キーエンス 超深度形状測定顕微鏡(レーザー顕微鏡) VK-8510 管理番号11203
【仕様】・ 装 置 構 成 : 測定部(VK-8510)、コントローラ(VK-8500)、 モニタ、マウス、コンソール、取扱説明書・ レーザー光源 : 波長685nm、出力0.45mW(JISクラス2)・ 高さ測定範囲 : 7mm (使用対物レンズにて変動あり)・高さ方向最小測定分解能 : 0.01μm・ フレームメモリー : 映像用(カ…
コニカミノルタ 分光放射輝度計 CS-2000 管理番号11196
【仕様】 ・測定波長範囲:380~780nm ・スペクトル波長幅:5nm以下(半値幅) ・波長分解能:0.9nm/pixel ・表示波長間隔:1.0nm ・波長精度:±0.3nm(重心波長Hg-Cdランプ) ・測定角(切替式):1°、0.2°、0.1° ・最短測定距離:350mm(55mm) ・最小測定径:<1°>φ5mm(φ1mm):<0.2°>φ1mm(φ0.2mm):<0…
コニカミノルタ 分光放射輝度計 CS-2000 管理番号11195
【仕様】 ・測定波長範囲:380~780nm ・スペクトル波長幅:5nm以下(半値幅) ・波長分解能:0.9nm/pixel ・表示波長間隔:1.0nm ・波長精度:±0.3nm(重心波長Hg-Cdランプ) ・測定角(切替式):1°、0.2°、0.1° ・最短測定距離:350mm(55mm) ・最小測定径:<1°>φ5mm(φ1mm):<0.2°>φ1mm(φ0.2mm):<0…
島津製作所 ダイナミック超微小硬度計 DUH-211S 管理番号11108
○主な仕様【試験の種類】・圧子押し込み試験・負荷-除荷試験、繰返し試験・押し込み深さ設定試験 ・押し込み深さ設定負荷除荷試験・ステップ負荷試験・ステップ負荷-除荷試験【負荷装置】 ・負荷方式:電磁コイル式 ・試験力範囲:フルスケール0.1~1961mN(0.01~200?f)【押し込み深さ測定】 ・測定方法:差動トランス式 ・測定範囲:0~10μm ・変位計測定範囲…
レスカ ボンディングテスター PTR-1000 管理番号11106
・ 付属ロードセル:シェアLV25-500・ 測定項目:シェアテスト・ 測定スピード:0.01~1.0mm/sec・ ステージ稼動範囲:X軸±50mm、Y軸±50mm、回転(任意)・ ツール稼動範囲:Z軸50mm、回転±170°・ 外部出力:RS-232C、プリンタ、レコーダ、フットスイッチ・ 実体顕微鏡:ライカ製 S6 接眼レンズ10倍・ ワークホルダー稼働幅:X方向 約95mm Y方向 約95…
ベクターセミコン 8インチウェハ対応マニュアルプローバー MX-1000B 管理番号10920
○主な仕様 ・ステージ移動量:X軸 200mm、Y軸 200mm、θ軸 ±5° ・顕微鏡ステージ移動量:X軸 25mm、Y軸 25mm ・Z軸移動量:25mm(規定量上下移動レバー付き 3mm/300um) ・チャックサイズ:8インチ(φ200mm) ・ウェハ保持方式:真空吸着方式 ・プローバー外寸:約W600×D550×H700mm ・重量:約80㎏【商品構成】 ・プローバー本体 ・金属顕微鏡:…
トプコン 色彩輝度計 BM-7 管理番号10536
・受光素子 : シリコンフォトダイオード・光学系 : ファインダー視野:5°、対物レンズ:f=80mm F2.5・分光感度特性:CIE1931等色関数に近似(JIS Z 8724のルーター条件をクリア)・測定角 : 2°/1°/0.2°/0.1°※切替え式・測定距離 : 350mm~∞ (対物レンズ金物先端からの距離)・測定機能 : x、y、L (x、y: 色度座標、L:輝度) 及び…
トプコン 色彩輝度計 BM-7A 管理番号10535
¥200,000.-(送料/消費税別途) ・光学系 : ファインダー視野:5°、対物レンズ:f=80mm F2.5・測定角 : 2°/1°/0.2°/0.1°※切替え式・測定距離 : 350mm~∞ (対物レンズ金物先端からの距離)・測定機能 : x、y、L (x、y: 色度座標、L:輝度) ±⊿ u'、v'、L (u'、v': 色度座標、L:輝度) ±⊿ X、Y、…
日本マイクロニクス マニュアルプローバ 705A-WG2 管理番号10615
¥400,000.-(送料/消費税別途) ○主な仕様・チャックサイズ:6インチ(φ150mm)・ステージ移動量(粗動):約X315mm、Y165mm・ステージ移動量(微動):約X5mm、Y5mm・Z軸ステージストローク:0/0.3/3.5mm+37.5mm・θ軸ステージ回転角度:粗動 360° 、微動 5°・ウェハ保持方式:真空吸着方式・外寸:約W560×D560×H540mm・重量:本体 約…
伊原電子工業 白黒透過濃度計 TM-5 管理番号10738
測定項目:透過濃度測定径:φ3mm、φ2mm、φ1mm測定範囲:0.0-6.0D光学系:ANSI PH2.19(Specular-Diffuse)フィルタ特性:Visual光源:ハロゲンランプ受光器:フィルタ封入型フォトダイオード動作保証温度:5~40℃外部通信:RS-232C(9,600bps)電源:ACアダプタ: 9V-500mA 内蔵バッテリ:NiCdバッテリ 4.8V-800mAhオー…
エヌピイエス マイクロ波テストテーブル GT-1000R 管理番号10755
【構成】 ・システム本体 ステージ チャック ポジショナー 顕微鏡 ・卓上除振台 ・バキュームポンプ【仕様】 X-Yステージ:±40mm Zステージ:8mm可動 θローテーション チャックトップ:φ100mm ポジショナー:MODEL 600MRF 2台 顕微鏡:SZ40(オリンパス製) LED照明使用【設置寸法】 システム本体:約450×350mm 卓上除振台…
オムニフィジックス マニュアルプローバ SE-6003A 管理番号10619
○主な仕様・ステージ移動量 : X200mm、Y200mm・サブステージ移動量 : X13mm、Y13mm・試料台ローテーション : 粗動180度、微動10度・プローブとキャリアの移動量 : 0~25mm・プローブとキャリアUP/DOWNストローク : コンタクトからセパレード400μm・チャックサイズ : ~8インチ(φ200mm)・ウェハ保持方式 : 真空吸着方式・プローバー外寸法 : …
日本マイクロニクス マニュアルプローバー MP-10 管理番号10723
○主な仕様 ・チャックサイズ:8インチ(φ200mm) ・チャックステージ:エアーベアリング機構 ・ステージ移動量:約X220mm、Y270mm ・サブステージ移動量:約X10mm、Y10mm ・ウェハ保持方式:真空吸着方式 ・Z移動量:0~0.3~3.5mm(3段階)、+約37mm ・θ調整:約±25°(チャックの配線、配管により変動) ・外寸:約W560×D77…
駿河精機 マイクロマニピュレーターシステム M300シリーズ 管理番号10582
【構成・仕様】 ・マニュピレータ(左右アーム):稼働範囲(X方向約15mm、Y方向約15mm、Z方向約30mm) ・XYステージ:サイズ約W160×D120mm:稼働範囲(X方向約80mm、Y方向約105mm) ・手動回転ステージ ・モーターコントローラー:型式M331(左右アーム用、XYステージ) ・ハンディターミナル ・パソコン(OS:winXP) ・モニター ・ズーム顕微鏡(ユニオン光学製)…
ビューラー 真空含侵装置 CAST N' VAC1000 管理番号10490
¥300,000.ー(送料/消費税別途)構成・回転ターンテーブル内蔵チャンバー・真空ポンプ・真空計(-100KPa)電源・チャンバー:単相220V 50Hz・真空ポンプ:単相220-230V 50/60Hz外寸・重量・チャンバー:約W330×D280×H400mm・約5Kg・真空ポンプ:約W150×D300×H150mm・約13Kg 【機器ステータス】取扱説明書なし 【顕微鏡】 【関…
日立ハイテクサイエンス 蛍光X線分析装置 SEA1000A 管理番号10048
¥500,000.-(送料/消費税別途)測定元素 : 原子番号13(Al)~92(U)試料形態 : 固体、粉体、液体X線管 : 管電圧15、50kV、管電流1mA検出器 : Si半導体検出器(液体窒素不要)分析領域 : 1、5mmφ(手動選択)試料観察 : カラーCCDカメラ試料室 : W370×D320×H155(mm)ソフトウェア: X-rayステーション(メインプログ…
島津製作所 マイクロフォーカスX線CTシステム SMX-225CT FPD 管理番号09808
・X線管電圧 : ~225kV(1kVステップ)・X線管電流 : ~1000μA(10μAステップ)・X線検出器 : フラットパネル検出器(FPD)・最大試料サイズ : φ350×H300㎜、9kg(サンプル固定用冶具含む)・ステージ最大ストローク : SOD軸690㎜、SID軸400~1000㎜、Z軸 300㎜・最大CTスキャン領域 : φ250㎜・スキャン方式 : ノーマル、ハーフ、オフセット…
販売済
アストロデザイン 解析用マニュアルプローバー SE-6003(チラー付属) 管理番号08825
○主な仕様・ステージ移動量 : X200mm、Y200mm・サブステージ移動量 : X13mm、Y13mm・チャックサイズ : 標準チャック ~8インチ 低温チャック ~8インチ・ウェハ保持方式 : 真空吸着方式・設定温度:-40℃~+125℃(冷却媒体:水。エタノール混合溶液)・顕微鏡サポートタワーチルド角度 : 水平に対して約10度・プローバー外寸法 : 約W440×D7…
アストロデザイン 解析用マニュアルプローバー SE-6003 管理番号08824
【特価販売】¥400,000.-(送料/消費税別途)○主な仕様・ステージ移動量 : X200mm、Y200mm・サブステージ移動量 : X13mm、Y13mm・θ調整 : 180°・Z移動量 : 0~25mm(UP/DOWNストローク400um) ・チャックサイズ : 標準チャック ~8インチ(φ200mm) ホットチャック ~8インチ(φ200mm)・ウェハ保持方式 : …
コニカミノルタ 分光放射輝度計 CS-1000A 管理番号07184
【特価販売】¥280,000.-(送料/消費税別途)測定波長範囲:380~780nmスペクトル波長幅:5nm(半値幅)波長分解能:0.9nm/pixel表示波長間隔:1nm波長精度:±0.3nm(重心波長Hgランプ)測定角:1度(標準レンズ、マクロレンズ)メモリ:測定値30チャンネル、基準値20チャンネル最短測定距離:362mm(標準レンズ)、94mm(マクロレンズ)最小測定径:7.9mm(標…
トプコン 色彩輝度計 BM-7Fast 管理番号09399
¥120,000.-(送料/消費税別途)・光学系 : ファインダー視野:5°、対物レンズ:f=80mm F2.5・測定角 : 2°/1°/0.2°/0.1°※切替え式・測定距離 : 350mm~∞ (対物レンズ金物先端からの距離)・測定機能 : x、y、L (x、y: 色度座標、L:輝度) 及び±⊿ u'、v'、L (u'、v': 色度座標、L:輝度) 及び±⊿ X、Y…
アストロデザイン 解析用マニュアルプローバー SE-6003 管理番号08826
○主な仕様・ステージ移動量 : X200mm、Y200mm・サブステージ移動量 : X13mm、Y13mm・θ調整 : 180°・Z移動量 : 0~25mm(UP/DOWNストローク400um) ・チャックサイズ : 標準チャック ~8インチ(φ200mm) ホットチャック ~8インチ(φ200mm)・ウェハ保持方式 : 真空吸着方式・ホットチャック温度範囲 : ~最高30…
オリオン 精密空調機 PAP20A-SP 管理番号08107
・ 年式 : 2014年・ 運転制御方式 : ヒートポンプバランス制御・ 制御温度範囲 : 18~30℃・ 冷却+加熱能力(50Hz/60Hz) : 9.4/10.5(7.2/8.0)kw・ 周囲温度範囲 : 15~35℃・ 周囲湿度範囲 : 30~70%・ 定格処理風量 : 30m3/min・ 最大機外制圧 : 700Pa・ 制御空気吐出口 : φ250・ 外形寸法 : W770×D1…
WIT 目視外観検査装置 IP-3000 管理番号08903
年 式 : 2013年タイプ : Mサイズ AOIリンク(VT-S720接続) 卓上機タイプ基板サイズ : X寸法 50~330mm Y寸法 50~250mm 厚さ 0.4~5.0mm クリアランス 35mmカメラ : 真上 130万画素CMOS/斜め 300万画素CMOS 照 明 : 蛍光灯各種入力 : マウス、コンソールBOXPC(…
リガク 微小部X線応力測定装置 AutoMATEⅡ 管理番号08082
【仕様】X線発生装置部・定格出力 : 3kV・定格管電圧 : 20~50kV・定格管電流 : 2~50mA・安全装置 : 高電圧電源部異常、冷却水異常X線管球・形式 : A-41-Cr・ターゲット : Cr(標準)、Cu・最大出力 : 2kW応力ゴニオメーター部・応力測定方法 : 並傾法、側傾法・応力解析方法 : sin2Ψ法・X線源-試料間距離 : 265mm・試料-検出器間距離 : 210mm…
日本アビオニクス ネットワークサーモグラフィ装置 S30W 管理番号06746
【特価販売】 ¥90,000.-(送料/消費税別途) 【仕様】・検出器 : 2次元非冷却センサ(マイクロボロメータ)・検出器画素数 : 160(H)×120(V)(画像外周3行、3列は仕様規定外)・測定温度範囲 : -20~350℃・測定波長 : 8~14μm・温度分解能 : 0.2℃以下(at 30℃黒体)・測定視野角 : 水平28°× 垂直21°(精度±10%)・空間分解能 :…
壺坂電機 2軸中型加振機 V400-2A 管理番号07855
【特価販売】¥600,000.-(送料/消費税別途)年式:2015年式最大搭載質量:5kg動作範囲:ピッチ±5deg ヨー±5degサイン振動 ・振幅 ±0.01~±5.00deg (設定は0.01deg単位) ・周波数0.1~15.0Hz (設定は0.1Hz単位) ・位相差 0~180degランダム振動 ・最大振幅 ±0.01~±2.00deg (設定は0.01deg単位) 任意波形振動 ・最大…
神津精機 高精度形状測定システム K2-310 管理番号06745
【特価販売】 ¥1,000,000.-(送料/消費税別途) ○年 式 : 2011年○商品構成 : レーザー変位センサー(LT-9030M/キーエンス製) 300mmストローク大型ステージ(ドライバー:SC-210) 制御用パソコン カメラ用モニター(ソニー製)○測定エリア : X300×Y300(mm…
ナック ハイスピードカメラ MEMRECAM fxRX-5 管理番号06037
【特価販売】 ¥300,000.-(送料/消費税別途) 【仕様】・撮影素子画素数 : 510☓484ピクセル・フレームレート(510☓484) : 100~500コマ/秒・記録時間 : 209~9.8秒(録画速度、フレームサイズにより異なる)・メモリーサイズ : 4GB・レンズマウント : NFマウント・デジタル出力 : Fibre Channel(1Gbps),100Base-TX(…
ナプソン 非接触シート抵抗率計 NC-60F/RG-100N 管理番号05914
【特価販売】 ¥900,000.-(送料/消費税別途) ・ 非接触渦電流プローブ移動による自動システム・ 測定対象 : FPD基板上のITO膜、IZO膜、メタル膜など、太陽電池 (ガラス上の薄膜など)・ 測定方式 : 渦電流方式 ・ プローブ部: 型式 NC-60F・ 測定範囲 : シート抵抗率 0.5Ω/sq~20Ω/sq ・ ステージ部 : 型式RG-100N`2…
オンテック 加熱一体型リワークシステム RM-2500 管理番号04588
【特価販売】 ¥400,000.-(送料/消費税別途) ・2007年式 ・対応基板サイズ : 40×40㎜~460×370㎜(2kg以下) ・デバイスサイズ : 10~50㎜(20g以下) ・温度制御部 1)上部スポットヒーター : 1000W 2)下部スポットヒーター : 1000W 3)下部エリアヒター : 2000W 4)制御方式 …