キーエンス 高精度形状測定システム KS-1100 管理番号09140
【本体：KS-1100】・ステージ可動範囲：XYZ:100mm, θ360°・ステージサイズ：Φ170㎜、180mm×180mm・ステージ耐荷重：1.5kgf (14.7N)・ステージ最大駆動速度：150mm/sec・ステージ最小移動分解能：0.1μm・ステージ駆動方式：リニアモータ・電源：AC 100±10 %、50/60Hz、200VA・重量：約20kg・外形寸法：W300×D450×H500…
東京精密 表面粗さ計 サーフコム480A 管理番号08971
測定範囲/分解能 ： Z軸 800um/10nm、80um/1nm、8um/0.1nmX軸移動量 ： 300㎜※ワーク移動型駆動部駆動部 ： X軸真直度（0.05+1.5L／1000）μm 測定速度0.03～6.0㎜/s 8速測定力（触針） ： 0.75um触針（先端半径2um）測定パラメータ ： Ra, Rq, Ry, Rp, Rv, Rc, R…
ニコン 超高分解能非接触三次元表面形状計測システム BW-A505（MM-800LU）
〇年式 ： 2014年〇主な仕様・ピエゾ駆動方式 ： レボルバ駆動・ピエゾ走査レンジ ： 100μm※測定は約90μｍ・XYZ軸駆動 ： 各手動※ピエゾ駆動部は電動・計測光学系 ： 白色二光束干渉計・二光束干渉対物レンズ ： 10、20、50、100×・ﾏｲｹﾙｿﾝ型干渉レンズ ： 2.5、5×※対物レンズ用単ホルダ付属（1本装着用）・視野確認用対物レン…
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ATAGO 多波長アッベ屈折計 DR-M2 管理番号09007
¥２５０，０００．－（送料／消費税別途） 【仕様】・干渉フィルター ： 589nm（D）、546nm（ｅ）・測定範囲（450nm） ： 屈折率1.3277～1.7379・測定範囲（589nm） ： 屈折率1.3000～1.7100・測定範囲（680nm） ： 屈折率1.2912～1.7011・測定範囲（1100nm） : 屈折率1.2746～1.6843・最小表示 ： 屈折率0.…
ニコン 3D合成電動顕微鏡システム LV150NA 管理番号08848
観察法明視野、暗視野、微分干渉ステージストロークX方向±75mm、Y方向±50mm総合倍率50×（干渉レンズ）、50、100、200、500×鏡筒三眼鏡筒接眼レンズCFIUW 10×照明LV-UEPI2A 電動ユニバーサル反射照明装置対物レンズCF IC EPI Plan TI 5×※マイケルソン型二光束干渉レンズ、CFI TU Plan10×、CFI TU Plan ELWD 20、50× その…
キーエンス ワンショット3D形状測定機 VR-3000 管理番号08917
・年 式 ： 2016年・商品構成 ： コントローラー VR-3000、ヘッド VR-3050（電動XYステージ仕様）・測定可能高さ ： 広視野モード10mm（±0.5mm）・表示分解能 ： 0.5μm・倍 率 ： 12、25、38、50×切換・デジタルズーム： １～4倍・測定精度 ： 高さ ±3μm、幅 ±5μm・繰り返し精度 ： 高さ 0.5μm、幅 1μm・作動距離 …
ミツトヨ 高精度デジタル測長機 ライトマチック VL-50S 管理番号08640
¥２００，０００．－（送料／消費税別途） 測定範囲：0～50mm最小表示量：0.0001mmケーブル長：約1m外寸：測長部 約W250×D320×H500mm(スタンド含む) 表示部 約W180×D280×H90mm重量：測長部 約26kg(スタンド含む) 表示部 約2.6kg電源：AC 85～264V 50/60Hz 【機器ステータス】取扱説明書なし 【工業検査機…
Veeco 白色干渉顕微鏡 NT1100 管理番号08654
・測定方式：位相シフト干渉方式、白色光垂直走査型干渉方式・測定能力：視野 非接触式３次元表面形状粗さ測定・対物レンズ:2.5x、50x・内部レンズ:0.5x、1.0ｘ、2.0x・光源：タングステンハロゲンランプ・試料ステージ:130×130mm 手動型ステージ・ステージ稼働範囲：Ｘ／Ｙ 約±50mm、先端/傾斜 約±4°・ディスプレイ：5インチモノクロモニター・垂直走査速度：7.2um/sec・側…
キーエンス 高精度2次元レーザー変位センサ LJ-G5000 管理番号07770
¥２７０，０００．－（送料／消費税別途） ○年式 ： 2008年○コントローラー ： LJ-G5000・ヘッド接続台数 ： 最大2台（本装置には下記ヘッド1台のみ付属）・最小表示単位 ： 0.1um、0.001mm2、0.01°・最大表示範囲 ： ±99999.9mm、±999999mm2、±99999.9°・重量 ： 約1kg・外寸 ： 約W85×D140×H160mm ○ヘッド型式 …
SIIナノテクノロジー プローブ顕微鏡 NANOPICS 管理番号07865
【NPX100ﾍｯﾄﾞ】・深針駆動機構：垂直分解能 0.5nm 捜査範囲 画内（XY）500nm～800μm、垂直方向（Z）±10μm・試料ステージ：移動量 XYZ各方向10mm 試料形状 最大30mm角、厚み5mm・除振機構：内蔵・寸法：W211×D211×H210mm・重量：約8kg【Nanopics1000ｺﾝﾄﾛｰﾗｰ】・操作速度：12s…
神津精機 高精度形状測定システム K2-310 管理番号06745
【特価販売】 ￥１，５００，０００．－（送料／消費税別途） ○年 式 ： 2011年○商品構成 ： レーザー変位センサー（LT-9030M／キーエンス製） 300mmストローク大型ステージ（ドライバー：SC-210） 制御用パソコン カメラ用モニター（ソニー製）○測定エリア ： X300×Y300（ｍｍ…
キーエンス 高精度2次元レーザー変位センサ LJ-G5000 管理番号06371
【特価販売】 ¥１２０，０００．－（送料／消費税別途） ○年 式：2009年○ｺﾝﾄﾛｰﾗｰ ：LJ-G5000○ﾍｯﾄﾞ型式：LJ-G080○測定範囲：Z軸80±23mm（繰り返し精度：1μm） X軸32mm（繰り返し精度：10μm）○商品構成：コントローラー ヘッド（1台） 8.4型LCDモニター コンソール※DC24V電源、電源ケーブル未付…
テサ精密 デジタルハイトゲージ ミューハイト 管理番号06058
¥２５０，０００．－（送料／消費税別途） ・測長範囲 ： 0-100mm・分解能 ： 0.001、0.0001mm切換式・計測プローブ ： φ3mm超硬ボール付き・試料台 ： グラナイトテーブル・試料台寸法 ： W200×D300×H50mm・電源 ： AC100～240V 50/60Hz 【機器ステータス】取扱説明書なし 【工業検査機器（電子・金属）】 【寸法・形状を測る…
