大塚電子 濃厚系粒径アナライザー FPAR-1000 管理番号09362
【仕様】・計測粒子径 ： 3nm～5000nm・対応濃度範囲 ： 0.01～10％（濃厚系プローブ）・光源 ： 半導体レーザー・検出器 ： 光電子増倍管（フォトンカウンティング方式）・サンプル温調範囲 ： 10～70℃・温調方式 ： 電子式冷却素子、ヒーター・プローブ洗浄方式 ： 超音波洗浄・外寸法 ： W320xD507xH284mm・質量 ： 22 kg・電源 ： AC100V、50/60H…
ATAGO 多波長アッベ屈折計 DR-M2 管理番号09007
¥２５０，０００．－（送料／消費税別途） 【仕様】・干渉フィルター ： 589nm（D）、546nm（ｅ）・測定範囲（450nm） ： 屈折率1.3277～1.7379・測定範囲（589nm） ： 屈折率1.3000～1.7100・測定範囲（680nm） ： 屈折率1.2912～1.7011・測定範囲（1100nm） : 屈折率1.2746～1.6843・最小表示 ： 屈折率0.…
アズワン 大型グローブボックス AS-800S 管理番号08178
¥１８０，０００．－（送料／消費税別途） 外寸(台及び配管含む)： 幅 約1000mm × 奥行 約730mm × 高さ 約1750mm本体外寸 ： 幅 約800mm × 奥行 約600mm × 高さ 約770mm副室外寸 ： 間口 約300mm × 奥行 約250mm × 高さ 約250mm開口部寸法 ： 横 約750mm × 縦 約380mm材質 ： 横本体枠組／ステンレス、窓部／ポ…
オックスフォード 蛍光X線膜厚計 CMI 900 管理番号07631
年式：２００８年測定対象：原子番号22(Ti)～83(Bi) (原子番号21以下吸収法により測定可能)X線源：タングステンターゲット検出器：比例計数管コリメータ：○型=0.1mm □型=0.05×0.05mm試料観察：カラーCCD(40万画素)テーブル：サイズ 約600×500mm ：移動量 X=175mm Y=175mm Z=33mm 寸法：約 W…
日本電子 エレメントアナライザ JSX-3202EV 管理番号06701
【特価販売】お問い合わせください年 式 ： 2009年検出元素範囲 ： 11（Na）～92（U）Ｘ線発生装置 ： 5～50kV、1ｍA、50Ｗターゲット ： Rhフィルタ ： 4種自動交換（オープン含め）コリメータ ： 1mmφ、3mmφ、7mmφ検 出 器 ： Si（Li）半導体検出器液体窒素 ： 3L 消費量1L／日試料室サイズ ： φ300mm×1…
SIIナノテクノロジー／蛍光X線分析装置（HSモニター）／SEA1000A 管理番号06233
【特価販売】お問い合わせください測定元素 ： 原子番号13（Al）～92（U）試料形態 ： 固体、粉体、液体Ｘ線管 ： 管電圧15、50kV、管電流1mA検出器 ： Si半導体検出器（液体窒素不要）分析領域 ： １mmφ、５mmφ（自動切替）試料観察 ： カラーCCDカメラ試料室 ： W370×D320×H155（mm）ソフトウェア： X-rayｽﾃｰｼｮﾝ（ﾒｲﾝﾌﾟﾛｸﾞﾗﾑ）定性…
ナプソン 非接触シート抵抗率計 NC-60F/RG-100N 管理番号05914
【特価販売】 ¥９００，０００．－（送料／消費税別途） ・ 非接触渦電流プローブ移動による自動システム・ 測定対象 ： FPD基板上のITO膜、IZO膜、メタル膜など、太陽電池 （ガラス上の薄膜など）・ 測定方式 ： 渦電流方式 ・ プローブ部： 型式 NC-60F・ 測定範囲 ： シート抵抗率 0.5Ω/sq～20Ω/sq ・ ステージ部 ： 型式RG-100N`2…
島津製作所 蛍光X線分析装置 EDX-720 管理番号05136
【特価販売】お問い合わせください年式：2010年測定方法：エネルギー分散型測定対象：個体、液体、粉体測定範囲：11（Na）～92（U）コリメーター：10mm固定試料形状：最大300mmφ×H150mmX線発生部 X線管：Rhターゲット 電圧：5～50kV 電流：1～1,000μA 冷却方式：空冷検出器 型式：Si（Li）半導体検出器 液体窒素供給：測定時のみ 液体窒素消費量：1リットル／日 程度測…
商談中
