| 〇装置概要 |
| RoHS/ELV指令における規制対象元素のスクリーニング専用蛍光X線分析装置 |
| 〇主な仕様 |
| ・測定遍路 : 蛍光X線分析法 |
| ・測定方法 : エネルギー分散型 |
| ・測定対象 : 個体、液体、粉体 |
| ・X線発生部 : X線管 Rhターゲット、電圧 5~50kV、冷却方式 空冷 |
| 照射面積 3種自動交換(φ3、5、10mm) |
| ・検出器 : Si-PIN半導体検出器(液体窒素不要) |
| ・試料室部 : 測定雰囲気 大気、試料観察機構 半導体カメラ |
| ・ソフトウェア: スクリーニング分析(Cd、Pb、Cr、Hg、Br、CL) |
| 【機器ステータス】 |
| 取扱説明書あり |
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