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日本電子 卓上走査電子顕微鏡 JCM-6000PLUS(EDX付き) 管理番号12377

【主な仕様】

SEM
・倍  率     : 二次電子像(×10~60,000)、反射電子像(×10~30,000)
・加速電圧     : 二次電子像(5、10、15kV選択)、反射電子像(10、15kV選択)
・電子銃      : フィラメント・ウェーネルト一体型グリッドの小型電子銃
・フィラメント電流 : 標準、高輝度
・バイアス電圧   : オートバイアス方式(加速電圧、フィラメント電流に連動)
・検出器      : 二次電子検出器(E.T検出器)。反射電子検出器(半導体検出器)
・自動機能     : アライメント、フォーカス、スティグマ、コントラスト、ブライトネス
・最大試料サイズ  : 大きさ 最大70㎜Φ、高さ 最大50㎜
・PC関連     : パソコンユニット1台、モニタ1台
・電  源     : 単相AC100V 50/60Hz 700VA
・寸法、質量    : (鏡筒Unit)W325×D490×H430㎜、約50㎏
            (電源Box)W200×D480×H270㎜、約10㎏
            (ロータリーポンプ)W288.5×D127×H237㎜、約9㎏

EDS
・型  式     : JED-2300
・分析限度指定数  : 最大32元素

試料コーター
・型  式     : DII-29020SCTR
・使用真空度    : ~4Pa
・試料室サイズ   : 内径86㎜×深さ100㎜ 硬質ガラス製
・ターゲットサイズ : 内径49.5㎜×厚さ0.1㎜
・ターゲット電極  : 直径20㎜
・スパッタ時間   : 0.5分、1分、2分
・ターゲット    : 金
・電  源     : AC90~120V 50/60Hz 500VA


【機器ステータス】

・取扱説明書あり
・写真の観察資料は未付属となります。
・起動、真空引き、高圧ON、SEM像の確認、EDS分析動作確認など問題なく完了しております。

日本電子 卓上走査電子顕微鏡 JCM-6000PLUSJEOL Scanning Electron Microscope JCM-6000Plus卓上走査型電子顕微鏡 JCM-7000
日立ハイテク TM4000II TM4000PlusII走査型電子顕微鏡 jsmシリーズ JSMシリーズ日本電子 分析走査電子顕微鏡 JCM-6000PLUS
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