クリーンルーム機器
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パーティクルカウンター
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リオン 液中パーティクルカウンタ KS-42C 管理番号10340
【仕様】センサー部 KS-42C・光学方式 ： 側方散乱方式・光 源 ： 半導体レーザー（波長：780nm、定格出力：5mW）・可測粒径範囲 ： 0.5um～20um・試料圧力範囲 ： 300kPa（ゲージ圧）以下・試料温度範囲 ： 15℃～35℃・最大定格粒子個数濃度 ： 1200個／mL（0.5μmの粒子において、計数損失5%時）・寸法・重量 ： W240×D151×H125(突起…
リオン 液中パーティクルカウンタ KS-42B 管理番号73006
【仕様】〇KS-42B・光学方式 ： 側方散乱方式・光 源 ： 半導体レーザー（波長：780nm、定格出力：40mW）・可測粒径範囲 ： 0.2um～2.0um・試料圧力範囲 ： 300kPa（ゲージ圧）以下・試料温度範囲 ： 15℃～35℃・最大定格粒子個数濃度 ： 1200個／mL（0.2μmの粒子において、計数損失5%時）・寸法・重量 ： W240×D151×H125(突起物を除…
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