工業検査機器（電子・金属）
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膜厚を測る
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NXT Gmbh 厚み/膜厚測定装置 ETA-TCM SCAN 管理番号12342
【年式】 2019年製【主な仕様】・測定原理 ： 1チャンネル反射率分光分析・測定内容 ： 反射率スペクトル、厚さ測定、トレンド表示など・波長範囲 ： 760～940nm・厚み範囲 ： 0.1μｍ～・測定スポット： ～2mm・光 源 ： ハロゲンランプ（50W）・測定ステージ： X200 × Y200ｍｍ（電動）・制御PC ： OS Windos10 Enterprise …
キーエンス 超深度カラー3D形状測定顕微鏡 VK-9510 管理番号12328
【主な仕様】・測定レーザ光源 ： 波長バイオレットレーザ408nm（最大出力：0.9mW）・対物レンズ ： 10、20、50、150×（15型モニタ－倍率200×、400×、1000×、3000×）・高さ測定 ： 測定範囲7ｍｍ、表示分解能0.01μｍ・幅測定 ： 表示分解能0.01μｍ ・表示分解能 ： 1024×768・光学ズーム ： 1～6×（0.1ステップ）・ＸＹ…
日立ハイテクサイエンス 高性能蛍光X線膜厚計 SFT9550X 管理番号11916
【年式】2013年製【主な仕様】・X 線 管 ： 管電圧 50kV 管電流 600～1000μA※定性アプリケーションのみ 管電圧 45kV 管電流 670～1000μA 管電圧 30kV 管電流 1000μA・Ｘ線照射方式 ： 上面垂直照射方式（ターゲット材料Mo、窓材質 Be）・Ｘ線光学系 ： ポリキャピラリ・ビーム径 ： φ30μｍ（MoKα線の…
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