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年式：2014年【主な仕様】・光学方式：側方散乱方式・光　　源：半導体レーザー（波長780nm、定格出力40mW・粒径区分：0.3、0.5、1.0、2.0、5.0μm以上・最大定格粒子個数濃度：100,000個／L（計数損失5％以内）・測定時間：任意時間 10～2時間および手動　　　　　　試料空気流量 283mL(34秒）、1L(2分）、2.83L(5分40秒）、10L(20分）・測定値表示：…

リオンパーティクルカウンター KC-01E 管理番号11048

年式：2006年【主な仕様】・光学方式：側方散乱方式・光　　源：半導体レーザー（波長780nm、定格出力40mW・粒径区分：0.3、0.5、1.0、2.0、5.0μm以上・最大定格粒子個数濃度：100,000個／L（計数損失5％以内）・測定時間：任意時間 10～2時間および手動　　　　　　試料空気流量 283mL(34秒）、1L(2分）、2.83L(5分40秒）、10L(20分）・測定値表示：…

CLIMET パーティクルカウンター CI-450T 管理番号10927

【仕様】・測定粒径　：　0.3、0.5、1.0、5.0μm（0.3μm最小可測粒径）・最大粒子濃度　：　10,000個/L（283,000個/CF）-同時計数損失5%以下 20,000個/L（566,000個/CF）-同時計数損失10%以下・サンプル流量　：　50.0L/min（1.77CFM)・採取チューブ最大長　：　6.1m（Φ3/8、…

リオン液中パーティクルカウンタ KS-42C 管理番号10340

【仕様】センサー部　KS-42C・光学方式　　　：　側方散乱方式・光　　源　　　：　半導体レーザー（波長：780nm、定格出力：5mW）・可測粒径範囲　：　0.5um～20um・試料圧力範囲　：　300kPa（ゲージ圧）以下・試料温度範囲　：　15℃～35℃・最大定格粒子個数濃度　：　1200個／mL（0.5μmの粒子において、計数損失5%時）・寸法・重量　　：　W240×D151×H125(突起…

リオン液中パーティクルカウンタ KS-42B 管理番号73006

【仕様】〇KS-42B（管理番号73006）・光学方式　　　：　側方散乱方式・光　　源　　　：　半導体レーザー（波長：780nm、定格出力：40mW）・可測粒径範囲　：　0.2um～2.0um・試料圧力範囲　：　300kPa（ゲージ圧）以下・試料温度範囲　：　15℃～35℃・最大定格粒子個数濃度　：　1200個／mL（0.2μmの粒子において、計数損失5%時）・寸法・重量　　：　W240×D151…