東京精密 表面粗さ計 サーフコム480A 管理番号08971
測定範囲/分解能 ： Z軸 800um/10nm、80um/1nm、8um/0.1nmX軸移動量 ： 300㎜※ワーク移動型駆動部駆動部 ： X軸真直度（0.05+1.5L／1000）μm 測定速度0.03～6.0㎜/s 8速測定力（触針） ： 0.75um触針（先端半径2um）測定パラメータ ： Ra, Rq, Ry, Rp, Rv, Rc, R…
ニコン 超高分解能非接触三次元表面形状計測システム BW-A505（MM-800LU）
〇年式 ： 2014年〇主な仕様・ピエゾ駆動方式 ： レボルバ駆動・ピエゾ走査レンジ ： 100μm※測定は約90μｍ・XYZ軸駆動 ： 各手動※ピエゾ駆動部は電動・計測光学系 ： 白色二光束干渉計・二光束干渉対物レンズ ： 10、20、50、100×・ﾏｲｹﾙｿﾝ型干渉レンズ ： 2.5、5×※対物レンズ用単ホルダ付属（1本装着用）・視野確認用対物レン…
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Veeco 白色干渉顕微鏡 NT1100 管理番号08654
・測定方式：位相シフト干渉方式、白色光垂直走査型干渉方式・測定能力：視野 非接触式３次元表面形状粗さ測定・対物レンズ:2.5x、50x・内部レンズ:0.5x、1.0ｘ、2.0x・光源：タングステンハロゲンランプ・試料ステージ:130×130mm 手動型ステージ・ステージ稼働範囲：Ｘ／Ｙ 約±50mm、先端/傾斜 約±4°・ディスプレイ：5インチモノクロモニター・垂直走査速度：7.2um/sec・側…
オックスフォード 蛍光X線膜厚計 CMI 900 管理番号07631
年式：２００８年測定対象：原子番号22(Ti)～83(Bi) (原子番号21以下吸収法により測定可能)X線源：タングステンターゲット検出器：比例計数管コリメータ：○型=0.1mm □型=0.05×0.05mm試料観察：カラーCCD(40万画素)テーブル：サイズ 約600×500mm ：移動量 X=175mm Y=175mm Z=33mm 寸法：約 W…
ナプソン 非接触シート抵抗率計 NC-60F/RG-100N 管理番号05914
【特価販売】 ¥９００，０００．－（送料／消費税別途） ・ 非接触渦電流プローブ移動による自動システム・ 測定対象 ： FPD基板上のITO膜、IZO膜、メタル膜など、太陽電池 （ガラス上の薄膜など）・ 測定方式 ： 渦電流方式 ・ プローブ部： 型式 NC-60F・ 測定範囲 ： シート抵抗率 0.5Ω/sq～20Ω/sq ・ ステージ部 ： 型式RG-100N`2…
