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ニコン 半導体検査顕微鏡 L150 管理番号09162

観察法明視野観察、暗視野観察、微分干渉観察ステージストロークX:150㎜、Y:150㎜
総合倍率50、100、200、500、1000×鏡筒三眼鏡筒(LV-T1)
(写真直筒:LV-TV付属)
接眼レンズCFI 10×(視野数22)照明落射
対物レンズLU Plan BD:5×,10x,20×,50x,
LU Plan Flour BD:100×
その他
ステージ6×6ステージ、ウェーハホルダー付き、右上ハンドル

【機器ステータス】
取扱説明書なし
・微分干渉観察セット:微分干渉スライダ(L-DIC)、アナライザ・ポラライザ
・色温度返還フィルター:NCB11

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