トプコン 色彩輝度計 BM-7Fast 管理番号09399
・光学系 ： ファインダー視野:5°、対物レンズ:f=80mm F2.5・測定角 ： 2°/1°/0.2°/0.1°※切替え式・測定距離 ： 350mm～∞ (対物レンズ金物先端からの距離)・測定機能 ： x、y、L （x、y： 色度座標、L：輝度） 及び±⊿ u'、v'、L （u'、v'： 色度座標、L：輝度） 及び±⊿ X、Y、Z （X、Y、Z： 三刺激値） 及び±…
日本マイクロニクス マニュアルプローバー MP-10 管理番号09152
○主な仕様・チャックサイズ：8インチ（φ200mm）・チャックステージ：エアーベアリング機構・ステージ移動量：約X220mm、Y270mm・サブステージ移動量：約X10mm、Y10mm・ウェハ保持方式：真空吸着方式・Z移動量：0~0.3～3.5mm（3段階）、＋約37mm・θ調整：約±25°（チャックの配線、配管により変動）・プローバー寸法：約W560×D770×H580mm※顕微鏡含む・シールド…
IMV 小型振動シュミレーター m060 管理番号09244
【構成】 ◎振動制御システム K2 ●実行用PC ●K2 IO Unit ●加振システム ・低騒音小型振動シミュレータ m060/MA1 (振動発生機、電力増幅器)【加振システム仕様】 加振力：正弦波 600N ランダム波 420Nrms 最大加速度：500m/s2 最大速度：1.6m/s 最大変位：30mmp-p 振幅数範囲：5～3000Hz 可動部質量：1…
日立 イオンミリング装置 E-3500 管理番号09284
方式：ペニング形 （3電極方式）放電電圧：0～4kV加速電圧：0～6kVイオンビーム径：約400um（半値幅）最大ミリングレート（参考値）：約100um/hステージ移動範囲：X＋1～-5mm、Y±10㎜ローテーション角度：±10°スイング：角度±25°、速度OFF＋5段階可変マスク移動範囲：X 0～＋3㎜、Y ±8㎜ポンプ：（メイン）ターボ分子ポンプ、（補助）ロータリーポンプ接続ガス：Arガス（マ…
島津製作所 マイクロフォーカスX線CTシステム SMX-225CT 管理番号09257
・Ｘ線管電圧 ： ～225kV（1kVステップ）・Ｘ線管電流 ： ～1000μA（10μAステップ）・X線検出器 ： ｲﾒｰｼﾞｲﾝﾃﾝｼﾌｧｲｱ（I.I）・最大試料サイズ ： φ300×H300mm、9kg（サンプル固定用冶具含む）・ステージ最大ストローク ： SOD軸680㎜、SID軸400～1000㎜、Z軸 300mm・最大CTスキャン領域 ： φ200×H300mm・電源 ： AC200V…
ニコン CNC画像測定システム NEXIV VMR-3020 管理番号09315
・光学倍率 ： 0．5×(9．33×7)、1×(2．33×1．75)、2×(2．33×1．75)（測定視野） 4×(1．165×0．875)、7．5×(0．622×0．467) ※（ ）はmm・総合倍率 ： 20～300×※タイプ1・ストローク ： X軸300 × Y軸200 × Z軸150（mm）・作動距離 ： 50mm・被検物重量： 最大20kg・観察カメラ ： カラー1／3型CCD・照 …
近日入荷予定
ミツトヨ CNC表面粗さ・輪郭形状測定機 CS-5000CNC 管理番号09282
装置概要 ： 表面粗さ、輪郭形状を一括測定可能な高精度触針式のCNC表面性状測定機年 式 ： 2018年主な仕様 ： ・X1軸 測定範囲200ｍｍ、分解能0.00625μm、指示精度（20℃）±（0.3+0.002L）μｍ ・Z1軸（検出器） 測定範囲12／24ｍｍ（標準／2倍スタイラス時）、分解能0.00625μm、指示精度（20℃）±（0.3+…
日立ハイテクサイエンス 蛍光X線膜圧計 FT110A 管理番号09281
年 式 ： 2016年測定対象元素 ： 原子番号22（Ti）～83（Bｉ）測定雰囲気 ： 大気ﾜｰｸﾃﾞｨｽﾀﾝｽ ： 9~89mmX線発生部 ： Wターゲット、管電圧 50ｋV、管電流 40~1000μAX線検出器 ： 比例計数管コリメータ ： ○型 0.05、0.1、0.2mm □型 0.025×0.4mmテーブル寸法 ： W240×D170mmX-ray …
ニコン 半導体検査顕微鏡 OPTIPHOT200 管理番号09032
¥３５０，０００．－（送料／消費税別途） 観察法明視野、暗視野ステージストロークX方向200㎜ × Y方向200㎜総合倍率50、100、200、500×鏡筒三眼鏡筒接眼レンズCFWN10×（視野数22）照明落射対物レンズCF IC Plan 5、10、20、50×BDその他光量、絞りは手元コントローラーで操作ステージ8インチ右下ハンドルステージ（ガラスステージ）※レボルバーは手動となりま…
東京精密 表面粗さ計 サーフコム480A 管理番号08971
測定範囲/分解能 ： Z軸 800um/10nm、80um/1nm、8um/0.1nmX軸移動量 ： 300㎜※ワーク移動型駆動部駆動部 ： X軸真直度（0.05+1.5L／1000）μm 測定速度0.03～6.0㎜/s 8速測定力（触針） ： 0.75um触針（先端半径2um）測定パラメータ ： Ra, Rq, Ry, Rp, Rv, Rc, Rz, …
商談中
ニコン 金属顕微鏡 ME600D 管理番号08816
観察法蛍光観察、明視野観察ステージストロークX75mm×Y50mm総合倍率50、100、200×鏡筒三眼鏡筒接眼レンズCFI 10×（視野数22）照明落射蛍光照明（水銀ランプ）対物レンズLU Plan BD 5、10、20×その他明視野観察時の光量は減光フィルターキューブ（常時）及びNDフィルターで調整ステージ右下ハンドル 【機器ステータス】取扱説明書なし 【蛍光フィルターブロック】 …
ニコン 超高分解能非接触三次元表面形状計測システム BW-A505（MM-800LU）
〇年式 ： 2014年〇主な仕様・ピエゾ駆動方式 ： レボルバ駆動・ピエゾ走査レンジ ： 100μm※測定は約90μｍ・XYZ軸駆動 ： 各手動※ピエゾ駆動部は電動・計測光学系 ： 白色二光束干渉計・二光束干渉対物レンズ ： 10、20、50、100×・ﾏｲｹﾙｿﾝ型干渉レンズ ： 2.5、5×※対物レンズ用単ホルダ付属（1本装着用）・視野確認用対物レン…
入荷しました
アストロデザイン 解析用マニュアルプローバー SE-6003 管理番号08826
○主な仕様・ステージ移動量 ： X200mm、Y200mm・サブステージ移動量 ： X13mm、Y13mm・θ調整 ： 180°・Z移動量 ： 0~25mm（UP/DOWNストローク400um） ・チャックサイズ ： 標準チャック ～8インチ（φ200mm） ホットチャック ～8インチ（φ200mm）・ウェハ保持方式 ： 真空吸着方式・ホットチャック温度範囲 ： ～最高30…
オリオン 精密空調機 PAP20A-SP 管理番号08107
・ 運転制御方式 ： ヒートポンプバランス制御・ 制御温度範囲 ： 18～30℃・ 冷却＋加熱能力（50Hz/60Hz） ： 9.4/10.5（7.2/8.0）kw・ 周囲温湿度範囲 ： 15～35℃ , 30～70%・ 定格処理風量 ： 30m3/min・ 最大機外制圧 ： 700Pa・ 制御空気吐出口 ： φ250・ 外形寸法 ： W770×D1150×H1660mm（突起物除く）・ 製品質量…
ニコン 3D合成電動顕微鏡システム LV150NA 管理番号08848
観察法明視野、暗視野、微分干渉ステージストロークX方向±75mm、Y方向±50mm総合倍率50×（干渉レンズ）、50、100、200、500×鏡筒三眼鏡筒接眼レンズCFIUW 10×照明LV-UEPI2A 電動ユニバーサル反射照明装置対物レンズCF IC EPI Plan TI 5×※マイケルソン型二光束干渉レンズ、CFI TU Plan10×、CFI TU Plan ELWD 20、50× その…
キーエンス ワンショット3D形状測定機 VR-3000 管理番号08917
・年 式 ： 2016年・商品構成 ： コントローラー VR-3000、ヘッド VR-3050（電動XYステージ仕様）・測定可能高さ ： 広視野モード10mm（±0.5mm）・表示分解能 ： 0.5μm・倍 率 ： 12、25、38、50×切換・デジタルズーム： １～4倍・測定精度 ： 高さ ±3μm、幅 ±5μm・繰り返し精度 ： 高さ 0.5μm、幅 1μm・作動距離 …
WIT 目視外観検査装置 IP-3000 管理番号08902
年 式 ： 2013年タイプ ： Mサイズ AOIリンク（VT-S720接続） 卓上機タイプ基板サイズ ： X寸法 50~330mm Y寸法 50~250mm 厚さ 0.4~5.0ｍｍ クリアランス 35ｍｍカメラ ： 真上 130万画素CMOS／斜め 300万画素CMOS 照 明 ： 蛍光灯各種入力 ： マウス、コンソールBOXPC（…
コニカミノルタ 分光放射照度計 CL-500A 管理番号70418
¥２６０，０００．－（送料／消費税別途） 照度計の階級：JIS C 1609－1 一般形AA級照度計に準拠測定波長範囲：360～780nm出力波長間隔：1nmスペクトル波長幅：約10nm(半値幅)測定範囲：0.1～100000lx (色度表示は 5lx以上)確度：Ev 指示値の±1digit , xy ±0.0015(10～100000lx)，xy ±0.002(5～10lx)表示モード…
トプコン 色彩輝度計 BM-7A 管理番号70411
¥２５０，０００．－（送料／消費税別途） ・受光素子 ： シリコンフォトダイオード・光学系 ： ファインダー視野:5°、対物レンズ:f=80mm F2.5・分光感度特性：CIE1931等色関数に近似（JIS Z 8724のルーター条件をクリア）・測定角 ： 2°/1°/0.2°/0.1°※切替え式・測定距離 ： 350mm～∞ (対物レンズ金物先端からの距離)・測定機能 ： x、…
販売済
島津製作所 マイクロフォーカスX線透視装置 SMX-1000 管理番号08736
サンプル最大サイズ：350×400mm(推奨サンプル高：90mm以下)サンプル重量：最大5kg最大X線出力：X線管電圧 90KV X線管電流 250μA 定格出力 10W透視視野：約2.1～35mm(検査ステージ面にて) (フラットパネル検出器入力面において約W50×H50mm)解像度：JIMA RT RC-02 ミクロチャート5μmを分解外寸…
販売済
NSC プラスチックモールドIC開封器 PS103S 管理番号08652
¥４５０，０００．－（送料／消費税別途） 使用可能薬液：発煙硝酸、発煙硫酸、硫酸、混酸開封温度設定：20～250℃薬液流量設定：2～10ml/min開封時間設定：0～99min59secN2ガス用力：供給圧力 0.3Mpa 接続口径 1/8”Swagellok安全装置：漏液、ヒータ断線、センサ断線、過熱防止、 過電流ブレーカ、非常停止スイッチ外寸：本体 約W270×D…
リガク 微小部X線応力測定装置 AutoMATEⅡ 管理番号08082
【仕様】Ｘ線発生装置部・定格出力 ： 3kV・定格管電圧 ： 20～50kV・定格管電流 ： 2～50mA・安全装置 ： 高電圧電源部異常、冷却水異常Ｘ線管球・形式 ： A-41-Cr・ターゲット ： Cr（標準）、Cu・最大出力 ： 2kW応力ゴニオメーター部・応力測定方法 ： 並傾法、側傾法・応力解析方法 ： sin2Ψ法・Ｘ線源-試料間距離 ： 265mm・試料-検出器間距離 ： 210mm…
エミック 回転振動試験装置 EM-872 管理番号07935
¥２８０，０００．－（送料／消費税別途） 年式：2003年式振動発生機 (EM-872) ステージ径：φ200mm ステージ部取付穴：M6 25mmビッチ ステージ回転角度：約10° 冷却方式：強制空冷 外寸：約W345×D345×H200mm(突起部含まず) 質量：約51kgアンプ (371-A) 定格出力：110VA 出力電圧：20.0V 出力電流：5.5A 周波数範囲：2Hz～30…
日本アビオニクス ネットワークサーモグラフィ装置 S30W 管理番号06746
【特価販売】 ¥９０，０００．－（送料／消費税別途） 【仕様】・検出器 ： 2次元非冷却センサ（マイクロボロメータ）・検出器画素数 ： 160（H）×120（V）（画像外周3行、3列は仕様規定外）・測定温度範囲 ： -20～350℃・測定波長 ： 8～14μm・温度分解能 ： 0.2℃以下（at 30℃黒体）・測定視野角 ： 水平28°× 垂直21°（精度±10%）・空間分解能 ：…
SIIナノテクノロジー プローブ顕微鏡 NANOPICS 管理番号07865
【NPX100ﾍｯﾄﾞ】・深針駆動機構：垂直分解能 0.5nm 捜査範囲 画内（XY）500nm～800μm、垂直方向（Z）±10μm・試料ステージ：移動量 XYZ各方向10mm 試料形状 最大30mm角、厚み5mm・除振機構：内蔵・寸法：W211×D211×H210mm・重量：約8kg【Nanopics1000ｺﾝﾄﾛｰﾗｰ】・操作速度：12s…
壺坂電機 2軸中型加振機 V400-2A 管理番号07855
年式：2015年式最大搭載質量：5kg動作範囲：ピッチ±5deg ヨー±5degサイン振動 ･振幅 ±0.01～±5.00deg (設定は0.01deg単位) ･周波数0.1～15.0Hz (設定は0.1Hz単位) ･位相差 0～180degランダム振動 ･最大振幅 ±0.01～±2.00deg (設定は0.01deg単位) 任意波形振動 ･最大角度 ±5deg ･最小角度 ±0.000001de…
オリンパス ウェハーローダー AL120 管理番号07691
【主な仕様】 適用ウエハ ： 3インチ固定 設置カセット数 ： 1台（供給、収納兼用） ウエハ搬送方式： ウエハ裏面真空吸着メカニカルアーム搬送 適合顕微鏡 ： OLYMPUS MX系 ステージ ： AL120-VS6 ステージ操作方法：XY粗微動及び360°回転機構付き手動ステージ(X方向粗動ｸﾗｯﾁ付き) ウエハ保持方法 ： 真空吸着（真空は搬送装置から供給）※別途ご用意くだ…
日立 プラズマ洗浄装置 SPC-100B 管理番号07659
【特価販売】 ¥１，５００，０００．－（送料／消費税別途） ・ 年 式 ： 2007年・ 電極構造 ： RIE、PE・ 高周波電源 ： 13.56Mhz、Max600W、RFオートマッチング・処理エリア ： 約□300mm・ 排気系 ： ロータリーポンプ・ 電源 ： 3相200V 50/60Hz・ ガス導入 ： O2、Ar 【機器ステータス】取扱説明書あり。前面パネルなし、試料投入は手動と…
オックスフォード 蛍光X線膜厚計 CMI 900 管理番号07631
年式：２００８年測定対象：原子番号22(Ti)～83(Bi) (原子番号21以下吸収法により測定可能)X線源：タングステンターゲット検出器：比例計数管コリメータ：○型=0.1mm □型=0.05×0.05mm試料観察：カラーCCD(40万画素)テーブル：サイズ 約600×500mm ：移動量 X=175mm Y=175mm Z=33mm 寸法：約 W…
日本電子 エレメントアナライザ JSX-3202EV 管理番号06701
【特価販売】お問い合わせください年 式 ： 2009年検出元素範囲 ： 11（Na）～92（U）Ｘ線発生装置 ： 5～50kV、1ｍA、50Ｗターゲット ： Rhフィルタ ： 4種自動交換（オープン含め）コリメータ ： 1mmφ、3mmφ、7mmφ検 出 器 ： Si（Li）半導体検出器液体窒素 ： 3L 消費量1L／日試料室サイズ ： φ300mm×1…
コニカミノルタ CRTカラーアナライザー CA-100Plus 管理番号07546
【特価販売】 ¥３０，０００．－（送料／消費税別途） 受光部 ： 受光素子（シリコンフォトセル）測定径 ： φ21mm測定範囲 ： 輝度、色度 0.05～2000 cd/cm2表示 ： デジタル xyLv、XYZ、T△uvLv、u´v´Lv、RGB アナログ △x△y△Lv、R/G B/G △G、△G B/R G/R測定同期モード ： NTSC、PAL、EXT、UNIV、INT電源 …
トプコン 色彩輝度計 BM-7 管理番号07545
【特価販売】 ¥７０，０００．－（送料／消費税別途） ・受光素子 ： シリコンフォトダイオード・光学系 ： ファインダー視野:5°、対物レンズ:f=80mm F2.5・分光感度特性：CIE1931等色関数に近似（JIS Z 8724のルーター条件をクリア）・測定角 ： 2°/1°/0.2°/0.1°※切替え式・測定距離 ： 350mm～∞ (対物レンズ金物先端からの距離)・測定機…
X-rite 分光測色計 i1Profiler 管理番号07238
¥２００，０００．－（送料／消費税別途） ・分光範囲：380 ～ 730 nm・分光出力：380 ～ 730 nm（10 nm 間隔）・光学分解能：10 nm<反射率測定>キャリブレーション：付属の白色セラミック校正板による手動キャリブレーション測定条件：ISO 13655: 2009測定条件「M0」（UV込み） ISO 13655: 2009測定条件「M1」（…
コニカミノルタ 分光放射輝度計 CS-1000A 管理番号07183
【特価販売】 ¥２５０，０００．－（送料／消費税別途） 年式：2006年式測定波長範囲：380～780nmスペクトル波長幅：5nm（半値幅）波長分解能：0.9nm／pixel表示波長間隔：1nm波長精度：±0.3nm（重心波長Hgランプ）測定角：1度（標準ﾚﾝｽﾞ、マクロレンズ）メモリ：測定値30ﾁｬﾝﾈﾙ、基準値20ﾁｬﾝﾈﾙ最短測定距離：362mm（標準ﾚﾝｽﾞ）、94mm（マクロレ…
トプコン 色彩輝度計 BM-5A 管理番号04716
【特価販売】 ¥８０，０００．－（送料／消費税別途） ・ 測定角 ： 2°/1°/0.2°/0.1°切替式・ 測定範囲 ： 0.0001～12000000 cd/㎡・ 光学系 ： ファインダー視野 5°、対物レンズ f=80mm F2.5・ 分光感度特性 ： CIE1931等色関数に近似・ 測定機能 ： x，y，L/u，v，L/X，Y，Z/Tc，duv，L/CIE 1976 L a b …
日立 プラズマ洗浄機 SPC-100（B+H） 管理番号06956
【特価販売】 ¥２，５００，０００．－（送料／消費税別途） ・ 年 式 ： 2011年・ 電極構造 ： RIE、PE・ 高周波電源 ： 13.56Mhz、Max600W、RFオートマッチング・ 排気系 ： ロータリーポンプ・ 電源 ： 3相200V 50/60Hz 【機器ステータス】取扱説明書あり 【半導体製造装置】 【ウエハ製造（前工程）】 【品管 品証 関連】 【その他…
神津精機 高精度形状測定システム K2-310 管理番号06745
【特価販売】 ￥１，０００，０００．－（送料／消費税別途） ○年 式 ： 2011年○商品構成 ： レーザー変位センサー（LT-9030M／キーエンス製） 300mmストローク大型ステージ（ドライバー：SC-210） 制御用パソコン カメラ用モニター（ソニー製）○測定エリア ： X300×Y300（ｍｍ…
SIIナノテクノロジー／蛍光X線分析装置（HSモニター）／SEA1000A 管理番号06233
【特価販売】お問い合わせください測定元素 ： 原子番号13（Al）～92（U）試料形態 ： 固体、粉体、液体Ｘ線管 ： 管電圧15、50kV、管電流1mA検出器 ： Si半導体検出器（液体窒素不要）分析領域 ： １mmφ、５mmφ（自動切替）試料観察 ： カラーCCDカメラ試料室 ： W370×D320×H155（mm）ソフトウェア： X-rayｽﾃｰｼｮﾝ（ﾒｲﾝﾌﾟﾛｸﾞﾗﾑ）定性…
ナック ハイスピードカメラ MEMRECAM fxRX-5 管理番号06037
【特価販売】 ¥３００，０００．－（送料／消費税別途） 【仕様】・撮影素子画素数 ： 510☓484ピクセル・フレームレート（510☓484） ： 100～500コマ/秒・記録時間 ： 209～9.8秒（録画速度、フレームサイズにより異なる）・メモリーサイズ ： 4GB・レンズマウント ： NFマウント・デジタル出力 ： Fibre Channel(1Gbps),100Base-TX(…
ナック ハイスピードカメラ MEMRECAM fx-6000 管理番号76006
【仕様】・撮影素子 ： CMOS白黒、カラー・撮影素子画素数 ： 512☓512ピクセル・データ/ピクセル ： 10bit/ピクセル・フレームレート（フルフレーム） ： 100～5000コマ/秒・フレームレート（標準フレーム） ： 100～6000コマ/秒・フレームレート（セグメントフレーム） ： 8000～70000コマ/秒・電子シャッタ ： OPEN～1/200,000秒・記録時間 ： 32…
ナプソン 非接触シート抵抗率計 NC-60F/RG-100N 管理番号05914
【特価販売】 ¥９００，０００．－（送料／消費税別途） ・ 非接触渦電流プローブ移動による自動システム・ 測定対象 ： FPD基板上のITO膜、IZO膜、メタル膜など、太陽電池 （ガラス上の薄膜など）・ 測定方式 ： 渦電流方式 ・ プローブ部： 型式 NC-60F・ 測定範囲 ： シート抵抗率 0.5Ω/sq～20Ω/sq ・ ステージ部 ： 型式RG-100N`2…
アポロウェーブ マニュアルプローバー α200LX 管理番号05268
【特価販売】 ¥４５０，０００．－（送料／消費税別途） 年式：2010年製ステージ可動範囲：X200mm、Y200mmサブステージ可動範囲：X±12.5mm、Y±12.5mmチャック寸法：φ210mmウェハ保持：真空吸着方式本体寸法：W609×D720×H420mm本体重量：約80kg実体顕微鏡：SZ61（接眼ﾚﾝｽﾞWHS20×/12.5、対物なし、ズーム0.67～4.5）顕微鏡照明：…
オンテック 加熱一体型リワークシステム RM-2500 管理番号04588
【特価販売】 ¥４００，０００．－（送料／消費税別途） ・2007年式 ・対応基板サイズ : 40×40㎜～460×370㎜（2kg以下） ・デバイスサイズ : 10～50㎜（20g以下） ・温度制御部 1)上部スポットヒーター : 1000W 2)下部スポットヒーター : 1000W 3)下部エリアヒター : 2000W 4)制御方式 …
