ATAGO 多波長アッベ屈折計 DR-M2 管理番号09007
¥250,000.-(送料/消費税別途) 【仕様】・干渉フィルター : 589nm(D)、546nm(e)・測定範囲(450nm) : 屈折率1.3277~1.7379・測定範囲(589nm) : 屈折率1.3000~1.7100・測定範囲(680nm) : 屈折率1.2912~1.7011・測定範囲(1100nm) : 屈折率1.2746~1.6843・最小表示 : 屈折率0.…
アズワン 大型グローブボックス AS-800S 管理番号08178
¥180,000.-(送料/消費税別途) 外寸(台及び配管含む): 幅 約1000mm × 奥行 約730mm × 高さ 約1750mm本体外寸 : 幅 約800mm × 奥行 約600mm × 高さ 約770mm副室外寸 : 間口 約300mm × 奥行 約250mm × 高さ 約250mm開口部寸法 : 横 約750mm × 縦 約380mm材質 : 横本体枠組/ステンレス、窓部/ポ…
オックスフォード 蛍光X線膜厚計 CMI 900 管理番号07631
年式:2008年測定対象:原子番号22(Ti)~83(Bi) (原子番号21以下吸収法により測定可能)X線源:タングステンターゲット検出器:比例計数管コリメータ:○型=0.1mm □型=0.05×0.05mm試料観察:カラーCCD(40万画素)テーブル:サイズ 約600×500mm :移動量 X=175mm Y=175mm Z=33mm 寸法:約 W…
日本電子 エレメントアナライザ JSX-3202EV 管理番号06701
【特価販売】お問い合わせください年 式 : 2009年検出元素範囲 : 11(Na)~92(U)X線発生装置 : 5~50kV、1mA、50Wターゲット : Rhフィルタ : 4種自動交換(オープン含め)コリメータ : 1mmφ、3mmφ、7mmφ検 出 器 : Si(Li)半導体検出器液体窒素 : 3L 消費量1L/日試料室サイズ : φ300mm×1…
SIIナノテクノロジー/蛍光X線分析装置(HSモニター)/SEA1000A 管理番号06233
【特価販売】お問い合わせください測定元素 : 原子番号13(Al)~92(U)試料形態 : 固体、粉体、液体X線管 : 管電圧15、50kV、管電流1mA検出器 : Si半導体検出器(液体窒素不要)分析領域 : 1mmφ、5mmφ(自動切替)試料観察 : カラーCCDカメラ試料室 : W370×D320×H155(mm)ソフトウェア: X-rayステーション(メインプログラム)定性…
ナプソン 非接触シート抵抗率計 NC-60F/RG-100N 管理番号05914
【特価販売】 ¥900,000.-(送料/消費税別途) ・ 非接触渦電流プローブ移動による自動システム・ 測定対象 : FPD基板上のITO膜、IZO膜、メタル膜など、太陽電池 (ガラス上の薄膜など)・ 測定方式 : 渦電流方式 ・ プローブ部: 型式 NC-60F・ 測定範囲 : シート抵抗率 0.5Ω/sq~20Ω/sq ・ ステージ部 : 型式RG-100N`2…
島津製作所 蛍光X線分析装置 EDX-720 管理番号05136
【特価販売】お問い合わせください年式:2010年測定方法:エネルギー分散型測定対象:個体、液体、粉体測定範囲:11(Na)~92(U)コリメーター:10mm固定試料形状:最大300mmφ×H150mmX線発生部 X線管:Rhターゲット 電圧:5~50kV 電流:1~1,000μA 冷却方式:空冷検出器 型式:Si(Li)半導体検出器 液体窒素供給:測定時のみ 液体窒素消費量:1リットル/日 程度測…