
アスカ― ゴム硬度計 管理番号07528
¥９０，０００．－（送料／消費税別途） 【定圧荷重器仕様】 ○測定圧：1000g ○測定点からの有効奥行寸法：70mm ○試料台有効寸法：W150×D140mm ○本体寸法：W150×D180×H430mm ○質 量：8.5kg【ゴム硬度計(C型)仕様】 〇測定目盛：0～100ポイント 〇押針形状：H2.54mm φ5.08mm半球 【機器ステータス】取扱説明書なしアスカーゴム硬…
ミツトヨ ロックウェル硬さ試験機 HR-523 管理番号07677
・試験硬さスケール ロックウェル ： HRA、HRD、HRC、HRF他 ﾛｯｸｳｪﾙｽｰﾊﾟ-ﾌｨｼｬﾙ ： HR15N、HR30N、HR45N、HR30W、HR30Y他 ブリネル ： HBW2.5／187.5、HBW1／10他・試験力機構 ： モーター駆動方式・試験速度 ： Low、Middle、High・試料寸法 ： 最大高さ250㎜、最大奥行150㎜（圧子軸から）・付属品 ： 大型スタ…
商談中
オックスフォード 蛍光X線膜厚計 CMI 900 管理番号07631
年式：２００８年測定対象：原子番号22(Ti)～83(Bi) (原子番号21以下吸収法により測定可能)X線源：タングステンターゲット検出器：比例計数管コリメータ：○型=0.1mm □型=0.05×0.05mm試料観察：カラーCCD(40万画素)テーブル：サイズ 約600×500mm ：移動量 X=175mm Y=175mm Z=33mm 寸法：約 W…
日本電子 エレメントアナライザ JSX-3202EV 管理番号06701
【特価販売】お問い合わせください年 式 ： 2009年検出元素範囲 ： 11（Na）～92（U）Ｘ線発生装置 ： 5～50kV、1ｍA、50Ｗターゲット ： Rhフィルタ ： 4種自動交換（オープン含め）コリメータ ： 1mmφ、3mmφ、7mmφ検 出 器 ： Si（Li）半導体検出器液体窒素 ： 3L 消費量1L／日試料室サイズ ： φ300mm×1…
コニカミノルタ CRTカラーアナライザー CA-100Plus 管理番号07546
【特価販売】 ¥３０，０００．－（送料／消費税別途） 受光部 ： 受光素子（シリコンフォトセル）測定径 ： φ21mm測定範囲 ： 輝度、色度 0.05～2000 cd/cm2表示 ： デジタル xyLv、XYZ、T△uvLv、u´v´Lv、RGB アナログ △x△y△Lv、R/G B/G △G、△G B/R G/R測定同期モード ： NTSC、PAL、EXT、UNIV、INT電源 …
日立テクノロジーアンドサービス 全自動落下試験装置 FIT-1800S 管理番号07611
・年式：2008年・対応ワーク寸法：W53×L112×D17mm・落下方向：平面・横・縦の3方向・落下高さ：自由落下換算10mm～1800mm 強制落下動作範囲：600～1800mm 自由落下動作範囲：10～1000mm 着地後瞬時把持動作：150mm以上 連続落下回数：65000回(入力設定MAX)・操作方法：タッチパネル対話式操作・外形：W900×H1980×D950mm・本体重量：約…
トプコン 色彩輝度計 BM-7 管理番号07545
【特価販売】 ¥７０，０００．－（送料／消費税別途） ・受光素子 ： シリコンフォトダイオード・光学系 ： ファインダー視野:5°、対物レンズ:f=80mm F2.5・分光感度特性：CIE1931等色関数に近似（JIS Z 8724のルーター条件をクリア）・測定角 ： 2°/1°/0.2°/0.1°※切替え式・測定距離 ： 350mm～∞ (対物レンズ金物先端からの距離)・測定機…
X-rite 分光測色計 i1Profiler 管理番号07238
¥２００，０００．－（送料／消費税別途） ・分光範囲：380 ～ 730 nm・分光出力：380 ～ 730 nm（10 nm 間隔）・光学分解能：10 nm<反射率測定>キャリブレーション：付属の白色セラミック校正板による手動キャリブレーション測定条件：ISO 13655: 2009測定条件「M0」（UV込み） ISO 13655: 2009測定条件「M1」（…
コニカミノルタ 分光放射輝度計 CS-1000A 管理番号07183
【特価販売】 ¥２５０，０００．－（送料／消費税別途） 年式：2006年式測定波長範囲：380～780nmスペクトル波長幅：5nm（半値幅）波長分解能：0.9nm／pixel表示波長間隔：1nm波長精度：±0.3nm（重心波長Hgランプ）測定角：1度（標準ﾚﾝｽﾞ、マクロレンズ）メモリ：測定値30ﾁｬﾝﾈﾙ、基準値20ﾁｬﾝﾈﾙ最短測定距離：362mm（標準ﾚﾝｽﾞ）、94mm（マクロレ…
トプコン 色彩輝度計 BM-5A 管理番号04716
【特価販売】 ¥８０，０００．－（送料／消費税別途） ・ 測定角 ： 2°/1°/0.2°/0.1°切替式・ 測定範囲 ： 0.0001～12000000 cd/㎡・ 光学系 ： ファインダー視野 5°、対物レンズ f=80mm F2.5・ 分光感度特性 ： CIE1931等色関数に近似・ 測定機能 ： x，y，L/u，v，L/X，Y，Z/Tc，duv，L/CIE 1976 L a b …
神津精機 高精度形状測定システム K2-310 管理番号06745
【特価販売】 ￥１，５００，０００．－（送料／消費税別途） ○年 式 ： 2011年○商品構成 ： レーザー変位センサー（LT-9030M／キーエンス製） 300mmストローク大型ステージ（ドライバー：SC-210） 制御用パソコン カメラ用モニター（ソニー製）○測定エリア ： X300×Y300（ｍｍ…
