工業検査機器（電子・金属）
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日立 分光蛍光光度計 F-7000 管理番号12837
【仕様】・波長範囲 ： 200～750nm（励起、蛍光共に）・光源 ： 150Wキセノンランプ・分光器 ： 無収差凹面回折格子900本/ｍｍ フレーズ波長300nm（励起側）、400nm（蛍光側）・測光方式 ： 単色光モニタ比演算方式・分解 ： 1.0nm（Hg輝線546.1nm時）・スリット ： 1.0,2.5,5,10,20nm（励起、蛍光共に）・波長走査速度 ： 30,60,24…
大塚電子 多検体ナノ粒子径測定システム nanoSAQLA 管理番号12833
【仕様】・光源 ： 半導体レーザダイオード・測定波長、光量出力 ： 660nm 、70 mW（クラス1レーザー） ・検出部 ： APD モジュール・測定原理 ： 動的光散乱法による粒子径測定・測定範囲 ： 0.6nm ～ 10μm・濃度範囲 ： 0.00001 ～ 40%・温度範囲 ： 0 ～ 90℃ （温度グラジエント機能あり）・サンプル容量 ： 角セル：1.2mL～、微量セル：20μL～・外寸…
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