日立ハイテクサイエンス 蛍光X線膜厚計 SFT9400 管理番号12809
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【仕様】 ・装置の特徴 ： 微小部対応・高機能タイプ ・測定対象元素 ： 原子番号22（Ti）～83（Bi） ・Ｘ線源 ： Wターゲット ・管電圧 ： 50kV 管電流：1.5mA Be窓 ・検出器 ： 比例計数管+半導体検出器（液化窒素レス検出器） ・装置校正 ： 自動校正+マニュアル校正 ・コリメータ ： 0.05×0.05mm、0.015mmφ、0.1mmφ、0.025×0.4ｍｍ ・安全機能 ： 試料扉インターロック、試料の衝突防止機能あり ・試料観察 ： CCDカメラ＋ズーム光学系、ハロゲン照明 ・焦点切り替え機能 ： 3段階切り替え9400 10/40/70mm ・対応アプリケーション ： 単層、2層、2成分合金薄膜・成分比同時測定 ・ソフトウェア ： バルクFP法、バルク検量線、薄膜FP法、薄膜検量線、
定性レポート、スペクトルマッチング・測定機能 ： 自動測定、中心検索、画像処理位置決め機能 ・テーブル寸法 ： W240×D170（mm） ・移動量 ： X220mm、Y150mm、Z150mm ・装置制御 ： X-ray Station、PC（Win7） ・寸法・重量 ： 測定ヘッドW640×D810×H900（mm）・124kg 【機器ステータス】 取扱説明書あり、校正板あり。
写真の作業台は未付属となります。
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