キーエンス 超深度形状測定顕微鏡（レーザー顕微鏡） VK-8510 管理番号11203
【仕様】・ 装 置 構 成 ： 測定部（VK-8510）、コントローラ（VK-8500）、 モニタ、マウス、コンソール、取扱説明書・ レーザー光源 ： 波長685nm、出力0.45mW（JISクラス2）・ 高さ測定範囲 ： ７mm （使用対物レンズにて変動あり）・高さ方向最小測定分解能 ： 0.01μm・ フレームメモリー ： 映像用（カ…
コニカミノルタ 分光放射輝度計 CS-2000 管理番号11196
【仕様】 ・測定波長範囲：380～780nm ・スペクトル波長幅:5nm以下（半値幅） ・波長分解能：0.9nm/pixel ・表示波長間隔：1.0nm ・波長精度：±0.3nm（重心波長Hg-Cdランプ） ・測定角（切替式）：1°、0.2°、0.1° ・最短測定距離：350mm（55mm) ・最小測定径：<1°>φ5mm(φ1mm)：<0.2°>φ1mm(φ0.2mm)：<0…
コニカミノルタ 分光放射輝度計 CS-2000 管理番号11195
【仕様】 ・測定波長範囲：380～780nm ・スペクトル波長幅:5nm以下（半値幅） ・波長分解能：0.9nm/pixel ・表示波長間隔：1.0nm ・波長精度：±0.3nm（重心波長Hg-Cdランプ） ・測定角（切替式）：1°、0.2°、0.1° ・最短測定距離：350mm（55mm) ・最小測定径：<1°>φ5mm(φ1mm)：<0.2°>φ1mm(φ0.2mm)：<0…
島津製作所 ダイナミック超微小硬度計 DUH-211S 管理番号11108
○主な仕様【試験の種類】・圧子押し込み試験・負荷－除荷試験、繰返し試験・押し込み深さ設定試験 ・押し込み深さ設定負荷除荷試験・ステップ負荷試験・ステップ負荷－除荷試験【負荷装置】 ・負荷方式：電磁コイル式 ・試験力範囲：フルスケール0.1~1961mN（0.01~200?f）【押し込み深さ測定】 ・測定方法：差動トランス式 ・測定範囲：0~10μｍ ・変位計測定範囲…
レスカ ボンディングテスター PTR-1000 管理番号11106
・ 付属ロードセル：シェアLV25-500・ 測定項目：シェアテスト・ 測定スピード：0.01～1.0mm/sec・ ステージ稼動範囲：X軸±50mm、Y軸±50mm、回転（任意）・ ツール稼動範囲：Z軸50mm、回転±170°・ 外部出力：RS-232C、プリンタ、レコーダ、フットスイッチ・ 実体顕微鏡：ライカ製 S６ 接眼レンズ10倍・ ワークホルダー稼働幅：X方向 約95mm Y方向 約95…
ベクターセミコン 8インチウェハ対応マニュアルプローバー MX-1000B 管理番号10920
○主な仕様 ・ステージ移動量：X軸 200mm、Y軸 200mm、θ軸 ±5° ・顕微鏡ステージ移動量：X軸 25mm、Y軸 25mm ・Z軸移動量：25mm（規定量上下移動レバー付き 3mm/300um） ・チャックサイズ：8インチ（φ200mm） ・ウェハ保持方式：真空吸着方式 ・プローバー外寸：約W600×D550×H700mm ・重量：約80㎏【商品構成】 ・プローバー本体 ・金属顕微鏡：…
トプコン 色彩輝度計 BM-7 管理番号10536
・受光素子 ： シリコンフォトダイオード・光学系 ： ファインダー視野:5°、対物レンズ:f=80mm F2.5・分光感度特性：CIE1931等色関数に近似（JIS Z 8724のルーター条件をクリア）・測定角 ： 2°/1°/0.2°/0.1°※切替え式・測定距離 ： 350mm～∞ (対物レンズ金物先端からの距離)・測定機能 ： x、y、L （x、y： 色度座標、L：輝度） 及び…
トプコン 色彩輝度計 BM-7A 管理番号10535
￥２００，０００．－（送料／消費税別途） ・光学系 ： ファインダー視野:5°、対物レンズ:f=80mm F2.5・測定角 ： 2°/1°/0.2°/0.1°※切替え式・測定距離 ： 350mm～∞ (対物レンズ金物先端からの距離)・測定機能 ： x、y、L （x、y： 色度座標、L：輝度） ±⊿ u'、v'、L （u'、v'： 色度座標、L：輝度） ±⊿ X、Y、…
日本マイクロニクス マニュアルプローバ 705A-WG2 管理番号10615
￥４００，０００．－（送料／消費税別途） ○主な仕様・チャックサイズ：6インチ（φ150mm）・ステージ移動量(粗動)：約X315mm、Y165mm・ステージ移動量(微動)：約X5mm、Y5mm・Z軸ステージストローク：0／0.3／3.5mm＋37.5mm・θ軸ステージ回転角度：粗動 360° 、微動 5°・ウェハ保持方式：真空吸着方式・外寸：約W560×D560×H540mm・重量：本体 約…
伊原電子工業 白黒透過濃度計 TM-5 管理番号10738
測定項目：透過濃度測定径：φ3mm、φ2mm、φ1mm測定範囲：0.0-6.0D光学系：ANSI PH2.19(Specular-Diffuse)フィルタ特性：Visual光源：ハロゲンランプ受光器：フィルタ封入型フォトダイオード動作保証温度：5～40℃外部通信：RS-232C(9,600bps)電源：ACアダプタ： 9V-500mA 内蔵バッテリ：NiCdバッテリ 4.8V-800mAhオー…
エヌピイエス マイクロ波テストテーブル GT-1000R 管理番号10755
【構成】 ・システム本体 ステージ チャック ポジショナー 顕微鏡 ・卓上除振台 ・バキュームポンプ【仕様】 X-Yステージ：±40mm Zステージ：8mm可動 θローテーション チャックトップ：φ100mm ポジショナー：MODEL 600MRF 2台 顕微鏡：SZ40(ｵﾘﾝﾊﾟｽ製) LED照明使用【設置寸法】 システム本体：約450×350mm 卓上除振台…
オムニフィジックス マニュアルプローバ SE-6003A 管理番号10619
○主な仕様・ステージ移動量 ： X200mm、Y200mm・サブステージ移動量 ： X13mm、Y13mm・試料台ローテーション ： 粗動180度、微動10度・プローブとキャリアの移動量 ： 0~25mm・プローブとキャリアUP/DOWNストローク ： コンタクトからセパレード400μm・チャックサイズ ： ～8インチ（φ200mm）・ウェハ保持方式 ： 真空吸着方式・プローバー外寸法 ： …
日本マイクロニクス マニュアルプローバー MP-10 管理番号10723
○主な仕様 ・チャックサイズ：8インチ（φ200mm） ・チャックステージ：エアーベアリング機構 ・ステージ移動量：約X220mm、Y270mm ・サブステージ移動量：約X10mm、Y10mm ・ウェハ保持方式：真空吸着方式 ・Z移動量：0~0.3～3.5mm（3段階）、＋約37mm ・θ調整：約±25°（チャックの配線、配管により変動） ・外寸：約W560×D77…
駿河精機 マイクロマニピュレーターシステム M300シリーズ 管理番号10582
【構成・仕様】 ・マニュピレータ(左右アーム)：稼働範囲(X方向約15mm、Y方向約15mm、Z方向約30mm） ・XYステージ：サイズ約W160×D120mm：稼働範囲(X方向約80mm、Y方向約105mm） ・手動回転ステージ ・モーターコントローラー：型式M331（左右アーム用、XYステージ） ・ハンディターミナル ・パソコン(OS：winXP) ・モニター ・ズーム顕微鏡(ユニオン光学製)…
ビューラー 真空含侵装置 CAST N' VAC1000 管理番号10490
￥３００，０００．ー(送料／消費税別途)構成・回転ターンテーブル内蔵チャンバー・真空ポンプ・真空計(-100KPa)電源・チャンバー：単相220V 50Hz・真空ポンプ：単相220-230V 50/60Hz外寸・重量・チャンバー：約W330×D280×H400mm・約5Kg・真空ポンプ：約W150×D300×H150mm・約13Kg 【機器ステータス】取扱説明書なし 【顕微鏡】 【関…
日立ハイテクサイエンス 蛍光X線分析装置 SEA1000A 管理番号10048
¥５００，０００．－（送料／消費税別途）測定元素 ： 原子番号13（Al）～92（U）試料形態 ： 固体、粉体、液体Ｘ線管 ： 管電圧15、50kV、管電流1mA検出器 ： Si半導体検出器（液体窒素不要）分析領域 ： 1、５mmφ（手動選択）試料観察 ： カラーCCDカメラ試料室 ： W370×D320×H155（mm）ソフトウェア： X-rayｽﾃｰｼｮﾝ（ﾒｲﾝﾌﾟﾛｸﾞ…
島津製作所 マイクロフォーカスX線CTシステム SMX-225CT FPD 管理番号09808
・Ｘ線管電圧 ： ～225kV（1kVステップ）・Ｘ線管電流 ： ～1000μA（10μAステップ）・X線検出器 ： フラットパネル検出器（FPD)・最大試料サイズ ： φ350×H300㎜、9kg（サンプル固定用冶具含む）・ステージ最大ストローク ： SOD軸690㎜、SID軸400～1000㎜、Z軸 300㎜・最大CTスキャン領域 ： φ250㎜・スキャン方式 ： ノーマル、ハーフ、オフセット…
販売済
アストロデザイン 解析用マニュアルプローバー SE-6003(チラー付属) 管理番号08825
○主な仕様・ステージ移動量 ： X200mm、Y200mm・サブステージ移動量 ： X13mm、Y13mm・チャックサイズ ： 標準チャック ～8インチ 低温チャック ～8インチ・ウェハ保持方式 ： 真空吸着方式・設定温度：-40℃～+125℃(冷却媒体：水。エタノール混合溶液)・顕微鏡サポートタワーチルド角度 ： 水平に対して約10度・プローバー外寸法 ： 約W440×D7…
アストロデザイン 解析用マニュアルプローバー SE-6003 管理番号08824
【特価販売】￥４００，０００．－（送料／消費税別途）○主な仕様・ステージ移動量 ： X200mm、Y200mm・サブステージ移動量 ： X13mm、Y13mm・θ調整 ： 180°・Z移動量 ： 0~25mm（UP/DOWNストローク400um） ・チャックサイズ ： 標準チャック ～8インチ（φ200mm） ホットチャック ～8インチ（φ200mm）・ウェハ保持方式 ： …
コニカミノルタ 分光放射輝度計 CS-1000A 管理番号07184
【特価販売】¥２８０，０００．－（送料／消費税別途）測定波長範囲：380～780nmスペクトル波長幅：5nm（半値幅）波長分解能：0.9nm／pixel表示波長間隔：1nm波長精度：±0.3nm（重心波長Hgランプ）測定角：1度（標準ﾚﾝｽﾞ、マクロレンズ）メモリ：測定値30ﾁｬﾝﾈﾙ、基準値20ﾁｬﾝﾈﾙ最短測定距離：362mm（標準ﾚﾝｽﾞ）、94mm（マクロレンズ）最小測定径：7.9mm（標…
トプコン 色彩輝度計 BM-7Fast 管理番号09399
¥１２０，０００．－（送料／消費税別途）・光学系 ： ファインダー視野:5°、対物レンズ:f=80mm F2.5・測定角 ： 2°/1°/0.2°/0.1°※切替え式・測定距離 ： 350mm～∞ (対物レンズ金物先端からの距離)・測定機能 ： x、y、L （x、y： 色度座標、L：輝度） 及び±⊿ u'、v'、L （u'、v'： 色度座標、L：輝度） 及び±⊿ X、Y…
アストロデザイン 解析用マニュアルプローバー SE-6003 管理番号08826
○主な仕様・ステージ移動量 ： X200mm、Y200mm・サブステージ移動量 ： X13mm、Y13mm・θ調整 ： 180°・Z移動量 ： 0~25mm（UP/DOWNストローク400um） ・チャックサイズ ： 標準チャック ～8インチ（φ200mm） ホットチャック ～8インチ（φ200mm）・ウェハ保持方式 ： 真空吸着方式・ホットチャック温度範囲 ： ～最高30…
オリオン 精密空調機 PAP20A-SP 管理番号08107
・ 年式 ： 2014年・ 運転制御方式 ： ヒートポンプバランス制御・ 制御温度範囲 ： 18～30℃・ 冷却＋加熱能力（50Hz/60Hz） ： 9.4/10.5（7.2/8.0）kw・ 周囲温度範囲 ： 15～35℃・ 周囲湿度範囲 ： 30～70%・ 定格処理風量 ： 30m3/min・ 最大機外制圧 ： 700Pa・ 制御空気吐出口 ： φ250・ 外形寸法 ： W770×D1…
WIT 目視外観検査装置 IP-3000 管理番号08903
年 式 ： 2013年タイプ ： Mサイズ AOIリンク（VT-S720接続） 卓上機タイプ基板サイズ ： X寸法 50~330mm Y寸法 50~250mm 厚さ 0.4~5.0ｍｍ クリアランス 35ｍｍカメラ ： 真上 130万画素CMOS／斜め 300万画素CMOS 照 明 ： 蛍光灯各種入力 ： マウス、コンソールBOXPC（…
リガク 微小部X線応力測定装置 AutoMATEⅡ 管理番号08082
【仕様】Ｘ線発生装置部・定格出力 ： 3kV・定格管電圧 ： 20～50kV・定格管電流 ： 2～50mA・安全装置 ： 高電圧電源部異常、冷却水異常Ｘ線管球・形式 ： A-41-Cr・ターゲット ： Cr（標準）、Cu・最大出力 ： 2kW応力ゴニオメーター部・応力測定方法 ： 並傾法、側傾法・応力解析方法 ： sin2Ψ法・Ｘ線源-試料間距離 ： 265mm・試料-検出器間距離 ： 210mm…
日本アビオニクス ネットワークサーモグラフィ装置 S30W 管理番号06746
【特価販売】 ¥９０，０００．－（送料／消費税別途） 【仕様】・検出器 ： 2次元非冷却センサ（マイクロボロメータ）・検出器画素数 ： 160（H）×120（V）（画像外周3行、3列は仕様規定外）・測定温度範囲 ： -20～350℃・測定波長 ： 8～14μm・温度分解能 ： 0.2℃以下（at 30℃黒体）・測定視野角 ： 水平28°× 垂直21°（精度±10%）・空間分解能 ：…
壺坂電機 2軸中型加振機 V400-2A 管理番号07855
【特価販売】¥６００，０００．－（送料／消費税別途）年式：2015年式最大搭載質量：5kg動作範囲：ピッチ±5deg ヨー±5degサイン振動 ･振幅 ±0.01～±5.00deg (設定は0.01deg単位) ･周波数0.1～15.0Hz (設定は0.1Hz単位) ･位相差 0～180degランダム振動 ･最大振幅 ±0.01～±2.00deg (設定は0.01deg単位) 任意波形振動 ･最大…
神津精機 高精度形状測定システム K2-310 管理番号06745
【特価販売】 ￥１，０００，０００．－（送料／消費税別途） ○年 式 ： 2011年○商品構成 ： レーザー変位センサー（LT-9030M／キーエンス製） 300mmストローク大型ステージ（ドライバー：SC-210） 制御用パソコン カメラ用モニター（ソニー製）○測定エリア ： X300×Y300（ｍｍ…
ナック ハイスピードカメラ MEMRECAM fxRX-5 管理番号06037
【特価販売】 ¥３００，０００．－（送料／消費税別途） 【仕様】・撮影素子画素数 ： 510☓484ピクセル・フレームレート（510☓484） ： 100～500コマ/秒・記録時間 ： 209～9.8秒（録画速度、フレームサイズにより異なる）・メモリーサイズ ： 4GB・レンズマウント ： NFマウント・デジタル出力 ： Fibre Channel(1Gbps),100Base-TX(…
ナプソン 非接触シート抵抗率計 NC-60F/RG-100N 管理番号05914
【特価販売】 ¥９００，０００．－（送料／消費税別途） ・ 非接触渦電流プローブ移動による自動システム・ 測定対象 ： FPD基板上のITO膜、IZO膜、メタル膜など、太陽電池 （ガラス上の薄膜など）・ 測定方式 ： 渦電流方式 ・ プローブ部： 型式 NC-60F・ 測定範囲 ： シート抵抗率 0.5Ω/sq～20Ω/sq ・ ステージ部 ： 型式RG-100N`2…
オンテック 加熱一体型リワークシステム RM-2500 管理番号04588
【特価販売】 ¥４００，０００．－（送料／消費税別途） ・2007年式 ・対応基板サイズ : 40×40㎜～460×370㎜（2kg以下） ・デバイスサイズ : 10～50㎜（20g以下） ・温度制御部 1)上部スポットヒーター : 1000W 2)下部スポットヒーター : 1000W 3)下部エリアヒター : 2000W 4)制御方式 …
