ブルカー 3次元白色光干渉型顕微鏡 Contour GT-X 管理番号12438
【仕様】・年 式 ： 2012年・測定原理 ： VSI方式 白色垂直走査干渉方式 PSI方式 位相シフト干渉方式 VXI方式 位相シフト＋垂直走査干渉方式・垂直方向分解能： (PSI)0.1nmRa、(VXI)0.5nm、(VSI)1nm Ra・最大垂直段差 ： (PSI)100nm、(VXI)150um、 (VSI)10ｍｍ・段差測定正確性： 0.5…
キーエンス 超深度カラー3D形状測定顕微鏡 VK-9510 管理番号12328
【主な仕様】・測定レーザ光源 ： 波長バイオレットレーザ408nm（最大出力：0.9mW）・対物レンズ ： 10、20、50、150×（15型モニタ－倍率200×、400×、1000×、3000×）・高さ測定 ： 測定範囲7ｍｍ、表示分解能0.01μｍ・幅測定 ： 表示分解能0.01μｍ ・表示分解能 ： 1024×768・光学ズーム ： 1～6×（0.1ステップ）・ＸＹ…
ニコン オートコリメーター 6D 管理番号12068
￥３００，０００．－（送料／消費税別途）【仕様】・望遠鏡倍率 ： 約38倍・対物レンズ有効径 ： 70mm・接眼視野目盛 ： 目盛範囲0～30′（縦横方向）、最小目盛1′（縦横方向）・測微マイクロメータ： 目盛範囲60″（縦横方向）、最小目盛0.5″（縦横方向）・測定精度 ： 測定範囲5分以内（0.5″）、30分以内（1″）・鏡筒外径 ： 68mm・全 長 ： …
販売済
キーエンス 画像寸法測定器 IM-6700【IM-6225】 管理番号11659
【主な仕様】・コントローラ ： IM-6700・測定ヘッド ： IM-6225（ワイド視野・可変照明タイプ）・撮影素子 ： 660万画素モノクロCMOS・ディスプレイ ： 10.4型、LCDカラーモニター・視 野 ： φ100×L200mm（広視野測定モード）、 □25×L125mm（高精度測定モード）・最小表示単位 ： 0.1μm・測定精度±2σ ：…
ニコン CNC画像測定システム NEXIV VMR-3020 管理番号11904
【主な仕様】・光学倍率 ： 0.5×～7.5×（9.33×7～0.622×0.467mm）（タイプ１）・ストローク ： X軸300×Y軸200×Z軸150(mm)・オートフォーカス： TTLレーザAF／イメージAF・照 明 ： 透過、垂直落射、8分割白色LEDリング照明（中入射角／大入射角）・観察カメラ ： カラー1／3型CCD・作動距離 ： 50mm・被検物重量 …
小坂研究所 表面粗さ・輪郭形状測定機 SEF680 管理番号11845
【仕様】【輪郭形状】・測定範囲 ： X 100ｍｍ、Z 50ｍｍ・真直度精度 ： 1.0um / 100mm 以下・触 針 ： SB-609（R25um）・サンプリング数 ： 最大測定点数 300,000点、最小ンサンプリング間隔 1um・解 析 ： 要素解析(点/線/円/山/谷/中点/交差/半径など)【表面粗さ】・測定範囲 ： 縦 600um、横100mm ・真直…
商談中
キーエンス 超深度マルチアングルレンズ VHX-D510 管理番号11632
【仕様】【VHX-D510】超深度マルチアングルレンズ・傾斜角度 ： VHレンズ：左50度 ～ 右100度・試料サイズ ： 全面観察Φ100㎜、試料室：200㎜×200㎜、試料高さ30㎜・試料ステージ： X軸±15㎜、Y軸±15㎜、Z軸30㎜、θ軸360°・倍 率 ： 30 ～ 約5000倍 (垂直観察時)、30～約2000倍（傾斜観察時）・電 源 ： AC100V±10％ 50／60H…
【中古品】キーエンス 画像寸法測定器 IM-6600【IM-6140】 管理番号11510
【仕様】・コントローラ ： IM-6600・測定ヘッド ： IM-6140（高精度タイプ）・撮影素子 ： 660万画素CMOS（モノクロ）・ディスプレイ ： 10.4型、LCDカラーモニター・視 野 ： φ25mm（広視野測定モード）、Φ6mm（高精度測定モード）・最小表示単位 ： 0.1μm・測定精度 ： 連結なし ±2μm（広視野測定モード）、±0.…
【中古品】キーエンス ワンショット3D形状測定機 VR-3200 管理番号11607
【仕様】・測定ヘッド／コントローラ： VR-3200/VR-3000・観察モード ： 広視野（12,25,38,50x）、高倍率（40,80,120,160x）※15型モニター上・測定可能高さ ： 広視野（10mm±5mm）、高倍率（1mm±0.5mm）・測定精度 ： ±3μm（高さ）、±5μm（広視野、幅測定）、±2μm（高倍率、幅測定）・ステージ…
ミツトヨ 輪郭形状測定機 CV-3200S4 管理番号11523
【主な仕様】測定範囲 ： X軸 100mm Z1軸検出部 水平状態より±30mm Z2軸（コラム）移動範囲 ： 300mmＸ軸傾斜角度 ： ±45°分解能 ： X軸 0.05μm、Z1軸検出器0.04μm、Z2軸（コラム）1μm駆動速度 ： X軸 0～80mm/s 及び手動、Z2軸（コラム）0～30mm/s 及び手動測定速度 ： 0.02～5mm/s…
商談中
キーエンス ワンショット3D形状測定機 VR-3200 管理番号11508
【仕様】・年 式 ： 2015年・測定可能高さ ： 広視野モード10mm、高倍率モード1mm（±0.5mm）・倍 率 ： 広視野モード12、25、38、50×切換 高倍率モード40、80、120、160×切換・デジタルズーム： １～4×・高さ表示分解能： 0.1μm・繰り返し精度 ： 高さ測定0.5μm ／ 幅測定 広視野モード 1μm、高倍率モード0.5μｍ・連結機…
三鷹光器 非接触三次元測定装置 NH-3N 管理番号11482
【主な仕様】〇顕微鏡部・観察高額系 ： 無限遠鏡筒・対物レンズ ： 10×（WD=7mm）、50×（WD=8.1mm）、100×（WD=3.18mm）〇可動部・ＸＹ軸 ： 150ｍｍ（電動）、 Z軸：100mm（手動）／AF 10mm（電動）・搭載台寸法 ： W244 × D240ｍｍ・測定物最大高さ／重量： 105mm ／ 12kg〇分解能・ＸＹ軸 …
SAKI 2D自動外観検査装置 BF-Comet18 管理番号11416
【仕様】・年 式 ： 2016年・対象基板 ： サイズ W50×L50㎜～W250×L330㎜ 厚さ 0.6~2.5ｍｍ 重量 500ｇ以下 材質 ガラスエポキシ、紙フェノール、セラミック 上方向部品高さ 40㎜ 下方向部品高さ 60㎜・検査項目 ： 部品有無、位置ずれ、横立ち、縦立ち、表…
キーエンス 3Dスキャナ型三次元測定機 VL-300【VL-320】 管理番号11403
○主な仕様○年式 ： 2017年・商品構成 ： コントローラー（VL-300）、測定部（VL-320）、ステージ部（VL310）、 制御PC、23型LCD、キャリブレーションボード・測定範囲 ： 低倍 φ300ｍｍ×H200ｍｍ／高倍 φ70×H50ｍｍ・表示分解能 ： 0.1μｍ・繰り返し精度： 2μｍ※測定条件付・測定精度 ： ±10μm・撮像素子 ： 1型 40…
ミツトヨ 表面粗さ測定機 サーフテスト SV-3000S4 管理番号11161
【仕様】C o d e ： 178-663年 式 ： 2011年式測定範囲/分解能 ： Z軸 800μm/0.01μm、80μm/0.001μm、8μm/0.0001μm Z軸 移動量300ｍｍ、X軸 移動量100ｍｍ ※電動。手動も可駆 動 部 分 ： X軸 真直精度 （0.05+1.5L/1000）μm L:駆動長さ（mm） X軸 測定速度 0…
ミツトヨ 表面粗さ測定機 サーフテスト SV-3100W8 管理番号10939
【仕様】・Ｃｏｄｅ ： 178-478-1・年 式 ： 2015年式・傾斜機構 ： あり（X軸、傾斜角度±45度）・測定範囲／分解能： X軸 200㎜/0.05μm Z1軸（検出部） 800μm/0.01μm、80μm/0.001μm、8μm/0.0001μm・駆動部分 ： X軸 真直精度 （0.05+0.001L）μm L:駆動長さ（mm） …
東京精密 CNC真円度円柱形状測定機 ロンコム54DX 管理番号10834
○主な仕様・測定範囲 ： 最大測定径 外形測定 φ300ｍｍ 左右送り範囲（R軸） 170ｍｍ 上下送り範囲（Z軸） 500ｍｍ・指示精度 ： 半径方向（R軸）（2＋L／170）μｍ※L：移動距離mm・回転速度 ： 測定時 2～10／min※時計回り・オートストップ精度： Z軸／R軸 ±5μｍ・回転テーブル ： 外形φ220ｍ…
テサ精密 デジタルハイトゲージ ミューハイト 管理番号06058
¥１７０，０００．－（送料／消費税別途） 【仕様】 ・測長範囲 ： 0-100mm・分解能 ： 0.001、0.0001mm切換式・計測プローブ： φ3mm超硬ボール付き・試料台 ： グラナイトテーブル・試料台寸法 ： W200×D300×H50mm・電 源 ： AC100～240V 50/60Hz 【機器ステータス】取扱説明書なし 【工業検査機器（電子・金属）…
