日立ハイテクサイエンス 蛍光X線分析装置 SEA1000A 管理番号10048
測定元素 ： 原子番号13（Al）～92（U）試料形態 ： 固体、粉体、液体Ｘ線管 ： 管電圧15、50kV、管電流1mA検出器 ： Si半導体検出器（液体窒素不要）分析領域 ： 1、５mmφ（手動選択）試料観察 ： カラーCCDカメラ試料室 ： W370×D320×H155（mm）ソフトウェア： X-rayｽﾃｰｼｮﾝ（ﾒｲﾝﾌﾟﾛｸﾞﾗﾑ Ver.11.05） …
日立 フラットミリング装置 E-3200 管理番号09952
【本体】 E-3200・印加電圧：1～6kV・放電電流：0～1.5mA・タイマー：セット数字 001～999 時間単位 0.1s、1s、0.1m、1m、0.1h、1h、10h(7段選択)・試料ステージ 回転：約25min-1 傾斜：10～90° 回転中心偏心量：±3㎜ 試料径(最大)：25㎜直径 試料高さ(最大)：15㎜・排気系：全自動（油回転ポンプGLD-136B、油拡散ポンプDPF-…
TRIO-TECH グロスリーク・バブルリークテスター G-203A 管理番号10025
年式：2019年チャンバー容量：1ガロン作業トレイ：約70×200mmタイマー：30秒または60秒を選択可能装備：ヒーター、ランプ、冷却?循環パイプ外寸：約W350×D220×H400mm重量：約15kg電源：AC110V 50Hz付属品：温度過昇防止器 TL-400(アズワン) AC100V 50/60Hz 【機器ステータス】取扱説明書あり 【半導体製造装置】 【品管 品証 関連】…
キーエンス レーザー変位計 LT-8110 管理番号09961
￥１２０，０００．-（送料／消費税別途）○光 源 ： 半導体レーザー670nm○コントローラ： LT-8100○ヘッド型式 ： LT-8110（カメラユニット:LT-V201）○測定範囲 ： ±1mm（分解能:約0.2μm）○商品構成 ： コントローラー、ヘッド（1台）、カメラユニット、 `…
島津製作所 マイクロフォーカスX線CTシステム SMX-225CT FPD 管理番号09808
・Ｘ線管電圧 ： ～225kV（1kVステップ）・Ｘ線管電流 ： ～1000μA（10μAステップ）・X線検出器 ： フラットパネル検出器（FPD)・最大試料サイズ ： φ350×H300㎜、9kg（サンプル固定用冶具含む）・ステージ最大ストローク ： SOD軸690㎜、SID軸400～1000㎜、Z軸 300㎜・最大CTスキャン領域 ： φ250㎜・スキャン方式 ： ノーマル、ハーフ、オフセット…
コニカミノルタ 分光放射輝度計 CS-2000 管理番号09719
【仕様】・測定波長範囲 ： 380～780nm・スペクトル波長幅 ： 5nm以下（半値幅）・波長分解能 ： 0.9nm／pixel・表示波長間隔 ： 1nm・波長精度 ： ±0.3nm（重心波長HgーCdランプ）・測定角（切替式） ： 1°、0.2°、0.1°・最短測定距離 ： 350mm（クローズアップレンズ使用時：55mm）・最小測定径 ： １°＝φ5mm、0.…
アストロデザイン 解析用マニュアルプローバー SE-6003(チラー付属) 管理番号08825
○主な仕様・ステージ移動量 ： X200mm、Y200mm・サブステージ移動量 ： X13mm、Y13mm・チャックサイズ ： 標準チャック ～8インチ 低温チャック ～8インチ・ウェハ保持方式 ： 真空吸着方式・設定温度：-40℃～+125℃(冷却媒体：水。エタノール混合溶液)・顕微鏡サポートタワーチルド角度 ： 水平に対して約10度・プローバー外寸法 ： 約W440×D7…
アストロデザイン 解析用マニュアルプローバー SE-6003 管理番号08824
○主な仕様・ステージ移動量 ： X200mm、Y200mm・サブステージ移動量 ： X13mm、Y13mm・θ調整 ： 180°・Z移動量 ： 0~25mm（UP/DOWNストローク400um） ・チャックサイズ ： 標準チャック ～8インチ（φ200mm） ホットチャック ～8インチ（φ200mm）・ウェハ保持方式 ： 真空吸着方式・ホットチャック温度範囲 ： ～最高30…
アストロデザイン 解析用マニュアルプローバー SE-6003 管理番号09447
○主な仕様・ステージ移動量 ： X200mm、Y200mm・サブステージ移動量 ： X13mm、Y13mm・θ調整 ： 粗動180° 微動10°・Z移動量 ： 0~25mm（UP/DOWNストローク400um） ・チャックサイズ ： ホットチャック ～8インチ（φ200mm）・ウェハ保持方式 ： 真空吸着方式・ホットチャック温度範囲 ： ～最高300度・プローバー外寸 ： 約W550×D56…
コニカミノルタ 分光放射輝度計 CS-1000A 管理番号07184
【特価販売】¥２８０，０００．－（送料／消費税別途）測定波長範囲：380～780nmスペクトル波長幅：5nm（半値幅）波長分解能：0.9nm／pixel表示波長間隔：1nm波長精度：±0.3nm（重心波長Hgランプ）測定角：1度（標準ﾚﾝｽﾞ、マクロレンズ）メモリ：測定値30ﾁｬﾝﾈﾙ、基準値20ﾁｬﾝﾈﾙ最短測定距離：362mm（標準ﾚﾝｽﾞ）、94mm（マクロレンズ）最小測定径：7.9mm（標…
島津製作所 ダイナミック超微小硬度計 DUH-W201 管理番号09451
○主な仕様・試験の種類： 圧子押し込み試験、負荷－除荷試験、繰返し試験、押し込み深さ設定試験 ステップ負荷試験、ステップ負荷－除荷試験・負荷方式 ： 電磁コイル式・試験力範囲： フルスケール0.1~1961mN（0.01~200?f）・測定方式 ： 差動トランス・測定範囲 ： 0~10μｍ・圧 子 ： 三角すい圧子 稜間角115°・総合倍率 ： 100×、400×・測微装置 ： エ…
ニコン 半導体検査顕微鏡 OPTIPHOT200 管理番号09032
¥２６０，０００．－（送料／消費税別途）観察法明視野、暗視野ステージストロークX方向200㎜ × Y方向200㎜総合倍率50、100、200、500×鏡筒三眼鏡筒接眼レンズCFWN10×（視野数22）照明落射対物レンズCF IC Plan 5、10、20、50×BDその他光量調節、絞り開閉は手元コントローラーで行います。ステージ8インチ右下ハンドルステージ（ホルダーは基板用です）尚、電動レボルバー…
ニコン 半導体検査顕微鏡 OPTIPHOT200 管理番号09414
￥４５０，０００．－（送料／消費税別途）観察法明視野、暗視野ステージストロークX方向200㎜ × Y方向200㎜総合倍率50、100、200、500、1000×鏡筒三眼傾角鏡筒接眼レンズCFWN 10×照明落射対物レンズCF IC Plan 5、10、20、50、100×BDその他レボルバ切替、光量、絞りは手元コントローラーにてステージ8インチ右下ハンドルステージ（8”ウェハホルダー） 【機…
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トプコン 色彩輝度計 BM-7Fast 管理番号09399
・光学系 ： ファインダー視野:5°、対物レンズ:f=80mm F2.5・測定角 ： 2°/1°/0.2°/0.1°※切替え式・測定距離 ： 350mm～∞ (対物レンズ金物先端からの距離)・測定機能 ： x、y、L （x、y： 色度座標、L：輝度） 及び±⊿ u'、v'、L （u'、v'： 色度座標、L：輝度） 及び±⊿ X、Y、Z （X、Y、Z： 三刺激値） 及び±…
ミツトヨ CNC表面粗さ・輪郭形状測定機 CS-5000CNC 管理番号09282
装置概要 ： 表面粗さ、輪郭形状を一括測定可能な高精度触針式のCNC表面性状測定機年 式 ： 2017年主な仕様 ： ・X1軸 測定範囲200ｍｍ、分解能0.00625μm、 指示精度（20℃）±（0.3+0.002L）μｍ ・Z1軸（検出器） 測定範囲12／24ｍｍ（標準／2倍スタイラス時）、分解能0.00625μm、指示精度（20…
日立ハイテクサイエンス 蛍光X線膜圧計 FT110A 管理番号09281
年 式 ： 2016年測定対象元素 ： 原子番号22（Ti）～83（Bｉ）測定雰囲気 ： 大気ﾜｰｸﾃﾞｨｽﾀﾝｽ ： 9~89mmX線発生部 ： Wターゲット、管電圧 50ｋV、管電流 40~1000μAX線検出器 ： 比例計数管コリメータ ： ○型 0.05、0.1、0.2mm □型 0.025×0.4mmX-ray Station ： ルーチン測定、薄膜F…
アストロデザイン 解析用マニュアルプローバー SE-6003 管理番号08826
○主な仕様・ステージ移動量 ： X200mm、Y200mm・サブステージ移動量 ： X13mm、Y13mm・θ調整 ： 180°・Z移動量 ： 0~25mm（UP/DOWNストローク400um） ・チャックサイズ ： 標準チャック ～8インチ（φ200mm） ホットチャック ～8インチ（φ200mm）・ウェハ保持方式 ： 真空吸着方式・ホットチャック温度範囲 ： ～最高30…
オリオン 精密空調機 PAP20A-SP 管理番号08107
・ 年式 ： 2014年・ 運転制御方式 ： ヒートポンプバランス制御・ 制御温度範囲 ： 18～30℃・ 冷却＋加熱能力（50Hz/60Hz） ： 9.4/10.5（7.2/8.0）kw・ 周囲温湿度範囲 ： 15～35℃ , 30～70%・ 定格処理風量 ： 30m3/min・ 最大機外制圧 ： 700Pa・ 制御空気吐出口 ： φ250・ 外形寸法 ： W770×D1150×H166…
ニコン 3D合成電動顕微鏡システム LV150NA 管理番号08848
観察法明視野、暗視野、微分干渉ステージストロークX方向±75mm、Y方向±50mm総合倍率50×（干渉レンズ）、50、100、200、500×鏡筒三眼鏡筒接眼レンズCFIUW 10×照明LV-UEPI2A 電動ユニバーサル反射照明装置対物レンズCF IC EPI Plan TI 5×※マイケルソン型二光束干渉レンズ、CFI TU Plan10×、CFI TU Plan ELWD 20、50× その…
商談中
WIT 目視外観検査装置 IP-3000 管理番号08903
年 式 ： 2013年タイプ ： Mサイズ AOIリンク（VT-S720接続） 卓上機タイプ基板サイズ ： X寸法 50~330mm Y寸法 50~250mm 厚さ 0.4~5.0ｍｍ クリアランス 35ｍｍカメラ ： 真上 130万画素CMOS／斜め 300万画素CMOS 照 明 ： 蛍光灯各種入力 ： マウス、コンソールBOXPC（…
コニカミノルタ 分光放射照度計 CL-500A 管理番号70418
¥２６０，０００．－（送料／消費税別途） 照度計の階級：JIS C 1609－1 一般形AA級照度計に準拠測定波長範囲：360～780nm出力波長間隔：1nmスペクトル波長幅：約10nm(半値幅)測定範囲：0.1～100000lx (色度表示は 5lx以上)確度：Ev 指示値の±1digit , xy ±0.0015(10～100000lx)，xy ±0.002(5～10lx)表示モード…
リガク 微小部X線応力測定装置 AutoMATEⅡ 管理番号08082
【仕様】Ｘ線発生装置部・定格出力 ： 3kV・定格管電圧 ： 20～50kV・定格管電流 ： 2～50mA・安全装置 ： 高電圧電源部異常、冷却水異常Ｘ線管球・形式 ： A-41-Cr・ターゲット ： Cr（標準）、Cu・最大出力 ： 2kW応力ゴニオメーター部・応力測定方法 ： 並傾法、側傾法・応力解析方法 ： sin2Ψ法・Ｘ線源-試料間距離 ： 265mm・試料-検出器間距離 ： 210mm…
日本アビオニクス ネットワークサーモグラフィ装置 S30W 管理番号06746
【特価販売】 ¥９０，０００．－（送料／消費税別途） 【仕様】・検出器 ： 2次元非冷却センサ（マイクロボロメータ）・検出器画素数 ： 160（H）×120（V）（画像外周3行、3列は仕様規定外）・測定温度範囲 ： -20～350℃・測定波長 ： 8～14μm・温度分解能 ： 0.2℃以下（at 30℃黒体）・測定視野角 ： 水平28°× 垂直21°（精度±10%）・空間分解能 ：…
壺坂電機 2軸中型加振機 V400-2A 管理番号07855
年式：2015年式最大搭載質量：5kg動作範囲：ピッチ±5deg ヨー±5degサイン振動 ･振幅 ±0.01～±5.00deg (設定は0.01deg単位) ･周波数0.1～15.0Hz (設定は0.1Hz単位) ･位相差 0～180degランダム振動 ･最大振幅 ±0.01～±2.00deg (設定は0.01deg単位) 任意波形振動 ･最大角度 ±5deg ･最小角度 ±0.000001de…
オリンパス ウェハーローダー AL120 管理番号07691
【主な仕様】 適用ウエハ ： 3インチ固定 設置カセット数 ： 1台（供給、収納兼用） ウエハ搬送方式： ウエハ裏面真空吸着メカニカルアーム搬送 適合顕微鏡 ： OLYMPUS MX系 ステージ ： AL120-VS6 ステージ操作方法：XY粗微動及び360°回転機構付き手動ステージ(X方向粗動ｸﾗｯﾁ付き) ウエハ保持方法 ： 真空吸着（真空は搬送装置から供給）※別途ご用意くだ…
日立 プラズマ洗浄装置 SPC-100B 管理番号07659
【特価販売】 ¥１，０００，０００．－（送料／消費税別途） ・ 年 式 ： 2007年・ 電極構造 ： RIE・ 高周波電源 ： 13.56Mhz、Max600W、RFオートマッチング・処理エリア ： 約□300mm・ 排気系 ： ロータリーポンプ・ 電源 ： 3相200V 50/60Hz・ ガス導入 ： O2、Ar 【機器ステータス】取扱説明書あり。前面パネルなし、試料投入は手動となりま…
コニカミノルタ CRTカラーアナライザー CA-100Plus 管理番号07546
【特価販売】 ¥３０，０００．－（送料／消費税別途） 受光部 ： 受光素子（シリコンフォトセル）測定径 ： φ21mm測定範囲 ： 輝度、色度 0.05～2000 cd/cm2表示 ： デジタル xyLv、XYZ、T△uvLv、u´v´Lv、RGB アナログ △x△y△Lv、R/G B/G △G、△G B/R G/R測定同期モード ： NTSC、PAL、EXT、UNIV、INT電源 …
X-rite 分光測色計 i1Profiler 管理番号07238
¥２００，０００．－（送料／消費税別途） ・分光範囲：380 ～ 730 nm・分光出力：380 ～ 730 nm（10 nm 間隔）・光学分解能：10 nm<反射率測定>キャリブレーション：付属の白色セラミック校正板による手動キャリブレーション測定条件：ISO 13655: 2009測定条件「M0」（UV込み） ISO 13655: 2009測定条件「M1」（…
神津精機 高精度形状測定システム K2-310 管理番号06745
【特価販売】 ￥１，０００，０００．－（送料／消費税別途） ○年 式 ： 2011年○商品構成 ： レーザー変位センサー（LT-9030M／キーエンス製） 300mmストローク大型ステージ（ドライバー：SC-210） 制御用パソコン カメラ用モニター（ソニー製）○測定エリア ： X300×Y300（ｍｍ…
ナック ハイスピードカメラ MEMRECAM fxRX-5 管理番号06037
【特価販売】 ¥３００，０００．－（送料／消費税別途） 【仕様】・撮影素子画素数 ： 510☓484ピクセル・フレームレート（510☓484） ： 100～500コマ/秒・記録時間 ： 209～9.8秒（録画速度、フレームサイズにより異なる）・メモリーサイズ ： 4GB・レンズマウント ： NFマウント・デジタル出力 ： Fibre Channel(1Gbps),100Base-TX(…
ナプソン 非接触シート抵抗率計 NC-60F/RG-100N 管理番号05914
【特価販売】 ¥９００，０００．－（送料／消費税別途） ・ 非接触渦電流プローブ移動による自動システム・ 測定対象 ： FPD基板上のITO膜、IZO膜、メタル膜など、太陽電池 （ガラス上の薄膜など）・ 測定方式 ： 渦電流方式 ・ プローブ部： 型式 NC-60F・ 測定範囲 ： シート抵抗率 0.5Ω/sq～20Ω/sq ・ ステージ部 ： 型式RG-100N`2…
アポロウェーブ マニュアルプローバー α200LX 管理番号05268
【特価販売】 ¥４５０，０００．－（送料／消費税別途） 年式：2010年製ステージ可動範囲：X200mm、Y200mmサブステージ可動範囲：X±12.5mm、Y±12.5mmチャック寸法：φ210mmウェハ保持：真空吸着方式本体寸法：W609×D720×H420mm本体重量：約80kg実体顕微鏡：SZ61（接眼ﾚﾝｽﾞWHS20×/12.5、対物なし、ズーム0.67～4.5）顕微鏡照明：…
オンテック 加熱一体型リワークシステム RM-2500 管理番号04588
【特価販売】 ¥４００，０００．－（送料／消費税別途） ・2007年式 ・対応基板サイズ : 40×40㎜～460×370㎜（2kg以下） ・デバイスサイズ : 10～50㎜（20g以下） ・温度制御部 1)上部スポットヒーター : 1000W 2)下部スポットヒーター : 1000W 3)下部エリアヒター : 2000W 4)制御方式 …
