クリーンルーム機器
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パーティクルカウンター
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リオン パーティクルカウンター KC-01E 管理番号11056
年式:2014年【主な仕様】・光学方式:側方散乱方式・光 源:半導体レーザー(波長780nm、定格出力40mW・粒径区分:0.3、0.5、1.0、2.0、5.0μm以上・最大定格粒子個数濃度:100,000個/L(計数損失5%以内)・測定時間:任意時間 10~2時間および手動 試料空気流量 283mL(34秒)、1L(2分)、2.83L(5分40秒)、10L(20分)・測定値表示:…
リオン パーティクルカウンター KC-01E 管理番号11048
年式:2006年【主な仕様】・光学方式:側方散乱方式・光 源:半導体レーザー(波長780nm、定格出力40mW・粒径区分:0.3、0.5、1.0、2.0、5.0μm以上・最大定格粒子個数濃度:100,000個/L(計数損失5%以内)・測定時間:任意時間 10~2時間および手動 試料空気流量 283mL(34秒)、1L(2分)、2.83L(5分40秒)、10L(20分)・測定値表示:…
CLIMET パーティクルカウンター CI-450T 管理番号10927
【仕様】・測定粒径 : 0.3、0.5、1.0、5.0μm(0.3μm最小可測粒径)・最大粒子濃度 : 10,000個/L(283,000個/CF)-同時計数損失5%以下 20,000個/L(566,000個/CF)-同時計数損失10%以下・サンプル流量 : 50.0L/min(1.77CFM)・採取チューブ最大長 : 6.1m(Φ3/8、…
リオン 液中パーティクルカウンタ KS-42C 管理番号10340
【仕様】センサー部 KS-42C・光学方式 : 側方散乱方式・光 源 : 半導体レーザー(波長:780nm、定格出力:5mW)・可測粒径範囲 : 0.5um~20um・試料圧力範囲 : 300kPa(ゲージ圧)以下・試料温度範囲 : 15℃~35℃・最大定格粒子個数濃度 : 1200個/mL(0.5μmの粒子において、計数損失5%時)・寸法・重量 : W240×D151×H125(突起…
リオン 液中パーティクルカウンタ KS-42B 管理番号73006
【仕様】〇KS-42B(管理番号73006)・光学方式 : 側方散乱方式・光 源 : 半導体レーザー(波長:780nm、定格出力:40mW)・可測粒径範囲 : 0.2um~2.0um・試料圧力範囲 : 300kPa(ゲージ圧)以下・試料温度範囲 : 15℃~35℃・最大定格粒子個数濃度 : 1200個/mL(0.2μmの粒子において、計数損失5%時)・寸法・重量 : W240×D151…
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