クリーンルーム機器
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パーティクルカウンター
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リオン 気中パーティクルカウンタ KC-52 管理番号11591
￥３５０，０００．－（送料／消費税別途） 【主な仕様】・年式 ： 2014年式・光学方式 ： 側方散乱方式・光 源 ： 半導体レーザー（波長780nm）・粒径区分 ： 0.3、0.5、1.0、2.0、5.0μm以上・最大定格粒子個数濃度 ： 140000個／L（計数損失10％以内）・測定時間 ： 6秒（0.283L）、21秒（1L）、1分（2.83L）、 3分32秒（10L）、…
リオン パーティクルカウンター KL-11A 管理番号11326
￥３５０，０００．－（送料／消費税別途）【主な仕様】〇KS-65・光学方式 ： 光遮断方式・光 源 ： レーザーダイオード（波長：780nm、定格出力：3mW）・可測粒径範囲 ： 2μm～100μm・試料圧力範囲 ： －80～300kPa（ゲージ圧）・試料温度範囲 ： 5℃～40℃・最大定格粒子個数濃度 ： 10,000個／mL（最小可測粒径付近のPSL粒子、計数損失10%時）・寸法・重…
リオン パーティクルカウンター KC-01E 管理番号11048
￥２００，０００．－（送料／消費税別途） 年式：2006年【主な仕様】・光学方式：側方散乱方式・光 源：半導体レーザー（波長780nm、定格出力40mW・粒径区分：0.3、0.5、1.0、2.0、5.0μm以上・最大定格粒子個数濃度：100,000個／L（計数損失5％以内）・測定時間：任意時間 10～2時間および手動 試料空気流量 283mL(34…
CLIMET パーティクルカウンター CI-450T 管理番号10927
【仕様】・測定粒径 ： 0.3、0.5、1.0、5.0μm（0.3μm最小可測粒径）・最大粒子濃度 ： 10,000個/L（283,000個/CF）-同時計数損失5%以下 20,000個/L（566,000個/CF）-同時計数損失10%以下・サンプル流量 ： 50.0L/min（1.77CFM)・採取チューブ最大長 ： 6.1m（Φ3/8、…
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