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【中古品】大塚電子 顕微分光膜厚計 OPTM-A1 管理番号12832

〇年式
2024年

〇主な仕様
測定波長  : 230~800nm
膜厚測定範囲: 1nm~35nm※SiO2換算
レンズ   : 反射対物レンズ20×(OP2LE-20)
測定径   : φ10μm
フォーカス機能  : オートフォーカス
多層膜解析 : 最大50層
電源    : AC100V 50/60Hz 370VA以下
XYZ移動量 : X200X × Y200 ×Z17(mm)
本体寸法  : W555 × D655 × H620(mm)
本体重量  : 約70kg



【機器ステータス】
取扱説明書あり

大塚電子 反射分光膜厚計 OPTM-A1Otsuka Electroics Thickness Measurement OPTMオオツカデンシ 膜厚計 FE

工業検査機器(電子・金属)  >  膜厚を測る  >  半導体製造装置  >  ウエハ製造(前工程)  >  品管 品証 関連  >  電子部品製造装置  >  FPD製造関連

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